公开(公告)号：US20080212089A1

公开(公告)日：2008-09-04

申请号：US12069997

申请日：2008-02-14

申请人： Eliezer Rosengaus

发明人： Eliezer Rosengaus

IPC分类号： G01J3/00 ,  G01B9/02

CPC分类号： G01J3/453 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/211 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/213

摘要： A method and apparatus for improved defocus detection on wafers. The use of hyperspectral imaging provides increased sensitivity for local defocus defects, and the use of Fourier Space analysis provides increased sensitivity for extended defocus defects. A combination of the two provides improved overall sensitivity to local and extended defocus defects.

摘要翻译： 一种用于改善晶片上散焦检测的方法和装置。 使用高光谱成像可以提高局部散焦缺陷的灵敏度，并且使用傅立叶空间分析可以提供延长散焦缺陷的灵敏度。 两者的组合提供了对局部和扩展的散焦缺陷的总体灵敏度的改善。

公开(公告)号：US07181368B1

公开(公告)日：2007-02-20

申请号：US10967419

申请日：2004-10-18

申请人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

发明人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

IPC分类号： G06F11/30

CPC分类号： G05B19/41855 ,  G05B2219/37224

摘要： An inspection system for detecting anomalies on a substrate. The inspection system has a sensor array for generating image data. A first high speed network is coupled to the sensor array and receives and communicates the image data. An array of process nodes is coupled to the first high speed network, and receives and processes the image data to produce anomaly reports. Each process node has an interface card coupled to the first high speed network, that receives the image data from the first high speed network and formats the image data according to a high speed interface bus protocol. The interface card sets a register indicating whether a predetermined amount of image data has been stored in a memory, and the process node reads the register to determine whether the predetermined amount of image data has been stored in the memory, and initiates image processing when the register indicates that the predetermined amount of image data has been stored in the memory.

摘要翻译： 用于检测基板上的异常的检查系统。 检查系统具有用于生成图像数据的传感器阵列。 第一高速网络耦合到传感器阵列并接收并传送图像数据。 一系列过程节点耦合到第一高速网络，并接收和处理图像数据以产生异常报告。 每个处理节点具有耦合到第一高速网络的接口卡，其接收来自第一高速网络的图像数据，并且根据高速接口总线协议格式化图像数据。 接口卡设置表示预定量的图像数据是否已经存储在存储器中的寄存器，并且处理节点读取寄存器以确定预定量的图像数据是否已被存储在存储器中，并且当 寄存器指示预定量的图像数据已被存储在存储器中。

公开(公告)号：US5653539A

公开(公告)日：1997-08-05

申请号：US236404

申请日：1994-05-02

申请人： Eliezer Rosengaus

发明人： Eliezer Rosengaus

IPC分类号： G01K11/20 ,  G01K3/04 ,  G01K3/06

CPC分类号： G01K11/20 ,  Y10S252/962

摘要： A method and apparatus for measuring the temperature profile of a surface exhibiting spatial and/or temporal variations in temperature, e.g., the surface of a machine or a biological system, is disclosed. The inventive method involves forming a layer of chemiluminescent material in thermal contact with the surface. The chemiluminescent activity is selected to be a function of temperature by suitable dye choices. The resulting luminescence is detected.

摘要翻译： 公开了一种用于测量表现出空间和/或时间温度变化的表面的温度分布的方法和装置，例如机器或生物系统的表面。 本发明的方法包括形成与表面热接触的化学发光材料层。 通过合适的染料选择将化学发光活性选择为温度的函数。 检测出所得到的发光。

公开(公告)号：US09068917B1

公开(公告)日：2015-06-30

申请号：US11374711

申请日：2006-03-14

申请人： Mehdi Vaez-Iravani ,  Eliezer Rosengaus

发明人： Mehdi Vaez-Iravani ,  Eliezer Rosengaus

IPC分类号： G01N21/00 ,  G01N21/88

CPC分类号： G01N21/00 ,  G01N21/88 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/8825

摘要： Systems and methods for inspection of a specimen are provided. One system includes an illumination subsystem configured to illuminate the specimen by scanning a spot across the specimen. The system also includes a non-imaging detection subsystem configured to generate output signals responsive to light specularly reflected from the spot scanned across the specimen. In addition, the system includes a processor configured to generate images of the specimen using the output signals and to detect defects on the specimen using the images. In one embodiment, the non-imaging detection subsystem includes an objective and a detector. An NA of the objective does not match a pixel size of the detector. In another embodiment, the non-imaging detection subsystem includes an objective having an NA of greater than about 0.05. The system may be configured for multi-spot illumination and multi-channel detection. Alternatively, the system may be configured for single spot illumination and multi-channel detection.

