存储器件及其测试方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102682856B

    公开(公告)日:2018-01-30

    申请号:CN201110434860.2

    申请日:2011-12-22

    发明人: 李康悦

    IPC分类号: G11C29/56

    摘要: 本发明提供一种存储器件,包括:第一存储体、第二存储体、多个接口焊盘和数据输出单元,数据输出单元被配置成经由所述多个接口焊盘之中的至少一个接口焊盘输出第一存储体的压缩数据,且随后经由所述一个接口焊盘输出第二存储体的压缩数据。

    次级存储器装置、及存取一次级存储器的方法

    公开(公告)号:CN101625662A

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200810176781.4

    申请日:2008-11-18

    发明人: 郭武吉

    IPC分类号: G06F12/06

    CPC分类号: G11C29/28 G11C29/88

    摘要: 本发明提供一种用以存取一次级存储器的方法及一种次级存储器装置。该次级存储器装置包含至少一管理单元及一控制器。该管理单元包含多个区块,各该多个区块具有多个存储页,且各该多个存储页具有多个磁区,该次级存储器具有多个不可存取磁区。该控制器用以分析对应于一特殊区块的一写入指令,根据该特殊区块的一状态信息而选取至少一可存取磁区,以及程序化写入该写入指令至该特殊区块,其中该状态信息指示该特殊区块的至少一不可存取磁区。借此,根据该状态信息,该方法及该次级存储器装置不仅可忽略该些不可存取磁区,且亦可增强可用的存储器容量。