摘要:
Eine Erfassungseinheit (20) als Scan-Box für die optronische Inspektion einer Oberfläche (12) längs einer Folge nebeneinander versetzter paralleler Streifen, insbesondere zur Klassifikation schnell bewegter Werkstücke (11) wie gehobelter Profilbretter, weist ein Gehäuse (19) mit einer Lichtkammer (21.3) und einer parallel dazu sich erstreckenden Sensorkammer (21.4) zur Aufnahme eines Sensors (15) etwa in Form einer Zeilenkamera mit langer Brennweite auf. Die von der Aufnahmerichtung (16) orthogonal durchsetzte Blicköffnung (22.5) und die von der Bestrahlungsrichtung (17) orthogonal durchsetzte Lichtöffnung (22.6) im Gehäuse (19) sind mittels Glasplatten (24) verschlossen, die zwischeneinander einen stumpfen Winkel einschließen, so daß die streifenförmigen Strahlen sich in einem Fokus an der Oberfläche (12) schneiden, die dadurch bei orthogonaler Aufnahmerichtung (16) eine schräge Bestrahlungsrichtung (17) erfährt, um kontrastarme Oberflächen-Fehler wie Vertiefungen, Erhöhungen und Öffnungen von nicht direkt durchblickbaren Löchern durch kleine Schattenränder zuverlässiger zu erfassen. Die Lichtquelle (18) kann mit hochfrequenzgespeisten Leuchtstoffröhren (32) vor einem gestreckt-wannenförmigen Hohlreflektor (31) bestückt sein; zweckmäßiger jedoch mit wenigstens einem punktförmigen (oder mit einem gestreckten) gleichspannungs-betriebenen Halogenstrahler mit Reflektor. Vorzugsweise erfolgt eine Strahlumlenkung in der Lichtkammer (21.3), um einen großen Abstand zwischen Strahler (33) und Glasplatte (24) zu erzielen und die Verlustwärme mittels eines Gebläses (35) für eine Zwangs-Umluft (40) durch die Kammern (21) innerhalb des explosionssicher gekapselten Gehäuses (19) abführen zu können.
摘要:
Le dispositif et le procédé suivant l'invention concernent la détection au défilé de défauts de surface sur des produits métalliques longs. Ce procédé et ce dispositif comportent au moins une caméra linéaire CCD (6, 7) effectuant des expositions à des temps successifs t₁, t₂, t 3. ...t n . Des moyens informatiques (18, 19) calculent les écarts observés pour chaque pixel ou ensemble de pixels à ces temps successifs. L'évolution de ces écarts permet de détecter les défauts et leur étendue. L'utilisation de seuils permet de réduire le bruit de fond. Des orientations différentes de l'axe optique des caméras (6, 7) permettent la détection de différents types de défauts. Vitesse de défilement : jusqu'à 1 m/s ou davantage. Application en particulier aux tubes de révolution (1) en métaux inoxydables ou réfractaires.
摘要:
Zur Prüfung der Ausbildung kontinuierlich geförderter Werkstücke, vorzugsweise der Ausbildung von Faltungen und/oder der Ausbildungen von Böden von Papiersäcken und/oder Aufdrucken o.dgl. wird der zu prüfende Bereich von einer CCD-Halbleiter-Kamera aufgenommen, und das Bild wird visuell geprüft oder durch einen Rechner mit einer Vorlage, die der Soll-Ausbildung des Werkstücks entspricht, verglichen. Um die Prüfung der Böden auf einer kurzen Förderstrecke vornehmen zu können, werden aufeinanderfolgend mindestens zwei Teilbilder des zu prüfenden Bereichs des Werkstücks aufgenommen, die sich zu dem gesamten zu prüfenden Bereich zusammensetzen lassen.
