晶片埋入式電路板結構及其製造方法
    3.
    发明专利
    晶片埋入式電路板結構及其製造方法 审中-公开
    芯片埋入式电路板结构及其制造方法

    公开(公告)号:TW201813466A

    公开(公告)日:2018-04-01

    申请号:TW105128453

    申请日:2016-09-02

    IPC分类号: H05K1/18 H05K3/46

    摘要: 一種晶片埋入式電路板結構包含多層板及埋置於多層板內的功率模組。功率模組包括絕緣基材、被絕緣基材包覆的功率單元、及設置於絕緣基材表面的線路層。所述功率單元包括有電熱傳導座以及多個功率晶片,電熱傳導座包含有傳導部及垂直地相連於傳導部的承載部,而每個功率晶片具有位於相反側的第一電極層與第二電極層,上述多個第一電極層固定且並聯地電性連接於承載部,並且所述多個功率晶片位於傳導部的一側。線路層電性連接於所述電熱傳導座與多個所述功率晶片的第二電極層,以使功率模組能通過線路層與電熱傳導座而測試每個功率晶片。

    简体摘要: 一种芯片埋入式电路板结构包含多层板及埋置于多层板内的功率模块。功率模块包括绝缘基材、被绝缘基材包覆的功率单元、及设置于绝缘基材表面的线路层。所述功率单元包括有电热传导座以及多个功率芯片,电热传导座包含有传导部及垂直地相连于传导部的承载部,而每个功率芯片具有位于相反侧的第一电极层与第二电极层,上述多个第一电极层固定且并联地电性连接于承载部,并且所述多个功率芯片位于传导部的一侧。线路层电性连接于所述电热传导座与多个所述功率芯片的第二电极层,以使功率模块能通过线路层与电热传导座而测试每个功率芯片。

    板檢測方法 BOARD INSPECTION METHOD
    7.
    发明专利
    板檢測方法 BOARD INSPECTION METHOD 审中-公开
    板检测方法 BOARD INSPECTION METHOD

    公开(公告)号:TW201245706A

    公开(公告)日:2012-11-16

    申请号:TW100141424

    申请日:2011-11-14

    发明人: 鄭仲基

    IPC分类号: G01N G01R

    摘要: 一建立一終端的一梢端區位之方法係包括:藉由測量一板的高度,該板上係安裝一具有一終端及一體部之組件,及將經測量的測量高度與一預定參考高度作比較藉以建立一虛擬梢端線,沿著終端的一縱向方向相對於終端的一寬度方向建立一中央線,以及從虛擬梢端線與中央線的一交點沿著中央線利用測量高度建立終端的一梢端區位。因此,可較正確地獲取一終端的一梢端區位。

    简体摘要: 一创建一终端的一梢端区位之方法系包括:借由测量一板的高度,该板上系安装一具有一终端及一体部之组件,及将经测量的测量高度与一预定参考高度作比较借以创建一虚拟梢端线,沿着终端的一纵向方向相对于终端的一宽度方向创建一中央线,以及从虚拟梢端线与中央线的一交点沿着中央线利用测量高度创建终端的一梢端区位。因此,可较正确地获取一终端的一梢端区位。