多晶片疊層之封裝結構及其封裝方法
    6.
    发明专利
    多晶片疊層之封裝結構及其封裝方法 审中-公开
    多芯片叠层之封装结构及其封装方法

    公开(公告)号:TW201521176A

    公开(公告)日:2015-06-01

    申请号:TW102143333

    申请日:2013-11-27

    IPC分类号: H01L25/04 H01L23/34

    摘要: 本發明係揭露一種多晶片疊層之封裝結構及其封裝方法,僅使用一個連接片設置於HS晶片的源極和LS晶片的汲極上實現其電性連接,導電損耗和開關損耗減小,且熱耗散效率則得到增強。IC晶片絕緣地連接在連接片上,從而可以疊放到HS晶片及LS晶片所在平面的上方,以有效減少封裝後的元件尺寸。本發明中可以將第一載片台、第二載片台的底面暴露在塑封體外;還有多種方法,進一步將連接片上不連接IC晶片的一部分表面暴露在塑封體外;或者在連接片上進一步連接散熱板,並使該散熱板的一部分表面暴露在塑封體外;或者將散熱板插入到塑封體預留的缺口中以接觸連接片幫助散熱。

    简体摘要: 本发明系揭露一种多芯片叠层之封装结构及其封装方法,仅使用一个连接片设置于HS芯片的源极和LS芯片的汲极上实现其电性连接,导电损耗和开关损耗减小,且热耗散效率则得到增强。IC芯片绝缘地连接在连接片上,从而可以叠放到HS芯片及LS芯片所在平面的上方,以有效减少封装后的组件尺寸。本发明中可以将第一载片台、第二载片台的底面暴露在塑封体外;还有多种方法,进一步将连接片上不连接IC芯片的一部分表面暴露在塑封体外;或者在连接片上进一步连接散热板,并使该散热板的一部分表面暴露在塑封体外;或者将散热板插入到塑封体预留的缺口中以接触连接片帮助散热。