激光照射方法和激光照射系统

    公开(公告)号:CN111247626B

    公开(公告)日:2024-07-16

    申请号:CN201780096139.2

    申请日:2017-12-21

    IPC分类号: H01L21/22

    摘要: 一种激光照射方法,对在半导体基板上形成杂质源膜而构成的被照射物照射脉冲激光,其中,该激光照射方法包含以下步骤:读入照射到被照射物上所设定的矩形的照射区域的脉冲激光的每一个脉冲的注量和照射到照射区域的照射脉冲数,其中,在对被照射物照射照射脉冲数的脉冲激光的情况下,注量为杂质源膜产生烧蚀的阈值以上并且小于半导体基板的表面产生损伤的阈值;在设照射区域沿扫描方向的宽度为Bx、照射脉冲数为Nd、脉冲激光的反复频率为f的情况下,根据用Vdx=f·Bx/Nd表示的关系式计算扫描速度Vdx;以及以反复频率f对照射区域照射脉冲激光,并使被照射物相对于照射区域相对地以扫描速度Vdx移动。

    激光照射方法和激光照射系统

    公开(公告)号:CN111247626A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201780096139.2

    申请日:2017-12-21

    IPC分类号: H01L21/22

    摘要: 一种激光照射方法,对在半导体基板上形成杂质源膜而构成的被照射物照射脉冲激光,其中,该激光照射方法包含以下步骤:A.读入照射到被照射物上所设定的矩形的照射区域的脉冲激光的每一个脉冲的注量和照射到照射区域的照射脉冲数,其中,在对被照射物照射照射脉冲数的脉冲激光的情况下,注量为杂质源膜产生烧蚀的阈值以上并且小于半导体基板的表面产生损伤的阈值;B.在设照射区域沿扫描方向的宽度为Bx、照射脉冲数为Nd、脉冲激光的反复频率为f的情况下,根据用Vdx=f·Bx/Nd表示的关系式计算扫描速度Vdx;以及C.以反复频率f对照射区域照射脉冲激光,并使被照射物相对于照射区域相对地以扫描速度Vdx移动。

    激光退火装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108780744B

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN201680081336.2

    申请日:2016-03-24

    IPC分类号: H01L21/268 H01L21/20

    摘要: 激光退火装置具备:CW激光装置,其输出对非晶硅进行预热的CW激光,该CW激光是基于连续振荡的激光;脉冲激光装置,其对已被进行了预热的非晶硅输出脉冲激光;光学系统,其将CW激光和脉冲激光引导至非晶硅;以及控制部,其控制CW激光的照射能量密度,以便将非晶硅预热至低于熔点的规定的目标温度,并且控制脉冲激光的注量和脉冲数中的至少一方,以使被进行了预热的非晶硅结晶。

    激光照射系统
    10.
    发明公开
    激光照射系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN111247625A

    公开(公告)日:2020-06-05

    申请号:CN201780096121.2

    申请日:2017-12-21

    IPC分类号: H01L21/22 H01L21/268

    摘要: 一种激光掺杂和后退火用的激光照射系统,其具有:A.激光装置,其产生紫外线区域的脉冲激光;B.载台,其使在半导体基板上形成至少包含作为掺杂剂的杂质元素的杂质源膜而构成的被照射物在至少1个扫描方向上移动;以及C.光学系统,其包含均束器,该均束器将脉冲激光的射束形状整形为矩形,生成沿扫描方向的第1射束宽度不同且与扫描方向垂直的第2射束宽度相同的激光掺杂用射束和后退火用射束。