Verfahren und Vorrichtung zur Poliertuchaufbereitung beim chemomechanischen Polieren, insbesondere von Halbleiterscheiben
    5.
    发明公开
    Verfahren und Vorrichtung zur Poliertuchaufbereitung beim chemomechanischen Polieren, insbesondere von Halbleiterscheiben 失效
    用于处理化学机械发布织物的方法和装置,特别是半导体器件

    公开(公告)号:EP0412537A3

    公开(公告)日:1991-04-24

    申请号:EP90115269.4

    申请日:1990-08-09

    IPC分类号: B24B53/00

    CPC分类号: B24B53/017

    摘要: Beim chemomechanischen Polieren, insbesondere von Halbleiterscheiben, sinkt mit steigender Standzeit des Poliertuches der Abtrag und die geometrische Qualität der Scheiben. Dies kann dadurch verhindert werden, daß jeweils nach dem Poliervorgang eine Aufbereitung des Poliertuches in der Weise erfolgt, daß dem Poliertuch, im wesentlichen ohne mechanische Beanspruchung, ein Druckfeld aufgeprägt wird, durch welches eine Aufbereitungsflüssigkeit zum Durchströmen des Inneren des Poliertuches gebracht wird und dabei die beim Polieren entstandenen Rückstände mobilisiert und austrägt. Zur Durchführung des Verfahrens eignet sich eine quer über das Poliertuch (2) gelegte Grundplatte (4) mit einer mit Austrittsöffnungen (7) für die Aufbereitungsflüssigkeit versehenen ebenen Arbeitsfläche. Bei der Aufbereitung wird die Aufbereitungsflüssigkeit unter der Grundplatte (4) in das bewegte Poliertuch (2) gedrückt, so daß dieses nach und nach von der durchströmten Zone durchwandert wird.

    Verfahren zur nasschemischen Oberflächenbehandlung von Halbleiterscheiben
    9.
    发明公开
    Verfahren zur nasschemischen Oberflächenbehandlung von Halbleiterscheiben 失效
    Verfahren zur nasschemischenOberflächenbehandlungvon Halbleiterscheiben。

    公开(公告)号:EP0344764A2

    公开(公告)日:1989-12-06

    申请号:EP89109886.5

    申请日:1989-06-01

    IPC分类号: H01L21/306

    CPC分类号: H01L21/02049 H01L21/02052

    摘要: Erfindungsgemäß werden die zu behandelnden Halbleiterscheiben in einem System vorgelegt, in welches das Wasser in feinver­teiltem flüssigem Zustand und die auf der Scheibenoberfläche chemisch wirksamen Substanzen in gasförmigem Zustand einge­speist werden, so daß die eigentlich chemisch wirksamen Agen­tien erst unmittelbar im System gebildet werden. Dieses Ver­fahren ermöglicht besonders partikelarme Reinigungsprozesse und eignet sich insbesondere für aus mehreren Teilschritten zusammengesetzte Prozeßabfolgen.

    摘要翻译: 根据本发明,要处理的半导体晶片被放置在可以以细分散的液体状态供给水的系统中,并且在气态下在晶片表面上化学活性的物质使得实际上化学 活动首先在系统本身中形成。 该方法使得具有特别低的颗粒水平的清洁过程成为可能,特别适用于由多个子步骤组成的工艺序列。