摘要翻译： 提供了用于检查样本的系统和方法。 一个系统包括照明子系统，该照明子系统被配置为通过扫描样品上的斑点照射样本。 该系统还包括非成像检测子系统，其被配置为响应于从穿过样本扫描的点镜面反射的光产生输出信号。 另外，该系统包括处理器，该处理器被配置为使用输出信号产生样本的图像，并使用该图像来检测样本上的缺陷。 在一个实施例中，非成像检测子系统包括物镜和检测器。 目标的NA与检测器的像素尺寸不匹配。 在另一个实施例中，非成像检测子系统包括具有大于约0.05的NA的物镜。 该系统可以被配置用于多点照明和多通道检测。 或者，该系统可以被配置用于单点照明和多通道检测。

公开(公告)号：US07379838B2

公开(公告)日：2008-05-27

申请号：US11530153

申请日：2006-09-08

申请人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

发明人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

IPC分类号： G06F15/00

CPC分类号： G06T1/0007 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N2021/8825 ,  G01R31/311

摘要： An inspection system for detecting anomalies on a substrate. A first network is coupled to a sensor array and communicates data. Process nodes are coupled to the first network, and process the data to produce reports. Each process node has an interface card that formats the data for a high speed interface bus that is coupled to the interface card. A computer receives and processes the data to produce the report. A second network receives the reports. A job manager is coupled to the second network, receives the reports, and sends information to the process nodes to coordinate processing of the data.

摘要翻译： 用于检测基板上的异常的检查系统。 第一网络耦合到传感器阵列并传送数据。 过程节点耦合到第一个网络，并处理数据以生成报告。 每个进程节点都有一个接口卡，格式化耦合到接口卡的高速接口总线的数据。 计算机接收并处理数据以生成报告。 第二个网络接收报告。 作业管理器耦合到第二网络，接收报告，并将信息发送到处理节点以协调数据的处理。

公开(公告)号：US07251586B2

公开(公告)日：2007-07-31

申请号：US11314627

申请日：2005-12-21

申请人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

发明人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

IPC分类号： G21C17/00 ,  G06F11/30 ,  G06F15/00

CPC分类号： G06T7/0004 ,  G06T2207/30148

摘要： An inspection system for detecting anomalies on a substrate. A first network is coupled to the sensor array and communicates image data. Process nodes are couple to the first network, and process the data to produce reports. Each process node has an interface card that formats the data for a high speed interface bus that is coupled to the interface card. A computer receives and processes the data to produce the report. A second network receives the reports from the process nodes. A job manager is coupled to the second network, and receives the reports from the process nodes and sends information to the process nodes to coordinate the processing of the data in the process nodes.

摘要翻译： 用于检测基板上的异常的检查系统。 第一网络耦合到传感器阵列并传送图像数据。 过程节点耦合到第一个网络，并处理数据以生成报告。 每个进程节点都有一个接口卡，格式化耦合到接口卡的高速接口总线的数据。 计算机接收并处理数据以生成报告。 第二个网络从进程节点接收报告。 作业管理器耦合到第二个网络，并从进程节点接收报告，并向进程节点发送信息以协调进程节点中数据的处理。

公开(公告)号：US07076390B1

公开(公告)日：2006-07-11

申请号：US10967397

申请日：2004-10-18

申请人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

发明人： Krishnamurthy Bhaskar ,  Mark J. Roulo ,  John S. Taylor ,  Lawrence R. Miller ,  Paul T. Russell ,  Jason Z. Lin ,  Eliezer Rosengaus ,  Richard M. Wallingford ,  Kishore Bubna

IPC分类号： G06F15/00

CPC分类号： G01N21/95607 ,  G06T7/0004

摘要： An inspection system for detecting anomalies on a substrate. A first network is coupled to a sensor array and communicates data. Process nodes are coupled to the first network, and process the data to produce reports. Each process node includes memory sufficient to buffer the data until it can process the data. Each process node has an interface card that formats the data for a high speed interface bus that is coupled to the interface card. A computer receives and processes the data to produce the report. A second network receives the reports. A job manager is coupled to the second network, receives the reports, and sends information to the process nodes to coordinate processing of the data.

