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公开(公告)号：CN115097252A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210851735.X
申请日：2022-07-20
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电子元件检测系统。所述电子元件检测系统包括：多个老化板；多个样品板，各样品板上均设有待测电子元件；样品板设置于老化板上，与老化板一一对应设置，并与老化板一一对应电连接；多个驱动板，与老化板一一对应电连接；检测控制装置，与各驱动板均电连接；检测控制装置用于设定测试条件、测试判定条件及测试控制信号，将测试控制信号传输至驱动板，并实时监测待测电子元件在测试过程中的运行状态，运行状态包括正常工作状态和失效状态；驱动板用于根据测试控制信号对待测电子元件进行测试。采用该电子元件检测系统能够提高检测效率。
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公开(公告)号：CN117754414A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202311702631.3
申请日：2023-12-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种研磨设备及其研磨方法，研磨设备包括研磨机构及驱动机构。其中，研磨机构包括第一驱动组件及研磨带，所述第一驱动组件与所述研磨带传动配合。所述驱动机构包括第二驱动组件及放样件，所述放样件用于固定样品，所述第二驱动组件与所述放样件传动配合，使得所述研磨带能够与所述放样件上的所述样品呈线接触并进行研磨。本申请中的研磨设备减少了固封环节，消除固封环节对样品制样效果的影响，提高研磨设备的研磨效果及研磨效率。另外，与所述样品接触的所述研磨带的移动方向与样品的研磨面保持平行，且研磨带与样品呈线接触，减小研磨过程中碎屑对样品制样效果的影响，提高研磨设备的研磨效果。
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公开(公告)号：CN117575995A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311376792.8
申请日：2023-10-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质，通过根据检测图像的目标图像标识，确定待检测缺陷类型；并从各候选检测模型中选择出与待检测缺陷类型对应的目标检测模型；最后采用目标检测模型，对检测图像进行缺陷检测。本申请提供的器件缺陷检测方法，能够根据检测图像的目标图像标识自动识别出待检测缺陷类型，并能够筛选出与待检测缺陷类型对应的目标检测模型，从而实现自动对各类缺陷图像进行检测，提高了器件缺陷检测的效率；并且，各候选检测模型用于检测不同的缺陷，能够适用于更多的缺陷检测场景，扩大了缺陷检测方法的使用范围。
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公开(公告)号：CN114833607A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210433475.4
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种夹具及切割机，所述夹具包括：夹持底座；夹持板件，所述夹持板件与所述夹持底座活动连接，所述夹持板件为两个，两个夹持板件之间形成夹持空间，所述夹持空间用于将待加工工件夹持固定；固定组件，所述固定组件与所述夹持板件连接，所述固定组件用于将所述夹持板件固定。上述夹具，通过夹持空间将待加工工件夹持固定，固定组件与夹持板件连接，通过固定组件将夹持板件固定，结构简单，操作性强，能够使待加工工件收受到有效约束，夹持牢靠，进而保证工件的位置精度，避免加工过程中工件偏移而影响加工质量和效率。上述夹具生产成本低，对待加工工件夹持牢靠，操作性强。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117372343A
公开(公告)日：2024-01-09
申请号：CN202311252047.2
申请日：2023-09-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06T7/00 , G06T7/62 , G06T7/73 , G06V10/764
Abstract: 本申请涉及一种芯片空洞的检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。该方法包括：对目标芯片图像中的空洞和芯片进行识别，得到空洞信息和芯片信息；根据空洞信息和芯片信息，对目标芯片图像内的芯片进行空洞检测，得到检测结果；检测结果用于表征芯片是否合格。采用本方法能够提高芯片检测效率。
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公开(公告)号：CN104599997A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201510053404.1
申请日：2015-01-30
Applicant: 工业和信息化部电子第五研究所
IPC: H01L21/66
Abstract: 本发明公开了一种塑料封装金属丝键合器件的开封方法，属于电子元器件失效分析技术领域。该开封方法包括平磨、割槽、分离步骤，其中：平磨步骤中：用120-2000目的砂纸对器件进行研磨，研磨面为芯片有源面的塑封一侧，逐渐研磨去除芯片表面的塑封料，至距离芯片表面0.5mm-3mm时，停止研磨；割槽步骤中：在器件研磨面上，沿芯片所在位置的四周切割出环形凹槽；分离步骤中：以粘性材料粘贴上述环形凹槽围绕的塑封料区域，然后拉起粘性材料，至芯片表面的塑封料被拉起，暴露出芯片。以该方法暴露器件的内部芯片，能够在保留键合丝的第一键合点键合状态、芯片表面及键合附近的腐蚀、脏污等重要信息。
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公开(公告)号：CN117455978A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202311285698.1
申请日：2023-10-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种器件缺陷长度确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取包括待识别器件的目标图像；识别所述目标图像中所述待识别器件的缺陷边界；确定所述缺陷边界中至少两个边界点在参考方向上的投影，得到相应边界点的投影点；所述参考方向与所述待识别器件的实际呈现方向相对应；根据至少两个投影点，确定所述待识别器件的缺陷长度。采用本方法能够提高器件缺陷长度确定结果的准确度和确定效率。
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公开(公告)号：CN117210226A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311154111.3
申请日：2023-09-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: C09K13/04
Abstract: 本申请涉及一种腐蚀液、开封方法。本申请的腐蚀液，由包括如下体积份数的各组分制备得到：25份~35份的发烟硝酸，发烟硝酸的质量浓度为92%~98%，及0.5份~2份碘液；碘液包括如下质量份数的各组分：20~30份的水、0.5份~1.5份的碘以及3份~5份的碘化钾。上述腐蚀液在对使用银键合丝的塑封电子器件进行开封时，能够对塑封材料进行有效的去除，同时对银键合丝的损伤较小。
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公开(公告)号：CN218836814U
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202220952722.7
申请日：2022-04-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本实用新型涉及一种夹具及切割机，所述夹具包括：夹持底座；夹持板件，所述夹持板件与所述夹持底座活动连接，所述夹持板件为两个，两个夹持板件之间形成夹持空间，所述夹持空间用于将待加工工件夹持固定；固定组件，所述固定组件与所述夹持板件连接，所述固定组件用于将所述夹持板件固定。上述夹具，通过夹持空间将待加工工件夹持固定，固定组件与夹持板件连接，通过固定组件将夹持板件固定，结构简单，操作性强，能够使待加工工件收受到有效约束，夹持牢靠，进而保证工件的位置精度，避免加工过程中工件偏移而影响加工质量和效率。上述夹具生产成本低，对待加工工件夹持牢靠，操作性强。
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