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公开(公告)号:TWI413700B
公开(公告)日:2013-11-01
申请号:TW097103487
申请日:2008-01-30
申请人: 蘭姆研究公司 , LAM RESEARCH CORPORATION
发明人: 馬克 伊恩 華格納 , WAGNER, MARK IAN
IPC分类号: C23C14/14 , C23C16/18 , H01L21/3205
CPC分类号: H01L21/288 , C23C18/08 , C23C18/1642 , C23C18/1658 , C23C18/1678 , C23C18/1685 , C23C18/31
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2.無電沉積之方法與系統 ELECTROLESS DEPOSITION METHODS AND SYSTEMS 失效
简体标题: 无电沉积之方法与系统 ELECTROLESS DEPOSITION METHODS AND SYSTEMS公开(公告)号:TW200502101A
公开(公告)日:2005-01-16
申请号:TW093111780
申请日:2004-04-27
发明人: 瑪德洛維斯 彼得 MARDILOVICH, PETER , 赫曼 葛瑞哥里 HERMAN, GREGORY , 普薩冷 大衛 PUNSALAN, DAVID , 貝哈尼 山森 BERHANE, SAMSON
CPC分类号: C23C18/1601 , C23C18/1603 , C23C18/1608 , C23C18/161 , C23C18/1658 , C23C18/1678 , C23C18/1879 , C23C18/28 , C23C18/30 , C23C18/31 , C23C18/405 , C23C18/44 , H05K3/182 , H05K2203/013 , H05K2203/1157
摘要: 提供沈積金屬圖案於基材之方法及系統。如此可形成無電活性層於基材上。然後使用噴墨技術來噴墨一種無電沈積組成物之至少兩種成分於多種基材上。金屬組成物可噴墨於無電活性層上。金屬組成物可含有金屬鹽及選擇性添加劑。還原劑組成物可於金屬組成物噴墨後或噴墨前噴墨,來形成無電組成物於基材上。金屬鹽與還原劑反應而形成金屬圖案,該圖案用來形成電子裝置或其它產品。所述可噴墨組成物於寬廣範圍之條件穩定,且允許噴墨調配物及基材的選擇上有寬廣裕度。
简体摘要: 提供沉积金属图案于基材之方法及系统。如此可形成无电活性层于基材上。然后使用喷墨技术来喷墨一种无电沉积组成物之至少两种成分于多种基材上。金属组成物可喷墨于无电活性层上。金属组成物可含有金属盐及选择性添加剂。还原剂组成物可于金属组成物喷墨后或喷墨前喷墨,来形成无电组成物于基材上。金属盐与还原剂反应而形成金属图案,该图案用来形成电子设备或其它产品。所述可喷墨组成物于宽广范围之条件稳定,且允许喷墨调配物及基材的选择上有宽广裕度。
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公开(公告)号:TW201641745A
公开(公告)日:2016-12-01
申请号:TW105108607
申请日:2016-03-18
申请人: 德國艾托特克公司 , ATOTECH DEUTSCHLAND GMBH
IPC分类号: C23C18/30 , C23C18/31 , H01L21/228 , H01L21/3205 , H01L31/18
CPC分类号: H01L21/32053 , C23C18/1642 , C23C18/1655 , C23C18/1678 , C23C18/1692 , C23C18/1879 , C23C18/34 , C23C18/36 , C23C18/38 , H01L21/288 , H01L21/76838
摘要: 本發明係關於一種用於活化矽基材之活化組合物,其係包含鈀離子源、氟離子源及至少兩種芳香族酸之水溶液。本發明進一步係關於其使用及視情況用於此等經處理之基材之隨後金屬化之方法。該方法可用於半導體及太陽能電池製造中。
简体摘要: 本发明系关于一种用于活化硅基材之活化组合物,其系包含钯离子源、氟离子源及至少两种芳香族酸之水溶液。本发明进一步系关于其使用及视情况用于此等经处理之基材之随后金属化之方法。该方法可用于半导体及太阳能电池制造中。
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公开(公告)号:TWI417353B
公开(公告)日:2013-12-01
申请号:TW099139872
申请日:2010-11-19
发明人: 卡西亞 凱文 , CALZIA, KEVIN , 莫斯里 大衛 , MOSLEY, DAVID
IPC分类号: C09D11/00 , C09D7/12 , H01L21/208
CPC分类号: C23C18/1678 , C09D11/52 , C23C18/08 , C23C18/10 , C23C18/1204 , C23C18/52
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公开(公告)号:TWI385276B
公开(公告)日:2013-02-11
申请号:TW096136256
申请日:2007-09-28
申请人: 蘭姆研究公司 , LAM RESEARCH CORPORATION
发明人: 威廉 尤 , THIE, WILLIAM , 約翰M 柏依 , BOYD, JOHN M. , 葉斯帝 多迪 , DORDI, YEZDI , 佛禮茲C 瑞德克 , REDEKER, FRITZ C.
