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公开(公告)号:JP3741222B2
公开(公告)日:2006-02-01
申请号:JP51880899
申请日:1998-09-18
Applicant: 株式会社ルネサステクノロジ
CPC classification number: H01L23/32 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48227 , H01L2224/73204 , H01L2924/09701 , H01L2924/15311 , H05K3/325 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
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公开(公告)号:JP4099412B2
公开(公告)日:2008-06-11
申请号:JP2003075429
申请日:2003-03-19
Applicant: 株式会社ルネサステクノロジ
CPC classification number: G01R1/07314 , G01R31/2872 , Y10T29/41 , Y10T29/49128 , Y10T29/49147 , Y10T29/49155 , Y10T29/49169 , Y10T29/49798
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公开(公告)号:JPWO2006038257A1
公开(公告)日:2008-05-15
申请号:JP2006539088
申请日:2004-09-30
Applicant: 株式会社ルネサステクノロジ
CPC classification number: G01R3/00 , G01R1/07307
Abstract: チップの主面(バンプ電極形成面)において、バンプ電極11の形成されていない領域において複数の測定点を設定し、それら複数の測定点における高さを求め、その高さの情報をもとに最小二乗法による回帰計算を実施し、最小二乗平面SSを設定する。次いで、複数のバンプ電極11のそれぞれについて、この最小二乗平面SSからの高さh21、h22、h23等を求め、この高さh21、h22、h23等をもとにして複数のバンプ電極11の高さが基準値以内か否かの判定、および複数のバンプ電極11の平坦度が基準値以内か否かの判定を行う。
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公开(公告)号:JP3813772B2
公开(公告)日:2006-08-23
申请号:JP27180399
申请日:1999-09-27
Applicant: 株式会社ルネサステクノロジ
CPC classification number: G01R1/0483 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
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