摘要:
Beim chemomechanischen Polieren, insbesondere von Halbleiterscheiben, sinkt mit steigender Standzeit des Poliertuches der Abtrag und die geometrische Qualität der Scheiben. Dies kann dadurch verhindert werden, daß jeweils nach dem Poliervorgang eine Aufbereitung des Poliertuches in der Weise erfolgt, daß dem Poliertuch, im wesentlichen ohne mechanische Beanspruchung, ein Druckfeld aufgeprägt wird, durch welches eine Aufbereitungsflüssigkeit zum Durchströmen des Inneren des Poliertuches gebracht wird und dabei die beim Polieren entstandenen Rückstände mobilisiert und austrägt. Zur Durchführung des Verfahrens eignet sich eine quer über das Poliertuch (2) gelegte Grundplatte (4) mit einer mit Austrittsöffnungen (7) für die Aufbereitungsflüssigkeit versehenen ebenen Arbeitsfläche. Bei der Aufbereitung wird die Aufbereitungsflüssigkeit unter der Grundplatte (4) in das bewegte Poliertuch (2) gedrückt, so daß dieses nach und nach von der durchströmten Zone durchwandert wird.
摘要:
Beim Zersägen von stabförmigen Werkstücken wie z.B. Halbleiterstäben in dünne Scheiben insbesondere mittels Innenlochsäge werden häufig Sägehilfsmittel wie z.B. Schneidleisten an den Stäben fixiert. Erfindungsgemäß lassen sich die nach dem Sägevorgang an den erhaltenen Scheiben verbleibenden Reste solcher Sägehilfsmittel besonders günstig mit Hilfe von wäßrigen Carbonsäurelösungen, insbesondere wäßriger Ameisensäure entfernen.
摘要:
Es wird ein Verfahren zum Zersägen von Kristallstäben (4) oder -blöcken in dünne Scheiben durch Innenlochsägen angegeben. Dabei wird der bei nahezu jedem Sägevorgang auftretenden Abweichung des Sägeblattes (1) von der angestrebten Schnittlinie dadurch entgegengewirkt, daß auf seine Seitenflächen zumindest zeitweise zusätzlich ein Fluid aufgebracht wird. Dadurch lassen sich die Kräfteverhältnisse im Sägespalt und somit die Auslenkung des Sägeblattes (1) beeinflussen. Neben verbesserter geometrischer Qualität der erhaltenen Scheiben wird eine verlängerte Standzeit der Sägeblätter erzielt, da diese weniger oft nachgeschärft werden müssen.
摘要:
Erfindungsgemäß werden die zu behandelnden Halbleiterscheiben in einem System vorgelegt, in welches das Wasser in feinverteiltem flüssigem Zustand und die auf der Scheibenoberfläche chemisch wirksamen Substanzen in gasförmigem Zustand eingespeist werden, so daß die eigentlich chemisch wirksamen Agentien erst unmittelbar im System gebildet werden. Dieses Verfahren ermöglicht besonders partikelarme Reinigungsprozesse und eignet sich insbesondere für aus mehreren Teilschritten zusammengesetzte Prozeßabfolgen.
摘要:
Es wird ein Verfahren zum Schutz von polierten Siliciumoberflächen angegeben. Nach einer in bekannter Weise durchgeführten oxidierenden Reinigung wird durch die Einwirkung von eine Trialkylsilylierung ermöglichenden Reagentien, insbesondere Hexamethyldisilazan, die Oberfläche mit einer Schutzschicht überzogen. Diese verhindert selbst während mehrmonatiger Lagerung eine Alterung der Oxidschicht. Vor nachfolgenden Bearbeitungsschritten kann die Schutzschicht durch thermische Oxidation ohne störende Nebenprodukte leicht wieder entfernt werden.