CPC分类号: C23C18/1617 , C23C18/163 , C23C18/1678 , H01L21/67092
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6.
公开(公告)号:TWI368665B
公开(公告)日:2012-07-21
申请号:TW093131142
申请日:2004-10-14
申请人: 應用材料股份有限公司
发明人: 度明奇 魯保門司基 , 阿朗庫碼 單目革善德然 , 易安A 潘誠 , 瑟爾基 羅伯丁
CPC分类号: H01L21/76838 , C23C18/1601 , C23C18/1619 , C23C18/1628 , C23C18/1678 , C23C18/1682 , C23C18/1872 , C23C18/28 , H01L21/288 , Y10S134/902
摘要: 本發明係主要提供一流體製程平臺。該平臺具有一主基座,該主基座具有一基板輸送自動控制裝置、位於該主基座上的至少一基板清洗室、以及至少一製程區。製程區包括氣體供應器,設置成與該製程區之內部流體連通;第一流體製程室,設置於該製程區內;第一基板頭組件,設置以支撐一基板於第一流體製程室中處理;第二流體製程室,設置於該製程區內;第二頭組件,設置以支撐一基板於第二流體製程室中處理;以及一基板輸送單元,位於第一與第二流體製程室之間,並且可將基板運送於流體製程室與主基座的自動控制裝置之間。
简体摘要: 本发明系主要提供一流体制程平台。该平台具有一主基座,该主基座具有一基板输送自动控制设备、位于该主基座上的至少一基板清洗室、以及至少一制程区。制程区包括气体供应器,设置成与该制程区之内部流体连通;第一流体制程室,设置于该制程区内;第一基板头组件,设置以支撑一基板于第一流体制程室中处理;第二流体制程室,设置于该制程区内;第二头组件,设置以支撑一基板于第二流体制程室中处理;以及一基板输送单元,位于第一与第二流体制程室之间,并且可将基板运送于流体制程室与主基座的自动控制设备之间。
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7.利用超臨界溶劑在半導體基板上形成金屬膜的組成物及方法 COMPOSITION AND METHODS FOR FORMING METAL FILMS ON SEMICONDUCTOR SUBSTRATES USING SUPERCRITICAL SOLVENTS 审中-公开
简体标题: 利用超临界溶剂在半导体基板上形成金属膜的组成物及方法 COMPOSITION AND METHODS FOR FORMING METAL FILMS ON SEMICONDUCTOR SUBSTRATES USING SUPERCRITICAL SOLVENTS公开(公告)号:TW200848529A
公开(公告)日:2008-12-16
申请号:TW097103487
申请日:2008-01-30
CPC分类号: H01L21/288 , C23C18/08 , C23C18/1642 , C23C18/1658 , C23C18/1678 , C23C18/1685 , C23C18/31
摘要: 一種用以在半導體基板上形成金屬膜的組成物及方法。所揭示方法之一包含:加熱該半導體基板以獲得一經加熱的半導體基板;暴露該經加熱的半導體基板至包含至少一金屬前驅物的一組成物,該金屬前驅物包含至少一配位子、一過量的中性不穩定配位子、一超臨界溶劑、以及可選擇地B、C、N、Si、P與其混合物其中至少一者的來源;在該經加熱的半導體基板處或接近該經加熱的半導體基板處,暴露該組成物至一還原劑及/或熱能;分離該至少一配位子與該金屬前驅物;及形成該金屬膜,但令金屬氧化物的形成極小化。
简体摘要: 一种用以在半导体基板上形成金属膜的组成物及方法。所揭示方法之一包含:加热该半导体基板以获得一经加热的半导体基板;暴露该经加热的半导体基板至包含至少一金属前驱物的一组成物,该金属前驱物包含至少一配位子、一过量的中性不稳定配位子、一超临界溶剂、以及可选择地B、C、N、Si、P与其混合物其中至少一者的来源;在该经加热的半导体基板处或接近该经加热的半导体基板处,暴露该组成物至一还原剂及/或热能;分离该至少一配位子与该金属前驱物;及形成该金属膜,但令金属氧化物的形成极小化。
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公开(公告)号:TWI576463B
公开(公告)日:2017-04-01
申请号:TW101144292
