半導体装置及び半導体装置の製造方法
    2.
    发明专利
    半導体装置及び半導体装置の製造方法 审中-公开
    半导体器件的半导体器件和制造方法

    公开(公告)号:JP2016174039A

    公开(公告)日:2016-09-29

    申请号:JP2015052403

    申请日:2015-03-16

    Abstract: 【課題】グラフェン配線からドーパントが離脱し難い半導体装置の製造方法を提供する。 【解決手段】触媒層14上にグラフェン膜を形成する工程と、グラフェン膜の一部を除去してグラフェン膜に露出した側面を形成する工程と、露出した側面からグラフェン膜中にドーパントを導入する工程と、ドーパントが導入されたグラフェン膜をパターニングしてグラフェン配線15aを形成する工程と、を備える。 【選択図】図5

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种含有几乎不与石墨烯布线分离的掺杂剂的半导体器件的制造方法。解决方案:半导体器件的制造方法包括以下步骤:在催化剂层14上形成石墨烯膜; 通过去除一部分所述石墨烯膜形成暴露于所述石墨烯膜的侧面; 通过暴露的侧面将掺杂剂引入到石墨烯膜中; 以及通过图案化其中引入掺杂剂的石墨烯膜来形成石墨烯布线15a。选择图:图5

    半導体装置およびその製造方法
    3.
    发明专利
    半導体装置およびその製造方法 审中-公开
    半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:JP2016171245A

    公开(公告)日:2016-09-23

    申请号:JP2015051162

    申请日:2015-03-13

    Abstract: 【課題】低抵抗なグラフェン層を含む配線を備える半導体装置を提供すること。 【解決手段】半導体装置は配線10を含む。配線10は、触媒層301およびその上に設けられたグラフェン層400とを含む。触媒層301は触媒領域1C〜5Cを含む。触媒領域1C〜5Cはその順で第1の方向に沿って配置され、触媒領域1C〜5Cは隣り合うもの同士が接している。触媒領域1C,3C,5Cの上面は触媒領域2C,4Cの上面よりも高く、触媒領域1C,3Cの間の距離および触媒領域3C,5Cの間の距離はグラフェンの平均自由長以上である。 【選択図】 図2A

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种具有包括低电阻石墨烯层的布线的半导体器件。解决方案:半导体器件包括多个布线10.布线10包括催化剂层301和形成在其上的石墨烯层400。 催化剂层301包括催化剂区域1C至5C。 催化剂区域1C〜5C依次沿第一方向排列,催化剂区域1C〜5C分别邻接。 催化剂区域1C,3C和5C的上平面比催化剂区域2C和4C的上平面高。 催化剂区域1C和3C之间的距离以及催化剂区域3C和5C之间的距离大于石墨烯层的平均自由长度。选择图:图2A

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