半導體晶圓接合體之製造方法、半導體晶圓接合體及半導體裝置 MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    1.
    发明专利
    半導體晶圓接合體之製造方法、半導體晶圓接合體及半導體裝置 MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY AND SEMICONDUCTOR DEVICE 审中-公开
    半导体晶圆接合体之制造方法、半导体晶圆接合体及半导体设备 MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING BODY AND SEMICONDUCTOR DEVICE

    公开(公告)号:TW201118962A

    公开(公告)日:2011-06-01

    申请号:TW099130560

    申请日:2010-09-09

    IPC: H01L

    Abstract: 半導體晶圓接合體之製造方法係具有:準備間隔物形成用薄膜的步驟,該間隔物形成用薄膜具備片狀的支持基材、與設置在該支持基材上具有感光性的間隔物形成層;在半導體晶圓的一面側貼著前述間隔物形成層的步驟;藉由曝光-顯像前述間隔物形成層進行圖案化而形成間隔物,同時去除前述支持基材的步驟;及以透明基板包含於內側的方式,使透明基板接合於前述間隔物與前述支持基材接觸之部分的步驟。藉此,可製造半導體晶圓與透明基板均一且確實地透過間隔物而接合之半導體晶圓接合體。

    Abstract in simplified Chinese: 半导体晶圆接合体之制造方法系具有:准备间隔物形成用薄膜的步骤,该间隔物形成用薄膜具备片状的支持基材、与设置在该支持基材上具有感光性的间隔物形成层;在半导体晶圆的一面侧贴着前述间隔物形成层的步骤;借由曝光-显像前述间隔物形成层进行图案化而形成间隔物,同时去除前述支持基材的步骤;及以透明基板包含于内侧的方式,使透明基板接合于前述间隔物与前述支持基材接触之部分的步骤。借此,可制造半导体晶圆与透明基板均一且确实地透过间隔物而接合之半导体晶圆接合体。

    電磁波遮蔽用膜片及電子零件之被覆方法
    5.
    发明专利
    電磁波遮蔽用膜片及電子零件之被覆方法 审中-公开
    电磁波屏蔽用膜片及电子零件之被覆方法

    公开(公告)号:TW201419997A

    公开(公告)日:2014-05-16

    申请号:TW102129551

    申请日:2013-08-16

    Abstract: 本發明之電磁波遮蔽用膜片,係用於將基板上之凸部被覆,其係包含基材層、與疊層在該基材層之其中一面側之阻擋層而構成。該基材層係由至少2層疊層而得之疊層體構成。本發明提供一種電磁波遮蔽用膜片,可提高基板之設計自由度且達成輕量化.薄型化,且對於具有500μm以上之凸部之電子零件,有良好的形狀追隨性。又,本發明提供使用此電磁波遮蔽用膜片之電子零件之被覆方法。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明之电磁波屏蔽用膜片,系用于将基板上之凸部被覆,其系包含基材层、与叠层在该基材层之其中一面侧之阻挡层而构成。该基材层系由至少2层叠层而得之叠层体构成。本发明提供一种电磁波屏蔽用膜片,可提高基板之设计自由度且达成轻量化.薄型化,且对于具有500μm以上之凸部之电子零件,有良好的形状追随性。又,本发明提供使用此电磁波屏蔽用膜片之电子零件之被覆方法。

    受光裝置及受光裝置之製造方法 LIGHT-RECEIVING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING A LIGHT-RECEIVING DEVICE
    8.
    发明专利
    受光裝置及受光裝置之製造方法 LIGHT-RECEIVING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING A LIGHT-RECEIVING DEVICE 审中-公开
    受光设备及受光设备之制造方法 LIGHT-RECEIVING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING A LIGHT-RECEIVING DEVICE

