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公开(公告)号:JP6350158B2
公开(公告)日:2018-07-04
申请号:JP2014187746
申请日:2014-09-16
Applicant: 株式会社リコー
IPC: B41J29/393 , G01J3/52 , B41J2/01 , G01J3/50
CPC classification number: H04N1/6094 , G01J3/0262 , G01J3/0291 , G01J3/50 , G01J3/501 , G01J3/52 , H04N1/02895 , H04N1/04 , H04N1/6044 , H04N1/6075 , H04N2201/0081 , H04N2201/0082
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公开(公告)号:JP6255380B2
公开(公告)日:2017-12-27
申请号:JP2015502961
申请日:2014-02-26
Applicant: 大塚電子株式会社
CPC classification number: G01J3/0264 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J2001/4406 , G01J2001/444 , G01J2001/448
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公开(公告)号:JP2016170043A
公开(公告)日:2016-09-23
申请号:JP2015049939
申请日:2015-03-12
Applicant: セイコーエプソン株式会社
CPC classification number: G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0262 , G01J3/027 , G01J3/0278 , G01J3/06 , G01J3/26 , G01J3/50 , G01J2003/064
Abstract: 【課題】高精度な分光測定処理が可能な分光測定装置、及び画像形成装置を提供する。 【解決手段】分光測定装置を内蔵するプリンターは、媒体Aにおける測定範囲からの反射光を受光する受光部322を含む受光光学系32を有する分光器17と、媒体Aと分光器17との間の距離を検出する距離センサーと、距離センサーにより検出された距離に応じて、測定範囲から受光光学系に入射した反射光の光路を調整する反射鏡駆動部326及び光路調整手段と、を備えた。 【選択図】図3
Abstract translation: 要解决的问题:提供可以进行精确的光谱测量处理的光谱测量装置和图像形成装置。解决方案:具有内置光谱测量装置的打印机包括:光谱仪17,其包括光接收光学系统32 包括接收来自介质A的测量范围的反射光的光接收部分322; 距离传感器,其检测介质A和光谱仪17之间的距离; 以及反射镜驱动部326以及根据由距离传感器检测到的距离的测量范围来调节入射在受光光学系统上的反射光的光路的光路调整装置。图3
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公开(公告)号:JPWO2014061191A1
公开(公告)日:2016-09-05
申请号:JP2014541914
申请日:2013-09-05
Applicant: コニカミノルタ株式会社
CPC classification number: G01J3/50 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0262 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0291
Abstract: 本発明にかかる光学特性測定装置用アタッチメントおよび光学特性測定装置は、光学特性測定装置に脱着可能であって外光を遮光する中空柱状のアタッチメント本体の内面に、照明光の反射を防止するための反射防止部材を備える。この構成によれば、一般的な試料の測定機能を維持しつつ、例えば表示パネルや太陽電池等に用いられる保護パネルのような、裏面の光学特性が表面の光学特性に影響する試料も測定できる。
Abstract translation: 根据本发明的用于附接和光学特性测量装置光学特性测量装置中,所述中空的圆柱形安装体的内表面以屏蔽外部光的可拆卸的光学特性测量装置,用于防止所述照明光的反射 包括防反射构件。 根据该结构,同时保持典型的样品的测量功能,例如,显示面板或用于太阳能电池或类似等的保护面板中,即使是样品的光学特性背面可影响表面测量的光学特性 。
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公开(公告)号:JP5954424B2
公开(公告)日:2016-07-20
申请号:JP2014541914
申请日:2013-09-05
Applicant: コニカミノルタ株式会社
CPC classification number: G01J3/50 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0218 , G01J3/0229 , G01J3/0262 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0291
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公开(公告)号:JP2016099309A
公开(公告)日:2016-05-30
申请号:JP2014238686
申请日:2014-11-26
Applicant: 浜松ホトニクス株式会社
IPC: G01N21/21 , G01R29/08 , G01N21/3581
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/0429 , G01J1/4228 , G01J3/0224 , G01J3/0262 , G01J3/42 , G01J3/433 , G01J3/4338 , G01J4/04 , G01J2001/4242 , G01N21/3581 , G01R15/241 , G01R29/0871
