用于光学装置的光学分辨率测量方法

    公开(公告)号:CN116710744A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202180081206.X

    申请日:2021-11-23

    Abstract: 本文中的实施方式提供一种确定光学装置调制传递函数(MTF)的方法。本文中所述方法包括从光引擎将图案的基线影像投射至检测器。该基线影像被分析以确定基线函数。该基线函数的基线快速傅里叶变换(FFT)或基线MTF被取得。该方法进一步包括从该光引擎将该图案的影像投射至一或更多光学装置。该图案从该一或更多光学装置出耦合至该检测器。该影像被分析以确定函数。对应于该影像取得函数FFT或函数MTF。通过将该基线FFT与通过分析该影像所确定的该函数FFT做比较、或是通过将该基线MTF与通过分析该影像所确定的该函数MTF做比较,来确定该一或更多光学装置的光学装置MTF。

    用于光刻拼接的系统、软件应用程序及方法

    公开(公告)号:CN114945870A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202080092787.2

    申请日:2020-12-11

    Abstract: 本公开内容的实施方式关于用于在光源的传播方向上定位掩模的方法。掩模对应于待写入基板的光刻胶层中的图案。通过拼接第一掩模和第二掩模来定位掩模。第一掩模包括一组第一特征,第一特征具有在第一特征界面处从第一特征延伸的第一特征延伸部分。第二掩模包括一组第二特征,第二特征具有在第二特征界面处从第二特征延伸的第二特征延伸部分。每个第一特征延伸部分与每个对应的第二特征延伸部分拼接,以形成第一对掩模的第一拼接部分的每个拼接部分。第一对掩模的拼接部分限定了要写入光刻胶层中的图案的一部分。

    掩模定向
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114930253A

    公开(公告)日:2022-08-19

    申请号:CN202080090426.4

    申请日:2020-12-08

    Abstract: 提供了一种在基板上形成图案化特征的方法。该方法包括以下步骤:将布置在掩模布局中的多个掩模定位在基板上方。基板定位在第一平面中,且多个掩模定位在第二平面中,掩模布局中的多个掩模具有多个边缘,多个边缘各自平行于第一平面且平行或垂直于基板上的对准特征延伸,基板包括多个分区,多个分区被配置为被引导通过布置在掩模布局中的掩模的能量图案化。该方法进一步包括以下步骤:通过基板上方的掩模布局中布置的多个掩模向多个分区引导能量,以在多个分区的各者中形成多个图案化特征。

    比较对准向量的裸片系统和方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114556409A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202080071132.7

    申请日:2020-09-14

    Abstract: 本公开内容之实施方式包括裸片系统与比较对准向量的方法。该裸片系统包括以期望图案排列的多个裸片。能够从该裸片的边缘特征确定对准向量,诸如裸片向量。这些对准向量能够与相同系统中的其他裸片或裸片图案比较。一种比较裸片与裸片图案的方法包括:比较裸片向量和/或图案向量。对准向量之间的比较允许为下一轮的处理固定裸片图案。所提供的方法允许刚沉积的边缘特征之间的准确比较,使得能够实现准确的裸片拼接。

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