半導體結構
    1.
    发明专利
    半導體結構 审中-公开
    半导体结构

    公开(公告)号:TW202005037A

    公开(公告)日:2020-01-16

    申请号:TW107128373

    申请日:2018-08-14

    Abstract: 公開半導體結構及其形成方法。所述半導體結構包括第一晶粒、第二晶粒、第一包封材料及保護層。第一晶粒包括第一基底。第二晶粒接合到第一晶粒且包括第二基底。第一包封材料包封第一晶粒。保護層設置在第一基底的側壁上且設置在所述第一基底與第一包封材料之間,其中所述保護層的材料不同於第二基底的材料及所述第一包封材料的材料。

    Abstract in simplified Chinese: 公开半导体结构及其形成方法。所述半导体结构包括第一晶粒、第二晶粒、第一包封材料及保护层。第一晶粒包括第一基底。第二晶粒接合到第一晶粒且包括第二基底。第一包封材料包封第一晶粒。保护层设置在第一基底的侧壁上且设置在所述第一基底与第一包封材料之间,其中所述保护层的材料不同于第二基底的材料及所述第一包封材料的材料。

    半導體封裝及其形成方法
    4.
    发明专利
    半導體封裝及其形成方法 审中-公开
    半导体封装及其形成方法

    公开(公告)号:TW202011556A

    公开(公告)日:2020-03-16

    申请号:TW108130870

    申请日:2019-08-28

    Abstract: 本發明實施例公開半導體封裝及其形成方法。半導體封裝包含至少一個晶粒和重佈線層。重佈線層設置在至少一個晶粒上方且電性連接到至少一個晶粒,且包含晶種層結構和位在晶種層結構上方的金屬特徵。在一些實施例中,晶種層結構的邊緣從金屬特徵的邊緣突出且具有大於10奈米的表面粗糙度Rz。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明实施例公开半导体封装及其形成方法。半导体封装包含至少一个晶粒和重布线层。重布线层设置在至少一个晶粒上方且电性连接到至少一个晶粒,且包含晶种层结构和位在晶种层结构上方的金属特征。在一些实施例中,晶种层结构的边缘从金属特征的边缘突出且具有大于10奈米的表面粗糙度Rz。

    半導體封裝中的密集型重佈線層以及其形成方法
    5.
    发明专利
    半導體封裝中的密集型重佈線層以及其形成方法 审中-公开
    半导体封装中的密集型重布线层以及其形成方法

    公开(公告)号:TW201816897A

    公开(公告)日:2018-05-01

    申请号:TW106107933

    申请日:2017-03-10

    Abstract: 本發明實施例提供一種半導體封裝中的密集型重佈線層的形成方法,其包含在晶種層上方形成經圖案化第一光阻。經圖案化第一光阻中的第一開口暴露晶種層。形成方法更包含:在晶種層上的第一開口中鍍覆第一導電材料;移除經圖案化第一光阻;以及在移除經圖案化第一光阻之後在第一導電材料上方形成經圖案化第二光阻。經圖案化第二光阻中的第二開口暴露第一導電材料的一部分。形成方法更包含:在第一導電材料上的第二開口中鍍覆第二導電材料;移除經圖案化第二光阻;以及在移除經圖案化第二光阻之後圍繞第一導電材料以及第二導電材料沈積介電層。

    Abstract in simplified Chinese: 本发明实施例提供一种半导体封装中的密集型重布线层的形成方法,其包含在晶种层上方形成经图案化第一光阻。经图案化第一光阻中的第一开口暴露晶种层。形成方法更包含:在晶种层上的第一开口中镀覆第一导电材料;移除经图案化第一光阻;以及在移除经图案化第一光阻之后在第一导电材料上方形成经图案化第二光阻。经图案化第二光阻中的第二开口暴露第一导电材料的一部分。形成方法更包含:在第一导电材料上的第二开口中镀覆第二导电材料;移除经图案化第二光阻;以及在移除经图案化第二光阻之后围绕第一导电材料以及第二导电材料沉积介电层。

    形成半導體封裝體的方法
    7.
    发明专利
    形成半導體封裝體的方法 审中-公开
    形成半导体封装体的方法

    公开(公告)号:TW202008481A

    公开(公告)日:2020-02-16

    申请号:TW107139396

    申请日:2018-11-06

    Abstract: 在實施例中,一種方法包含:在晶粒上形成第一介電層,第一介電層包含感光性材料;固化第一介電層以降低第一介電層之感光度;藉由蝕刻來圖案化第一介電層以形成第一開口;在第一介電層之第一開口中形成第一金屬化圖案;在第一金屬化圖案及第一介電層上形成第二介電層,第二介電層包含感光性材料;藉由曝光及顯影來圖案化第二介電層以形成第二開口;以及在第二介電層之第二開口中形成第二金屬化圖案,第二金屬化圖案電連接至第一金屬化圖案。

    Abstract in simplified Chinese: 在实施例中,一种方法包含:在晶粒上形成第一介电层,第一介电层包含感光性材料;固化第一介电层以降低第一介电层之感光度;借由蚀刻来图案化第一介电层以形成第一开口;在第一介电层之第一开口中形成第一金属化图案;在第一金属化图案及第一介电层上形成第二介电层,第二介电层包含感光性材料;借由曝光及显影来图案化第二介电层以形成第二开口;以及在第二介电层之第二开口中形成第二金属化图案,第二金属化图案电连接至第一金属化图案。

    整合扇出型封裝的製造方法
    8.
    发明专利
    整合扇出型封裝的製造方法 审中-公开
    集成扇出型封装的制造方法

    公开(公告)号:TW201911438A

    公开(公告)日:2019-03-16

    申请号:TW107125984

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 提供一種整合扇出型封裝的製造方法。方法包含以下步驟。在基板上提供積體電路元件。在基板上形成絕緣密封體以密封積體電路元件的側壁。沿建構方向在積體電路元件和絕緣密封體上形成重佈線路結構。重佈線路結構的形成包含以下步驟。形成介電層和嵌入於介電層中的多個導通孔,其中導通孔中的每一個的橫向尺寸沿建構方向減小。在多個導通孔和介電層上形成多個導電佈線。

    Abstract in simplified Chinese: 提供一种集成扇出型封装的制造方法。方法包含以下步骤。在基板上提供集成电路组件。在基板上形成绝缘密封体以密封集成电路组件的侧壁。沿建构方向在集成电路组件和绝缘密封体上形成重布线路结构。重布线路结构的形成包含以下步骤。形成介电层和嵌入于介电层中的多个导通孔,其中导通孔中的每一个的横向尺寸沿建构方向减小。在多个导通孔和介电层上形成多个导电布线。

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