申请日:2012-11-27
发明人: 稲富裕一郎 , INATOMI, YUICHIRO , 田中崇 , TANAKA, TAKASHI , 岩下光秋 , IWASHITA, MITSUAKI
IPC分类号: C23C18/31
CPC分类号: C23C18/1678 , C23C18/1619 , C23C18/1628 , C23C18/1632 , C23C18/1651 , C23C18/1676 , C23C18/1682 , C23C18/42 , C23C18/54
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公开(公告)号:TW201339363A
公开(公告)日:2013-10-01
申请号:TW101144292
申请日:2012-11-27
发明人: 稲富裕一郎 , INATOMI, YUICHIRO , 田中崇 , TANAKA, TAKASHI , 岩下光秋 , IWASHITA, MITSUAKI
IPC分类号: C23C18/31
CPC分类号: C23C18/1678 , C23C18/1619 , C23C18/1628 , C23C18/1632 , C23C18/1651 , C23C18/1676 , C23C18/1682 , C23C18/42 , C23C18/54
摘要: 本發明之課題在於提供可以有效率地加熱基板,同時防止在排出的鍍層液混入溫度調節水等,可以使鍍層液容易地再利用之鍍層處理裝置。本發明之解決手段之鍍層處理裝置(20),具備保持基板(W)的基板保持機構(110),朝向被保持於基板保持機構(110)的基板(W)吐出鍍層液(35)的吐出機構(21),以及被連接於吐出機構(21),對吐出機構(21)供給鍍層液(35)的鍍層液供給機構(30)。氣體供給機構(170),加熱比熱容量比空氣還高的加熱用氣體(G)而朝向被保持於基板保持機構(110)的基板(W)供給。至少吐出機構(21)、鍍層液供給機構(30)及氣體供給機構(170)係藉由控制機構(160)控制。
简体摘要: 本发明之课题在于提供可以有效率地加热基板,同时防止在排出的镀层液混入温度调节水等,可以使镀层液容易地再利用之镀层处理设备。本发明之解决手段之镀层处理设备(20),具备保持基板(W)的基板保持机构(110),朝向被保持于基板保持机构(110)的基板(W)吐出镀层液(35)的吐出机构(21),以及被连接于吐出机构(21),对吐出机构(21)供给镀层液(35)的镀层液供给机构(30)。气体供给机构(170),加热比热容量比空气还高的加热用气体(G)而朝向被保持于基板保持机构(110)的基板(W)供给。至少吐出机构(21)、镀层液供给机构(30)及气体供给机构(170)系借由控制机构(160)控制。
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10.無電電鍍方法及設備 ELECTROLESS PLATING METHOD AND APPARATUS 审中-公开
简体标题: 无电电镀方法及设备 ELECTROLESS PLATING METHOD AND APPARATUS公开(公告)号:TW200831703A
公开(公告)日:2008-08-01
申请号:TW096136256
申请日:2007-09-28
CPC分类号: C23C18/1617 , C23C18/163 , C23C18/1678 , H01L21/67092
摘要: 本發明提供一種無電電鍍系統。該系統包含:一第一真空吸盤,用以支撐一第一晶圓;以及一第二真空吸盤,用以支撐一第二晶圓,以使該第二晶圓的一上表面相對於該第一晶圓的一上表面。該系統亦包含:一液體輸送系統,用以將一電鍍液輸送至該第一晶圓的上表面,其中因應於該電鍍液的輸送,使該第二晶圓的上表面接近該第一晶圓的上表面,俾能使該電鍍液接觸該兩上表面。本發明亦提供一種用以將一無電電鍍液施加至一基板的方法。
简体摘要: 本发明提供一种无电电镀系统。该系统包含:一第一真空吸盘,用以支撑一第一晶圆;以及一第二真空吸盘,用以支撑一第二晶圆,以使该第二晶圆的一上表面相对于该第一晶圆的一上表面。该系统亦包含:一液体输送系统,用以将一电镀液输送至该第一晶圆的上表面,其中因应于该电镀液的输送,使该第二晶圆的上表面接近该第一晶圆的上表面,俾能使该电镀液接触该两上表面。本发明亦提供一种用以将一无电电镀液施加至一基板的方法。
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