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公开(公告)号：CN118706539A
公开(公告)日：2024-09-27
申请号：CN202410323640.X
申请日：2024-03-21
申请人： 柯尼卡美能达株式会社
发明人： 吉田龙一
摘要： 本发明提供一种表面检查用缺陷样品及其使用方法，提供即使在被检查面不存在缺陷也能够再现与存在缺陷的情形相同的状态的表面检查用缺陷样品，而且提供该缺陷样品的使用方法。是由在表面形成有凸形状和/或凹形状的至少1个疑似缺陷部(11、13)的可挠性基板(10)构成的表面检查用缺陷样品(1)。通过沿着表面检查对象物(100)的被检查面(100a)配置该缺陷样品(1)，再现在被检查面(100a)存在缺陷部的状态。
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公开(公告)号：CN118225795B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410649644.7
申请日：2024-05-24
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明公开一种用于探测亚表面深度的标定板及其制备方法，涉及光学标定领域，该标定板包括：楔形玻璃、样品颗粒和固定装置；其中，楔形玻璃包括相互平行的第一侧面和第二侧面，相互垂直的第一平面和第二平面，以及一个斜面；第一侧面和第二侧面分别与第一平面、第二平面和斜面连接；斜面分别与第一平面和第二平面连接；第二平面与固定装置固定连接；第一平面与水平面平行；样品颗粒均匀附着在斜面上；样品颗粒为微球颗粒。本发明能够提高对光学元件亚表面探测深度标定的可靠性。
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公开(公告)号：CN118225795A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410649644.7
申请日：2024-05-24
申请人： 中国计量科学研究院
摘要： 本发明公开一种用于探测亚表面深度的标定板及其制备方法，涉及光学标定领域，该标定板包括：楔形玻璃、样品颗粒和固定装置；其中，楔形玻璃包括相互平行的第一侧面和第二侧面，相互垂直的第一平面和第二平面，以及一个斜面；第一侧面和第二侧面分别与第一平面、第二平面和斜面连接；斜面分别与第一平面和第二平面连接；第二平面与固定装置固定连接；第一平面与水平面平行；样品颗粒均匀附着在斜面上；样品颗粒为微球颗粒。本发明能够提高对光学元件亚表面探测深度标定的可靠性。
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公开(公告)号：CN118225794A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410642592.0
申请日：2024-05-23
申请人： 四川吉埃智能科技有限公司 , 四川文理学院
摘要： 本发明公开了一种基于三维成像的高精度小口径管坡口检测方法及装置，具体包括以下步骤：S1:智能校准模型构建；S2：初始姿态修正；S3：管道实测；S4：截面数据提取；S5：坡口点云边界提取；S6：坡口边界参数计算；S7：统计同心度位置偏差和壁厚偏差；S8：连续位姿错误后用标准件校验并校准相机。本发明涉及材料表面边界分析技术领域。该基于三维成像的高精度小口径管坡口检测方法及装置，通过智能校准模型可自动校准相机位置参数和自身参数，从而保证了坡口参数标定的精确度，并且节省了前期人工调整的繁琐；通过点云数据分析和边界参数计算，能够精确求得坡口的内外环圆心和直径，进而计算同心度位置偏差和壁厚偏差。
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公开(公告)号：CN111047655B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202010026201.4
申请日：2020-01-10
申请人： 北京盛开互动科技有限公司
IPC分类号： G06T7/90 , G06T7/40 , G06T7/13 , G06T7/11 , G06T7/00 , G06N3/084 , G06N3/0464 , G01N21/93 , G01N21/88
摘要： 本发明涉及一种基于卷积神经网络的高清摄像机检测布料疵点的方法。该方法首先通过高清摄像机拍摄待检测布料，并对拍摄环境进行补光，保证采集图像包含清晰纹理、颜色等信息；然后判定布料是否处于待检测状态，若布料位置信息准确，自动拍摄并将图片送入设计的神经网络，经过深度学习算法提取特征，检测并标记布料疵点位置。该装置包括：高清摄像机、补光灯、底座、硬件运算平台。该方法对不同类型、不同大小的疵点都有理想的检测结果,可在提高疵点检测速度、检测精度的同时，兼顾实用性。
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公开(公告)号：CN112014408B
公开(公告)日：2024-04-12
申请号：CN202010923583.0
申请日：2020-09-04
申请人： 东莞市盟拓智能科技有限公司
发明人： 王玉玫
