一种TOPCon电池及其制备方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116404069A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310479512.X

    申请日:2023-04-28

    IPC分类号: H01L31/18 H01L31/068

    摘要: 本发明公开一种TOPCon电池及其制备方法。将硅片双面抛光后,在硅片背面依次生长隧穿氧化层和多晶硅层,然后依次进行磷扩散、去除正面绕镀、制背面掩膜、制绒、硼扩散、去除背面掩膜后,在硅片正面生长氧化铝层,再在硅片的正面和背面生长氮化硅层,印刷烧结,得TOPCon电池;硼扩散的温度为850‑950℃,时间为2400s‑4500s。本发明提供的TOPCon电池的制备方法,通过改变硼扩散工序的顺序,以及在硅片背面制掩膜后进行制绒和硼扩散的工艺,有效降低了清洗绕镀层的难度,降低了清洗绕镀层的时间和清洗化学品的消耗量,显著提高了TOPCon电池的生产效率,有效降低了生产成本,减少了清洗废液的产生。

    一种晶体硅光伏组件PID测试方法
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116470850A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310545054.5

    申请日:2023-05-16

    IPC分类号: H02S50/10 H02S50/15

    摘要: 本发明属于光伏组件测试领域,具体公开了一种晶体硅光伏组件PID测试方法,包括步骤S1、对测试样品组件第一次测试,记录最大功率一;S2、对测试样品组件进行PID试验,持续96小时后,在6小时内对测试样品组件进行第二次测试,记录最大功率二;S3、对测试样品组件进行PID后干热恢复处理,将测试样品组件开路放置在85~110℃的环境试验箱内进行干热试验96小时后进行第三次测试,记录最大功率三;若最大功率三>最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率三;若最大功率三≤最大功率二,记录PID后真实功率为最大功率二。本测试方法能够排查其他恢复方法不能恢复的缺陷,降低非本质PID现象造成的功率衰减,提高PID测试的精确性。