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公开(公告)号：JP6143998B2
公开(公告)日：2017-06-07
申请号：JP2010285620
申请日：2010-12-22
Inventor： カート・ビナー
CPC classification number: A61B1/24 , A61B1/0646 , A61B1/0676 , A61B5/0088 , G01N21/645 , A61B1/00165 , G01N2021/6484 , G01N2201/0846
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公开(公告)号：JP6120946B2
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：JP2015507423
申请日：2013-03-12
Inventor： ノアベアト クレフト
CPC classification number: G01N21/766 , G01N33/0037 , G01N2201/0636 , G01N2201/0806 , G01N2201/084 , G01N2201/0846 , Y02A50/245
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公开(公告)号：JP5745851B2
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：JP2010528465
申请日：2008-10-10
Applicant: マウナ ケア テクノロジーズ
Inventor： ヴィエルローブ,ベルトラン , ラコンブ,フランソワ , ブーラロ,ニコラ , ドゥッスー,フランソワ , ラヴィロニエ,ニコラ
CPC classification number: G01N21/6458 , A61B1/00165 , A61B1/043 , A61B1/0638 , A61B1/07 , A61B5/0068 , A61B5/0071 , A61B5/0084 , A61B1/00186 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2201/024 , G01N2201/0846 , G01N2201/086
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公开(公告)号：JP2015518151A
公开(公告)日：2015-06-25
申请号：JP2015507423
申请日：2013-03-12
Applicant: エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH , エイヴィエル エミッション テスト システムズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツングAVL Emission Test Systems GmbH
Inventor： クレフト ノアベアト , クレフト ノアベアト
CPC classification number: G01N21/766 , G01N33/0037 , G01N2201/0636 , G01N2201/0806 , G01N2201/084 , G01N2201/0846 , Y02A50/245
Abstract: 試料ガス流及び反応ガス流を導入可能な分析室(10)と、反応により発する光学放射を測定する検出器(48)と、分析室(10)を検出器(48)に接続する接続通路(22)と、を備える、試料ガス流中の少なくとも1つのガスの濃度を計測する装置は、公知である。この装置の効率及び測定精度を向上させ、かつ分析室(10)の壁への堆積物を回避するために、接続通路(22)は、分析室(10)から検出器(48)まで延在するライトガイド(26)として構成されているようにした。
Abstract translation: 样品气体流，并且可以被引入反应气体流分析室（10），用于测量从反应发出与所述光辐射的检测器（48），连接通道连接所述分析室（10）到检测器（48）（ 包括22），用于测量所述样本气体流的至少一种气体的浓度的装置是已知的。 为了提高装置的效率和测量精度，并避免所述壁（10）上的分析腔室沉积，连接通道（22），延伸分析室（10）到所述检测器（48） 因此它被配置为光导（26）得到。
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公开(公告)号：JP5420163B2
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：JP2007276770
申请日：2007-10-24
Applicant: 浜松ホトニクス株式会社
CPC classification number: G01N21/4795 , A61B5/0091 , A61B5/4312 , G01N2201/0846
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Patent Agency Ranking6.发明专利Gas monitoring device, combustion state monitoring device, aging monitoring device, and impurity concentration monitoring device 有权气体监测装置，燃烧状态监测装置，老化监测装置和污染浓度监测装置
公开(公告)号：JP2010151690A
公开(公告)日：2010-07-08
申请号：JP2008331531
申请日：2008-12-25
Applicant: Sumitomo Electric Ind Ltd , 住友電気工業株式会社
Inventor： INADA HIROSHI , NAGAI YOICHI
IPC: B82Y15/00 , B82Y20/00 , G01J1/02 , G01J5/28 , G01N21/35 , G01N21/3504 , G01N21/359 , H01L31/10
CPC classification number: G01J5/602 , G01J5/0044 , G01J2005/0077 , G01N21/3504 , G01N21/359 , G01N2021/3531 , G01N2201/0833 , G01N2201/0846 , H01L31/035209 , H01L31/1035 , H01L2224/48091 , H01L2924/00014
Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a gas monitoring device or the like reducing a dark current without a cooling mechanism, and monitoring gas with high sensitivity by using an InP-based photodiode wherein light reception sensitivity is enhanced to a wavelength of 1.8 μm or more. SOLUTION: A light receiving layer 3 includes a multiple quantum well structure of a group III-V semiconductor, and a pn-junction 15 is formed by selective diffusion of an impurity element into the light receiving layer, and an impurity concentration in the light receiving layer is below 5×10 16 /cm 3 . This gas monitoring device receives light having at least one wavelength which is the wavelength of 3 μm or shorter, and detects a gas component or the like in the gas. COPYRIGHT: (C)2010,JPO&INPIT
Abstract translation: 解决的问题：为了提供一种在没有冷却机构的情况下减少暗电流的气体监测装置等，并且通过使用InP基光电二极管监测具有高灵敏度的气体，其中光接收灵敏度增加到波长1.8 μm以上。 解决方案：光接收层3包括III-V族半导体的多量子阱结构，并且通过杂质元素选择性地扩散到光接收层中形成pn结15，并且杂质浓度 光接收层低于5×10
16 / cm 3 。 该气体监测装置接收波长为3μm以下的至少一个波长的光，并检测气体中的气体成分等。 版权所有（C）2010，JPO＆INPIT -
公开(公告)号：JPWO2005058161A1
公开(公告)日：2007-07-12
申请号：JP2005516269
申请日：2004-07-09
Applicant: 株式会社日立メディコ
CPC classification number: A61B5/6886 , A61B5/0059 , A61B5/6844 , G01N21/01 , G01N21/47 , G01N21/49 , G01N21/55 , G01N2201/021 , G01N2201/0846
Abstract: 計測中に被検体を完全に静止させることはできないため、計測データの信頼性を高めるために、被検体の動きに対して頑健な計測プローブとする。そのため、被検体に光を照射する照明部と、被検体を透過あるいは反射あるいは散乱した光を検出する検出部と、前記照明部および前記検出部と結合し光を導く導波路と、前記照明部および前記検出部を保持する保持部と、前記保持部を被検体に固定する固定部とより構成し、前記保持部は各々独立に弾力を働かせることが可能な弾性体によって固定部と結合し、前記導波路は前記固定部に固定する。
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公开(公告)号：JP2017509898A
公开(公告)日：2017-04-06
申请号：JP2016565573
申请日：2015-01-23
Applicant: ディアフィール
Inventor： タリエル フグエス , タリエル フグエス , シャルパンティエ フレデリク , シャルパンティエ フレデリク
IPC: G01N21/17
CPC classification number: G01N21/3577 , A61B5/0075 , A61B2562/0233 , B01L3/5088 , B01L2200/026 , B01L2200/027 , B01L2300/0609 , B01L2300/0654 , B01L2400/065 , G01N21/431 , G01N21/49 , G01N21/552 , G01N33/487 , G01N2021/4769 , G01N2201/0846 , G01N2201/0886 , G02B6/02395
Abstract: 本発明は、少なくとも1つの波長の光の伝播を可能にし、外向きにエバネセント波を生成する導波管(42)を有するサポート(14)を含む装置(10)に関する。本発明によると、この装置は、導波管(42)と接触すると、液体試料を受け、導波管に液体試料の一部を含浸させるように設計された液体試料を受けるための手段と、液体試料と導波管(42)との間の接触を破壊するための作動可能手段とを備える。【選択図】図4A
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公开(公告)号：JP2017049043A
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2015170847
申请日：2015-08-31
Applicant: 大塚電子株式会社
Inventor： 白岩 久志
CPC classification number: G01J3/28 , G01J3/0208 , G01J3/0218 , G01J3/18 , G01J3/2803 , G01J3/44 , G01J3/4406 , G01N21/6452 , G01N21/6458 , G01N21/65 , G02B21/0032 , G02B21/004 , G02B21/0064 , G01N2021/6484 , G01N2201/0833 , G01N2201/0846
Abstract: 【課題】より優れた顕微分光装置を提供する。 【解決手段】顕微分光装置は、光源と、前記光源からの光を受ける複数の投光ファイバと、分光器と、受けた光を前記分光器へ導くための複数の受光ファイバと、前記複数の投光ファイバからの複数の光束をそれぞれ集光して試料に照射し、前記試料における複数の集光点からの複数の光束を前記複数の受光ファイバにそれぞれ結像するための共焦点光学系とを備える。 【選択図】図1
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公开(公告)号：JP5991967B2
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：JP2013515185
申请日：2012-05-16
Applicant: ユニバーサル・バイオ・リサーチ株式会社
Inventor： 田島 秀二
CPC classification number: G01N21/6428 , C12Q1/686 , G01N21/6452 , G01N21/6454 , G01N35/02 , G01N2021/6484 , G01N2035/0403 , G01N21/11 , G01N2201/0846 , G01N2201/0853 , G01N35/026 , G01N35/028 , G01N35/1002 , G01N35/1065
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