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    Memory cell without halo implant
    1.
    发明授权
    Memory cell without halo implant 有权
    无光晕植入的记忆细胞

    公开(公告)号：US07355246B2

    公开(公告)日：2008-04-08

    申请号：US11268430

    申请日：2005-11-07

    申请人： Ali Keshavarzi ,  Stephen H. Tang ,  Dinesh Somasekhar ,  Fabrice Paillet ,  Muhammad M. Khellah ,  Yibin Ye ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    发明人： Ali Keshavarzi ,  Stephen H. Tang ,  Dinesh Somasekhar ,  Fabrice Paillet ,  Muhammad M. Khellah ,  Yibin Ye ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    IPC分类号： H01L29/76

    CPC分类号： G11C11/404 ,  G11C2211/4016 ,  H01L27/0207 ,  H01L27/0214 ,  H01L27/105 ,  H01L27/1052 ,  H01L27/108

    摘要： Some embodiments provide a memory cell comprising a body region doped with charge carriers of a first type, a source region disposed in the body region and doped with charge carriers of a second type, and a drain region disposed in the body region and doped with charge carriers of the second type. According to some embodiments, the body region, the source region, and the drain region are oriented in a first direction, the body region and the source region form a first junction, and the body region and the drain region form a second junction. Moreover, a conductivity of the first junction from the body region to the source region in a case that the first junction is unbiased is substantially less than a conductivity of the second junction from the body region to the drain region in a case that the second junction is unbiased. Some embodiments further include a transistor oriented in a second direction, wherein the second direction is not parallel to the first direction.

    摘要翻译： 一些实施例提供一种存储单元，其包括掺杂有第一类型的电荷载体的体区，设置在体区中的源极区，并掺杂有第二类型的电荷载流子，以及设置在体区中的掺杂电荷 第二种载体。 根据一些实施例，身体区域，源区域和漏极区域在第一方向上定向，身体区域和源区域形成第一结，并且体区域和漏区域形成第二结。 此外，在第一结无偏置的情况下，从体区到源极区的第一结的导电率基本上小于从体区到漏区的第二结的导电率，在第二结 是不偏不倚的 一些实施例还包括在第二方向上取向的晶体管，其中第二方向不平行于第一方向。

    Floating-body memory cell write
    7.
    发明授权
    Floating-body memory cell write 有权
    浮体记忆单元写

    公开(公告)号：US07061806B2

    公开(公告)日：2006-06-13

    申请号：US10954931

    申请日：2004-09-30

    申请人： Stephen H. Tang ,  Ali Keshavarzi ,  Dinesh Somasekhar ,  Fabrice Paillet ,  Muhammad M. Khellah ,  Yibin Ye ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    发明人： Stephen H. Tang ,  Ali Keshavarzi ,  Dinesh Somasekhar ,  Fabrice Paillet ,  Muhammad M. Khellah ,  Yibin Ye ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    IPC分类号： G11C11/34

    CPC分类号： G11C16/12 ,  G11C11/4076 ,  G11C2216/14

    摘要： A system to write to a plurality of memory cells coupled to a word line, each of the plurality of memory cells comprising a transistor having a source, a drain, a body and a gate coupled to the word line. Some embodiments provide biasing of one or more of the plurality of memory cells in saturation to inject charge carriers into the body of the one or more of the plurality of memory cells, and biasing of each of the plurality of memory cells in accumulation to tunnel charge carriers from the body of each of the plurality of memory cells to the gate of each of the plurality of memory cells.

    摘要翻译： 一种写入耦合到字线的多个存储单元的系统，所述多个存储器单元中的每一个包括具有耦合到所述字线的源极，漏极，主体和栅极的晶体管。 一些实施例提供饱和中的多个存储单元中的一个或多个的偏置以将电荷载流子注入多个存储单元中的一个或多个存储器单元的主体中，并且将多个存储单元中的每一个的累积偏压到隧道电荷 载体从多个存储单元的每一个的主体到多个存储单元中的每一个的门。

    Noise suppression for open bit line DRAM architectures
    8.
    发明授权
    Noise suppression for open bit line DRAM architectures 有权
    开放位线DRAM架构的噪声抑制

    公开(公告)号：US06721222B2

    公开(公告)日：2004-04-13

    申请号：US10300398

    申请日：2002-11-19

    申请人： Dinesh Somasekhar ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    发明人： Dinesh Somasekhar ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    IPC分类号： G11C702

    CPC分类号： G11C11/4097 ,  G11C7/02 ,  G11C11/4094

    摘要： An open bit line dynamic random access memory (DRAM) architecture uses a multiple layer bit line configuration to reduce coupling between switching bit lines in the device. In one approach, each successive cell within a row of DRAM cells is coupled to a bit line segment that is on a different metallization layer than a previous cell in the row. Shielding members are also provided between adjacent bit lines on a common metallization layer to further reduce noise coupling. Functionality is also provided for reducing the effect of word line to bit line coupling in the DRAM device using dummy signal injection techniques. In this manner, common mode noise that could otherwise saturate one or more sense amplifiers within the DRAM device is reduced or eliminated before such saturation can take place. In one approach, dummy cells and reference cells are provided for use in performing the signal injection. The principles of the present invention are particularly well suited for use within embedded DRAM structures where low charge storage capacity within individual cells reduces the signal voltage levels that are achievable.

    摘要翻译： 开放式位线动态随机存取存储器（DRAM）架构使用多层位线配置来减少器件中的开关位线之间的耦合。 在一种方法中，DRAM单元行内的每个连续单元被耦合到位于与行中的先前单元格不同的金属化层上的位线段。 屏蔽构件也设置在公共金属化层上的相邻位线之间，以进一步减少噪声耦合。 还提供了功能，用于使用虚拟信号注入技术来减少DRAM设备中字线对位线耦合的影响。 以这种方式，在这种饱和可能发生之前，可以减少或消除在DRAM装置内可以饱和一个或多个感测放大器的共模噪声。 在一种方法中，提供虚拟单元和参考单元用于执行信号注入。 本发明的原理特别适用于嵌入式DRAM结构，其中各个单元内的低电荷存储容量降低了可实现的信号电压电平。

    Multiple word-line accessing and accessor
    9.
    发明授权
    Multiple word-line accessing and accessor 有权
    多个字线访问和访问器

    公开(公告)号：US06567329B2

    公开(公告)日：2003-05-20

    申请号：US09941053

    申请日：2001-08-28

    申请人： Dinesh Somasekhar ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    发明人： Dinesh Somasekhar ,  Shih-Lien L. Lu ,  Vivek K. De

    IPC分类号： G11C702

    CPC分类号： G11C11/408 ,  G11C11/4097

    摘要： The word-lines and/or bit-lines in a memory are physically arranged to reduce capacitive coupling between signal lines and reference lines. In one embodiment the two bit lines connected to a single sense amplifier are physically separated from each other by bit lines connected to other sense amplifiers. In another embodiment the word-lines are separated from each other by placing them in different metallization layers. In a particular embodiment a single word-line has different portions disposed in different metallization layers.

    摘要翻译： 物理地布置存储器中的字线和/或位线以减少信号线和参考线之间的电容耦合。 在一个实施例中，连接到单个读出放大器的两个位线通过连接到其它读出放大器的位线彼此物理分离。 在另一个实施例中，字线通过将它们放置在不同的金属化层中而彼此分离。 在特定实施例中，单个字线具有设置在不同金属化层中的不同部分。