偵測在電鍍處理器中的電解液凸液面
    10.
    发明专利
    偵測在電鍍處理器中的電解液凸液面 审中-公开
    侦测在电镀处理器中的电解液凸液面

    公开(公告)号:TW201439382A

    公开(公告)日:2014-10-16

    申请号:TW103109690

    申请日:2014-03-14

    摘要: 提供一種與用於電鍍基板(諸如,半導體晶圓)之處理器一起使用之偵測夾具,以偵測該處理器的筒體中的電解液水平面。該偵測到的電解液水平面用於控制將基板引入到電解液中,以實現所期望的電解液潤濕特性。該處理器具有基板固持器,該基板固持器支撐在一升降器上,該升降器用於使該基板固持器下降到筒體中。偵測夾具可模擬基板且被基板固持器以基板固持器固持基板之相同方式固持。該升降器使偵測夾具下降,直至該偵測夾具接觸該電解液,其中夾具位置指示電解液水平面。隨後自處理器移除偵測夾具。

    简体摘要: 提供一种与用于电镀基板(诸如,半导体晶圆)之处理器一起使用之侦测夹具,以侦测该处理器的筒体中的电解液水平面。该侦测到的电解液水平面用于控制将基板引入到电解液中,以实现所期望的电解液润湿特性。该处理器具有基板固持器,该基板固持器支撑在一升降器上,该升降器用于使该基板固持器下降到筒体中。侦测夹具可仿真基板且被基板固持器以基板固持器固持基板之相同方式固持。该升降器使侦测夹具下降,直至该侦测夹具接触该电解液,其中夹具位置指示电解液水平面。随后自处理器移除侦测夹具。