INTERFEROMETER WITH AN OSCILLATING REFLECTOR PROVIDED BY AN OUTER SURFACE OF A SONOTRODE AND FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROMETER
    1.
    发明公开
    INTERFEROMETER WITH AN OSCILLATING REFLECTOR PROVIDED BY AN OUTER SURFACE OF A SONOTRODE AND FOURIER TRANSFORM INFRARED SPECTROMETER 有权
    具有SONOTRODE外表面和傅里叶变换红外光谱仪的振荡反射镜的干涉仪

    公开(公告)号:EP3224584A1

    公开(公告)日:2017-10-04

    申请号:EP15798447.7

    申请日:2015-11-24

    Inventor: SÜSS, Björn

    Abstract: The present invention provides a reflector (1) adapted to oscillate comprising a resonator (10), an energy beam reflecting surface (20), and a means for inducing oscillations in the resonator (10). The reflecting surface (20) of the reflector (1) adapted to oscillate is provided by a surface of the oscillating resonator (10) itself. Furthermore, an interferometer (100) with a reflector (1) adapted to oscillate according to the invention is provided as well as an infrared Fourier transform spectrometer (200) with an interferometer (100) according to the invention.

    Abstract translation: 本发明提供一种适于振荡的反射器(1),该反射器包括谐振器(10),能量束反射表面(20)和用于在谐振器(10)中引起振荡的装置。 适于振荡的反射器(1)的反射表面(20)由振荡谐振器(10)本身的表面提供。 此外,提供具有根据本发明振荡的反射器(1)的干涉仪(100)以及具有根据本发明的干涉仪(100)的红外傅立叶变换光谱仪(200)。

    AUSWERTESCHALTUNG FÜR EINEN OPTOELEKTRONISCHEN DETEKTOR UND VERFAHREN ZUM AUFZEICHNEN VON FLUORESZENZEREIGNISSEN
    3.
    发明公开
    AUSWERTESCHALTUNG FÜR EINEN OPTOELEKTRONISCHEN DETEKTOR UND VERFAHREN ZUM AUFZEICHNEN VON FLUORESZENZEREIGNISSEN 审中-公开
    于用于记录荧光事件光电探测器及方法评价电路

    公开(公告)号:EP3062088A2

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:EP16159834.7

    申请日:2012-09-20

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Auswerteschaltung (1) zum Auswerten der elektrischen Signale (A) eines zur Detektion von Photonen ausgebildeten optoelektronischen Detektors (32) bei der Aufnahme von Fluoreszenzereignissen unter Anregung mittels Lichtpulsen, umfassend einen Analog-Digital-Wandler (2) oder einen Trigger mit einem Eingang zur Verbindung mit einem Ausgang des Detektors (32) und mit einem Ausgang zur Ausgabe eines Digitalwerts (a), ein Schieberegister (3), wobei die Auswerteschaltung (1) so konfiguriert ist, dass während eines Beleuchtungszyklus zu unterschiedlichen Zeitpunkten aufgenommene Lichtintensitäten unabhängig voneinander in den Stufen des Schieberegister gespeichert werden.
    Die Erfindung betrifft ferner die Verwendung der Auswerteschaltung (1) zur zeitlichen Trennung von Fluoreszenz- und Streulicht von Fluoreszenzereignissen sowie ein Verfahren zum Aufzeichnen von Fluoreszenzereignissen.

    Abstract translation: 本发明涉及一种评估电路(1)根据激发​​荧光事件的通过光脉冲的装置的记录期间评估的一个训练有素的用于检测的光子的光电检测器(32)的电信号(A),其包括一个模拟数字转换器(2)或一个触发器 具有用于连接到检测器(32)的输出的输入,并具有用于输出数字值的输出(a)中,一个移位寄存器(3),其中所述评估电路(1)被配置成使得光强度的照明周期期间记录在不同的时间 独立地存储在移位寄存器的这些级。 本发明还涉及使用荧光的时间分离和散射光从荧光事件以及用于荧光事件记录的方法评估电路(1)的。

    DELAY TIME MODULATION FEMTOSECOND TIME-RESOLVED SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS
    10.
    发明授权
    DELAY TIME MODULATION FEMTOSECOND TIME-RESOLVED SCANNING PROBE MICROSCOPE APPARATUS 有权
    具有延迟调制和飞秒时间分辨扫描探针显微镜装置

    公开(公告)号:EP1460410B1

    公开(公告)日:2008-08-06

    申请号:EP02803925.3

    申请日:2002-11-25

    Abstract: An apparatus for measuring a physical phenomenon caused by light excitation having an extreme resolution in both time and space domains, particularly a delay time modulation time-resolved probe scanning microscope. The apparatus comprises an ultra-short light laser pulse generator (2), a delay modulation circuit (6) for splitting an ultra-short light laser pulse (3) generated by the ultra-short light laser pulse generator (2) into two pulses and frequency-modulating (ω) the delay time td between the two ultra-short light laser pulses (4, 5), a scanning probe microscope (17), and a lock-in detector (8) for detecting lock-in of a probe signal of the microscope (17) with a modulation frequency (ω) of the delay time. The delay-time dependence of the probe signal (11) on the delay time is determined as a change of rate without being influenced by the fluctuation of the intensity of the ultra-short light laser pulse (3) and without thermal expansion and thermal contraction of the chip of the probe (19) caused by the application of the ultra-short light laser pulse (3). With a femtosecond-order time resolution and an angstrom-order space resolution, a light excitation physical phenomenon depending on the delay time between ultra-short light pulses can be measured.

Patent Agency Ranking