利用了单分子膜的有机晶体管

    公开(公告)号:CN101162729A

    公开(公告)日:2008-04-16

    申请号:CN200710163065.8

    申请日:2007-09-29

    IPC分类号: H01L27/28 H01L51/05 H01L51/30

    CPC分类号: H01L51/105 H01L51/0545

    摘要: 提供一种低成本地降低在使有机半导体进行p型动作时产生的电极与有机半导体的接触电阻的方法,和低成本地使原本易于作为p型动作的有机半导体进行n型动作的方法。而且,提供能使用这些方法低成本地制造的p型沟道FET、n型沟道FET、以及互补型MOS(CMOS)晶体管。通过将具有在CMOS中的p型沟道FET的部分,原样使用易于作为p型半导体进行的动作的有机半导体,在n型沟道FET的部分使相同的有机半导体作为n型进行动作的效果的单分子膜夹在电极与半导体之间,低成本地在同一衬底上做成p型区域和n型区域。

    感光性SAM膜的曝光方法及半导体器件的制造方法

    公开(公告)号:CN101295139B

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN200810005560.0

    申请日:2008-02-15

    摘要: 本发明涉及一种感光性SAM膜的曝光方法及半导体装置的制造方法。由于使用印刷法产生位置偏移,所以难以形成间隔绝缘膜使下部电极和上部电极良好对位的电极衬底。使用光掩模进行对位,大幅度降低成本。本发明公开的技术是感光性SAM膜的曝光方法,该方法在衬底上成膜具有感光性、感光前具有疏液性、感光后具有亲液性的自组织化单分子膜(感光性SAM膜),在使该衬底的所述成膜面浸渍在液体中的状态下或使感光面朝下与液体接触的状态下,对所述衬底进行曝光,其特征在于,曝光光是紫外光、可见光或波长为350nm以上800nm以下的曝光光,所述液体是含有芳香环的有机溶剂、醇类、醚类或酮类有机溶剂中的至少一种。

    感光性SAM膜的曝光方法及半导体器件的制造方法

    公开(公告)号:CN101295139A

    公开(公告)日:2008-10-29

    申请号:CN200810005560.0

    申请日:2008-02-15

    摘要: 本发明涉及一种感光性SAM膜的曝光方法及半导体装置的制造方法。由于使用印刷法产生位置偏移,所以难以形成间隔绝缘膜使下部电极和上部电极良好对位的电极衬底。使用光掩模进行对位,大幅度降低成本。本发明公开的技术是感光性SAM膜的曝光方法,该方法在衬底上成膜具有感光性、感光前具有疏液性、感光后具有亲液性的自组织化单分子膜(感光性SAM膜),在使该衬底的所述成膜面浸渍在液体中的状态下或使感光面朝下与液体接触的状态下,对所述衬底进行曝光,其特征在于,曝光光是紫外光、可见光或波长为350nm以上800nm以下的曝光光,所述液体是含有芳香环的有机溶剂、醇类、醚类或酮类有机溶剂中的至少一种。