IPC分类号： G01N21/88 , G01N21/956 , G01N21/93
摘要： 本发明涉及光学检测技术领域，具体涉及一种基于结构光原理对pcb板进行重建的检测方法，包括以下步骤：(1)获取标定图像；用工业摄像机捕获投影仪投射到标定板上的正弦光栅图像；(2)计算标定参数，利用步骤(1)中的图像标定工业摄像机和投影仪之间的系统参数；(3)获取重建图片，用工业摄像机捕获投影仪投射到pcb上的正弦光栅图像；(4)重建，利用步骤(2)中得到的系统参数和步骤(3)中获取的图像进行三维重建，得到三维点云图；(5)判断缺陷，利用步骤(4)中重建得到的三维点云图，根据高度与领域面积判断目标元件是否为缺陷元件。本发明方法精准有效，并且可以实际应用到生产中，为社会带来实际有效、可预见的效益。
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公开(公告)号：CN112284869B
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202010911402.2
申请日：2020-09-02
摘要： 本发明公开了一种可见异物标准品的制备方法，包括制备标准粒子的混悬液，排出气泡，利用移液装置吸入标准粒子的混悬液；从移液装置中排出标准粒子的混悬液至分装容器中，在放大显示装置的辅助下进行定量计数；将分装容器中的标准粒子的混悬液用水冲入瓶中，立即封口，即得可见异物标准品。本发明还公开了一种利用上述方法制备得到的可见异物标准品及可见异物标准品的制备装置。本发明实现对标准粒子的准确分装，并利用卡波姆凝胶制成可见异物标准品的微粒混悬液，卡波姆凝胶制备微粒混悬液是能很好地避免气泡产生，凝胶透明度高，微粒也能较好地在凝胶中分散。
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公开(公告)号：CN112964723B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202110139569.6
申请日：2021-02-01
申请人： 苏州百迈半导体技术有限公司
发明人： 周飞
摘要： 本说明书一个或多个实施例提供一种双面多目标等间距阵列视觉检测方法及检测系统。所述方法包括：搬运载台将待检测产品移动至多个图像采集装置的图像采集位置；多个所述图像采集装置分别采集所述待检测产品不同位置的待检测图像；图像处理装置基于所述待检测产品不同位置的所述待检测图像对所述待检测产品进行缺陷检测以获得所述待检测产品不同位置的缺陷过程检测数据以及缺陷结果检测数据，并基于从属于同一所述待检测产品的所述缺陷过程检测数据及所述缺陷结果检测数据生成所述待检测产品的完整检测数据发送给上位机；所述上位机展示所述完整检测数据。本说明书实施例所述检测方法及系统可以实现引线框架的检测。
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公开(公告)号：CN115988737B
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310274333.2
申请日：2023-03-21
申请人： 广州添利电子科技有限公司
发明人： 何灿权
IPC分类号： H05K1/02 , H05K3/42 , H05K3/46 , G01N21/93 , G01N21/956
摘要： 本发明提供了一种检验自动光学检测机检测能力的验证板，包括基板以及在基板的正面和反面上阵列排布多个测试片，基板为多层结构，正反面包括外层金属层、中间层和内层金属层，测试片包括多组孔径不同的孔，包括正常孔和缺陷孔，缺陷孔的数量少于正常孔，且分布于不同的测试片上，正常孔至少贯穿外层金属层和中间层至内层金属层，内层金属层包括多个与正常孔同心设置的金属片。本发明通过在基板上设置了多个设有多种孔径、多种不同种类的镭射钻孔缺陷的测试片，拓宽了验证板可验证的镭射钻孔的孔径范围及缺陷类型；通过在内层金属层上应打孔的对应位点保留金属片，令缺陷孔更易成像识别，提高了验证板的验证效率和验证能力。
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公开(公告)号：CN115428135A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202180029438.0
申请日：2021-04-06
申请人： 诺威有限公司
IPC分类号： H01L21/66 , G01B11/00 , G01N21/93 , G01N21/95 , G01N21/956
摘要： 用于半导体制造中的先进过程控制(APC)的系统和方法，包括：对于多个晶片站点中的每个晶片站点，接收在实施处理步骤之前测量的散射测量训练数据的预处理集合，接收在实施处理步骤之后测量的散射测量训练数据的相应后处理集合，以及接收指示在实施处理步骤期间应用的过程控制旋钮设置的过程控制旋钮训练数据集合；以及生成机器学习模型，该机器学习模型将在散射测量训练数据的预处理集合与相应的过程控制旋钮训练数据中的变化和散射测量训练数据的相应后处理集合相关联，以训练机器学习模型来推荐对过程控制旋钮设置的更改，对预处理散射测量数据中的变化进行补偿。
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