    公开(公告)号:TW201007933A

    公开(公告)日:2010-02-16

    申请号:TW098117957

    申请日:2009-06-01

    IPC: H01L G03F

    Abstract: 本發明係具備:至少一個以上之受光部11;設有受光部11之基底基板12A;與基底基板12A及受光部11相對向配置之透明基板13A;與在基底基板12A與透明基板13A之間配置成包圍受光部11的框構材14A。框構材14A係使樹脂組成物硬化而成者。樹脂組成物含有鹼可溶性樹脂、光聚合性樹脂、與9重量%以下之無機填充材。光聚合性樹脂含有丙烯酸系多官能單體。框構材14A係透濕率為12[g/m 2 ‧24h]以上,框構材14A之80℃下之彈性係數為100Pa以上。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明系具备:至少一个以上之受光部11;设有受光部11之基底基板12A;与基底基板12A及受光部11相对向配置之透明基板13A;与在基底基板12A与透明基板13A之间配置成包围受光部11的框构材14A。框构材14A系使树脂组成物硬化而成者。树脂组成物含有碱可溶性树脂、光聚合性树脂、与9重量%以下之无机填充材。光聚合性树脂含有丙烯酸系多官能单体。框构材14A系透湿率为12[g/m 2 ‧24h]以上,框构材14A之80℃下之弹性系数为100Pa以上。

    電磁波遮蔽用膜片及電子零件搭載基板
    9.
    发明专利
    電磁波遮蔽用膜片及電子零件搭載基板 审中-公开
    电磁波屏蔽用膜片及电子零件搭载基板

    公开(公告)号:TW201512346A

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:TW103120589

    申请日:2014-06-13

    CPC classification number: H05K9/0088 H05K1/0218 H05K2201/0715 H05K2203/1311

    Abstract: 電磁波遮蔽用膜片100包含:基材層1;及疊層於該基材層1之電磁波阻擋層3,電磁波阻擋層3由包含導電性材料及磁性吸收材料中之至少1種材料所構成,其表面電阻值為1×10-3Ω/□以上、1×106Ω/□以下。依據如此之電磁波遮蔽用膜片100,可達成電磁波阻擋層3之輕量化・薄型化,並可有效地阻擋至如GHz級之高頻帶之電磁波。又,電磁波遮蔽用膜片100在波長300nm以上、800nm以下之光線透射率為0.01%以上、30%以下。

    Abstract in simplified Chinese: 电磁波屏蔽用膜片100包含:基材层1;及叠层于该基材层1之电磁波阻挡层3,电磁波阻挡层3由包含导电性材料及磁性吸收材料中之至少1种材料所构成,其表面电阻值为1×10-3Ω/□以上、1×106Ω/□以下。依据如此之电磁波屏蔽用膜片100,可达成电磁波阻挡层3之轻量化・薄型化,并可有效地阻挡至如GHz级之高频带之电磁波。又,电磁波屏蔽用膜片100在波长300nm以上、800nm以下之光线透射率为0.01%以上、30%以下。

    半導體晶圓接合體之製造方法、半導體晶圓接合體及半導體裝置 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT AND SEMICONDUCTOR DEVICE
    10.
    发明专利
    半導體晶圓接合體之製造方法、半導體晶圓接合體及半導體裝置 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT AND SEMICONDUCTOR DEVICE 审中-公开
    半导体晶圆接合体之制造方法、半导体晶圆接合体及半导体设备 METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT, SEMICONDUCTOR WAFER BONDING PRODUCT AND SEMICONDUCTOR DEVICE

    公开(公告)号:TW201207896A

    公开(公告)日:2012-02-16

    申请号:TW100110338

    申请日:2011-03-25

    IPC: H01L

    Abstract: 本發明之半導體晶圓接合體之製造方法係具有:由選擇性地將曝光光線照射在間隔材形成層來進行曝光,並藉由使用顯影液進行顯影,而使壁部104'殘存之步驟;將壁部104'的寬度設為W[���m]、將壁部104'的高度設為H[���m]時,係分別滿足下列 ~ 的關係式:15≦W≦3000‧‧‧ 3≦H≦300‧‧‧ 0.10≦W/H≦900‧‧‧ 。藉此,在經由曝光處理、顯影處理來形成設置在半導體晶圓與透明基板之間的間隔材時,可抑制或防止顯影處理中所產生之固體形狀的懸浮物殘留作為殘渣。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明之半导体晶圆接合体之制造方法系具有:由选择性地将曝光光线照射在间隔材形成层来进行曝光,并借由使用显影液进行显影,而使壁部104'残存之步骤;将壁部104'的宽度设为W[���m]、将壁部104'的高度设为H[���m]时,系分别满足下列<1>~<3>的关系式:15≦W≦3000‧‧‧<1> 3≦H≦300‧‧‧<2> 0.10≦W/H≦900‧‧‧<3>。借此,在经由曝光处理、显影处理来形成设置在半导体晶圆与透明基板之间的间隔材时,可抑制或防止显影处理中所产生之固体形状的悬浮物残留作为残渣。

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