摘要:
An optical system for inspecting bonding wires (70) on a semiconductor has a camera (1), focal length and depth adjusting means (2), an illumination device (4) for irradiating brilliantly a desired portion of an inspection object (7) with an illumination light. The focal length and depth adjusting means (2) comprises a plurality of glass plates (21, 22, ... 24) each having a different focal length and depth, and each bonding wire (70) is inspected at a plurality of levels (F 1 , F 2 , F 3 ) in height position of the wire (70) and at a plurality of portions (P, Q) thereof in its longitudinal direction to make a comparison between focal point evaluation quantities (E) at each detected position whereby wiring defects can be detected.
摘要:
A method for measuring internal defects of a specimen, comprising the steps of allowing a finely focused laser beam to be incident into a specimen from its surface and observing the scattered light of the said laser beam from inside the said specimen from the surface of the specimen and in a different direction to the optical axis of incidence of the laser beam.
摘要:
A method and apparatus for measuring a defect distribution comprising introducing a narrowed laser beam into an object to be observed, receiving scattering lights generated at the defect portions of the object by a photoelectric conversion element, and measuring automatically the density and density distribution of the defects inside the object on the basis of the output image data of the photoelectric conversion element.
摘要:
Eine optische Aufnahmeeinrichtung für Bildverarbeitungssysteme (BVS) umfaßt ein Objektiv (11) zur Erzeugung eines optischen Bildes eines aufzunehmenden Objektes (12), einen Bild-Signal-Wandler (10), insbesondere eine CCD-Kamera, der das optische Bild in ein Videosignal (VS) umformt sowie eine Beleuchtungseinrichtung zur Beleuchtung des aufzunehmenden Objektes (12) im Auflicht. Die robuste und leistungsstarke Beleuchtungseinrichtung, die eine optimale Lichtverteilung in der Aufnahmeebene gewährleisten soll, besteht aus mehreren IR-Dioden (131,132), die in gleichmäßiger Teilung auf mindestens einem zur optischen Achse (A) des Objektivs (11) koaxialen Kreis angeordnet sind sowie mindestens einer ebenfalls koaxial zur optischen Achse (A) angeordneten ringförmigen Ablenkeinrichtung (141,142) die das von den IR-Dioden (131,132) emittierte Licht (L) allseitig schräg auf das Objekt (12) konzentriert.
摘要:
An inspecting apparatus comprises an illuminator (2), a light sensor (3) positioned on one side of the path of movement of containers opposite to the illuminator for receiving rays of light which have passed through the container, rays of light reflected from the container and rays of light travelling straight from the illuminator (2) towards the light sensor (3) within a predetermined region exteriorly of the container, a detector for analyzing the rays of light received by the light sensor, and a light absorbing member (4) positioned diagonally rearwardly of the container as viewed in a direction from the light sensor towards the illuminator for shielding rays of light passing through the thickness of each of opposite wall portions of the container, whereby a line of shade following the contour of the container can be formed on the side of the light sensor for accentuating the boundary between the container, illuminated by the rays of light from the illuminator, and the predetermined region exteriorly of the container that is defined by the rays of light travelling straight towards the light sensor.
摘要:
An apparatus for automatic inspection of printed circuit board assemblies inspects for the correct presence, positioning, and orientation of component parts mounted on a base printed circuit board. In this method for inspection of printed circuit board assemblies, an arithmetic comparison operation is conducted on several color pictures of different colors taken of the base printed circuit board mounted with the component parts; and a distinction is made between parts of the base printed circuit board not occupied by the component parts, and the component parts. Optionally, one of the base printed circuit board and the component parts is tinted in a color of a category selected from the group consisting of the green category, the red category, and the yellow category. The arithmetic comparison operation may be division, or may be subtraction. The base printed circuit board may be coated with a preflux mixed with a fluorescent agent, which may be green; or may be coated with a bonding agent mixed with a fluorescent agent, which again may be green. Illumination may be provided by a light source whose wave length varies from visible blue to ultraviolet. The color pictures may be taken by a color TV camera.