電流遮断器
    2.
    发明专利
    電流遮断器 审中-公开

    公开(公告)号:JP2019115030A

    公开(公告)日:2019-07-11

    申请号:JP2018146166

    申请日:2018-08-02

    Abstract: 【課題】高速での電流遮断が可能であり、電流導通損失を低減可能な電流遮断器を提供する。 【解決手段】電流遮断器(10)は、電流の導通部である主導通部(11)及びこれに並列に接続された補助導通部(12)を備え、主導通部(11)は、自己消弧機能を持たない第1の半導体スイッチング素子(1)と、これに直列に接続され導通部を切り替える導通部切り替え素子(2)と、によって形成され、補助導通部(12)は第2の半導体スイッチング素子(3)によって形成される。この電流遮断器(10)は、第1の半導体スイッチング素子(1)、導通部切り替え素子(2)、第2の半導体スイッチング素子(3)のオン、オフ動作をそれぞれ制御する制御回路を備える。 【選択図】図2

    圧接型半導体モジュール

    公开(公告)号:JP2018098451A

    公开(公告)日:2018-06-21

    申请号:JP2016244452

    申请日:2016-12-16

    Inventor: 飯塚 祐二

    CPC classification number: H01L25/072 H01L23/32 H01L23/492 H01L25/115

    Abstract: 【課題】外部配線の面積増大に対応し、主配線の低インダクタンス化を実現することができ、複数の定格系列化が望まれる半導体装置の低コスト生産を可能とする半導体装置及びその製造方法を提供する。 【解決手段】圧接型半導体モジュールは、第1面に形成された第1電極13と、第1面に対向する第2面に形成された第2電極18と、該第2電極に接続された電極板23とを有する複数の半導体ユニット2A,2Bと、各半導体ユニットの電極板に個別に螺合されて圧接力を受ける被圧接面31cを基準圧接面に一致するように調整可能な複数の圧接用調整部材3A,3Bとを備えている。 【選択図】図1

    圧接型半導体モジュール

    公开(公告)号:JP6108026B1

    公开(公告)日:2017-04-05

    申请号:JP2016244452

    申请日:2016-12-16

    Inventor: 飯塚 祐二

    CPC classification number: H01L25/072 H01L23/32 H01L23/492

    Abstract: 【課題】外部配線の面積増大に対応し、主配線の低インダクタンス化を実現することができ、複数の定格系列化が望まれる半導体装置の低コスト生産を可能とする半導体装置及びその製造方法を提供する。 【解決手段】圧接型半導体モジュールは、第1面に形成された第1電極13と、第1面に対向する第2面に形成された第2電極18と、該第2電極に接続された電極板23とを有する複数の半導体ユニット2A,2Bと、各半導体ユニットの電極板に個別に螺合されて圧接力を受ける被圧接面31cを基準圧接面に一致するように調整可能な複数の圧接用調整部材3A,3Bとを備えている。 【選択図】図1

    半導体装置
    9.
    发明专利
    半導体装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2020205326A

    公开(公告)日:2020-12-24

    申请号:JP2019111885

    申请日:2019-06-17

    Inventor: 飯塚 祐二

    Abstract: 【課題】半導体素子の温度を高精度かつ高速に検出することができ、装置の異常や劣化を高精度かつ高速に検出することができる半導体装置を提供する。 【解決手段】半導体装置10において、金属板33C1を表面に有する積層基板と、金属板上に導電性接合材により接合された半導体素子11と、絶縁板23及び温度検出素子24からなり、温度検出素子が絶縁板を介して金属板に接合された少なくとも1つの温度センサ21と、を有する。同一金属板上に配置しているため、半導体素子の温度を高精度、高速に測定する。 【選択図】図1A

    半導体装置及び電力変換装置
    10.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020150602A

    公开(公告)日:2020-09-17

    申请号:JP2019044148

    申请日:2019-03-11

    Inventor: 飯塚 祐二

    Abstract: 【課題】高速での電流遮断が可能であり、かつ、電流導通損失の低減が可能な半導体装置を得る。 【解決手段】半導体装置300は、基板上の第1配線パターンP2上に設けられる他励式の第1半導体スイッチング素子サイリスタ1と、基板上の第2配線パターンM2上に設けられ第1半導体スイッチング素子サイリスタ1に直列接続される自励式の第2半導体スイッチング素子MOSFET2とで構成される直列回路部を、少なくとも1つ備えると共に、基板上の第1配線パターンP2上に設けられ、直列回路部に並列接続される自励式の第3半導体スイッチング素子IGBT3を備える。 【選択図】図7

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