Abstract: 【課題】信号処理を複雑化させることなくテラヘルツ波の電場ベクトルを精度良く検出できる電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置を提供する。 【解決手段】この電場ベクトル検出方法では、テラヘルツ波検出素子3として光学的等方媒質の(111)面を切り出した電気光学結晶を用い、超短パルス光であるプローブ光Laの偏光状態を円偏光とし、円偏光となったプローブ光Laをテラヘルツ波検出素子3に入射してテラヘルツ波Tをプローブし、テラヘルツ波Tをプローブした後のプローブ光Laを回転検光子9で変調し、変調したプローブ光Laを光検出器4で検出し、回転検光子9の回転周波数に基づく周波数を参照信号とし、光検出器4からの検出信号をロックイン検出器12でロックイン検出し、ロックイン検出器12からの検出信号に基づいてテラヘルツ波Tの電場ベクトルを検出する。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题:提供可以精确地检测太赫兹波的电场矢量而不使信号处理复杂化的电场矢量检测方法和电场矢量检测装置。解决方案:电场矢量检测方法使用电光 通过切割出作为太赫兹波检测元件3的光学各向同性介质(111)的小面而得到的晶体,将探测光La的偏振状态,超短脉冲光成为圆偏振,将探测光La注入圆偏振 进入太赫兹波检测元件3以探测太赫兹波T,用旋转分析仪9探测太赫兹波T后调制探测光La,通过光学检测器4检测调制的探测光La,使用基于旋转的频率 旋转分析器9的频率作为参考信号,通过锁定检测器执行来自光学检测器4的检测信号的锁定检测 基于来自锁定检测器12的检测信号,检测太赫兹波T的电场矢量。图示:图1
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公开(公告)号:JP5860044B2
公开(公告)日:2016-02-16
申请号:JP2013518867
申请日:2011-07-08
Applicant: エフ・イ−・アイ・カンパニー
IPC: H01J37/317 , G02B21/00 , G01N21/359
CPC classification number: G01J3/0262 , G01J3/0208 , G01J3/0278 , G01N21/9501 , H01J37/226 , H01J37/3005 , H01J37/3056 , G01N2021/8825 , G01N2021/95653 , G01N21/95684 , H01J2237/31749
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公开(公告)号:JP5845987B2
公开(公告)日:2016-01-20
申请号:JP2012056546
申请日:2012-03-13
Applicant: 株式会社リコー
CPC classification number: H04N1/6033 , G01J3/0208 , G01J3/0262 , G01J3/0291 , G01J3/0297 , G01J3/462 , G01J3/52 , G01J3/524 , H04N1/6044
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公开(公告)号:JPWO2013031100A1
公开(公告)日:2015-03-23
申请号:JP2013531025
申请日:2012-08-07
Applicant: パナソニック株式会社
Inventor: 克洋 金森 , 克洋 金森 , シング ビラハム パル , ビラハム パル シング , 登 一生 , 一生 登 , 菰淵 寛仁 , 寛仁 菰淵 , 中田 幹也 , 幹也 中田
CPC classification number: H01L27/14625 , A61B1/00186 , G01J3/0205 , G01J3/0224 , G01J3/0262 , G01J3/0297 , G01J3/36 , G01J3/513 , G01J4/04 , G01J2003/1213 , G02B5/201 , G02B5/3025 , G02B5/3083 , G02B23/24 , H01L27/14621 , H01L27/14627 , H01L27/14629 , H04N9/045 , H04N2005/2255
Abstract: 本開示における偏光撮像素子は、撮像面上に配列されて各々が光を電気信号に変換する複数の受光素子と、複数の受光素子に対応して異なる色のカラーフィルタが配列されたカラーモザイクフィルタと、カラーモザイクフィルタを覆う光学ローパスフィルタと、光学ローパスフィルタよりも光入射側に位置する複数の偏光光学素子とを備える。複数の偏光光学素子の各々は、各受光素子を覆っており、かつ、撮像面に平行な面内における所定方向に偏光した光を光学ローパスフィルタに入射する。カラーモザイクフィルタは、異なる色の複数のカラーフィルタが二次元的に配列された構造を有している。複数のカラーフィルタは、複数の偏光光学素子から出た光が同一の色の対応する1つのカラーフィルタを透過するように配置されており、各カラーフィルタが複数の受光素子を覆っている。
Abstract translation: 在本公开极化成像设备,彩色马赛克滤光器,每个被设置在成像表面上和用于将光转换为电信号的多个光接收元件的,与所述多个光接收元件的对应不同颜色的滤色器被排列 如果,包括覆盖所述彩色马赛克滤光器的光学低通滤波器,以及多个位于所述光学低通滤波器的光入射侧偏振光学元件。 上述多个偏振光学元件的覆盖所述各个光接收元件,并且是在平行的平面中预定方向偏振的成像表面上的光学低通滤波器的入射光。 彩色拼接滤波器具有多个滤色器的颜色不同二维排列结构。 多个滤色器,从多个偏振光学元件的发出的光被配置成传输对应的彩色滤光片的一个相同的颜色,各颜色滤光器覆盖所述多个光接收元件的。
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公开(公告)号:JP5643983B2
公开(公告)日:2014-12-24
申请号:JP2010069964
申请日:2010-03-25
Applicant: 大塚電子株式会社
CPC classification number: G01N21/55 , G01J3/02 , G01J3/0218 , G01J3/0251 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/10 , G01N21/255 , G01N21/59 , G01N2201/0655
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