摘要翻译： 用于检测基板上的异常的检查系统。 第一网络耦合到传感器阵列并传送数据。 过程节点耦合到第一个网络，并处理数据以生成报告。 每个进程节点包括足以缓冲数据的内存，直到它能够处理数据。 每个进程节点都有一个接口卡，格式化耦合到接口卡的高速接口总线的数据。 计算机接收并处理数据以生成报告。 第二个网络接收报告。 作业管理器耦合到第二网络，接收报告，并将信息发送到处理节点以协调数据的处理。

公开(公告)号：US07719677B2

公开(公告)日：2010-05-18

申请号：US12069997

申请日：2008-02-14

申请人： Eliezer Rosengaus

发明人： Eliezer Rosengaus

IPC分类号： G01J3/00

CPC分类号： G01J3/453 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/2823 ,  G01N21/211 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/213

摘要： A method and apparatus for improved defocus detection on wafers. The use of hyperspectral imaging provides increased sensitivity for local defocus defects, and the use of Fourier Space analysis provides increased sensitivity for extended defocus defects. A combination of the two provides improved overall sensitivity to local and extended defocus defects.

摘要翻译： 一种用于改善晶片上散焦检测的方法和装置。 使用高光谱成像可以提高局部散焦缺陷的灵敏度，并且使用傅立叶空间分析可以提供延长散焦缺陷的灵敏度。 两者的组合提供了对局部和扩展的散焦缺陷的总体灵敏度的改善。

公开(公告)号：US07417724B1

公开(公告)日：2008-08-26

申请号：US11746884

申请日：2007-05-10

申请人： Paul Sullivan ,  George Kren ,  Eliezer Rosengaus ,  Patrick Huet ,  Robinson Piramuthu ,  Martin Plihal ,  Yan Xiong

发明人： Paul Sullivan ,  George Kren ,  Eliezer Rosengaus ,  Patrick Huet ,  Robinson Piramuthu ,  Martin Plihal ,  Yan Xiong

IPC分类号： G01N21/88 ,  G06K9/00

CPC分类号： G01N21/9501 ,  G01N21/9503 ,  H01L21/67005 ,  H01L21/67288

摘要： Wafer inspection systems and methods are provided. One inspection system includes a module measurement cell coupled to a host inspection system by a wafer handler. The module measurement cell is configured to inspect a wafer using one or more modes prior to inspection of the wafer by the host inspection system. The one or more modes include backside inspection, edge inspection, frontside macro defect inspection, or a combination thereof. Another inspection system includes two or more low resolution electronic sensors arranged at multiple viewing angles. The sensors are configured to detect light returned from a wafer substantially simultaneously. A method for analyzing inspection data includes selecting a template corresponding to a support device that contacts a backside of a wafer prior to inspection of the backside of the wafer. The method also includes subtracting data representing the template from inspection data generated by inspection of the backside of the wafer.

摘要翻译： 提供晶圆检查系统和方法。 一个检查系统包括通过晶片处理器耦合到主机检查系统的模块测量单元。 模块测量单元被配置为在主机检查系统检查晶片之前使用一种或多种模式来检查晶片。 一种或多种模式包括后侧检查，边缘检查，前侧宏观缺陷检查或其组合。 另一种检查系统包括以多个视角布置的两个或多个低分辨率电子传感器。 传感器被配置为基本上同时检测从晶片返回的光。 用于分析检查数据的方法包括在检查晶片的背面之前选择与支撑装置相对应的模板，所述支撑装置接触晶片的背面。 该方法还包括从通过检查晶片的背面产生的检查数据中减去表示模板的数据。

公开(公告)号：US07280197B1

公开(公告)日：2007-10-09

申请号：US10992419

申请日：2004-11-17

申请人： Eliezer Rosengaus

发明人： Eliezer Rosengaus

IPC分类号： G01N22/88

CPC分类号： G01N21/9503 ,  G01N21/8806

摘要： A wafer edge inspection system utilizes a novel camera and mirror arrangement which conveys the images of the various near-edge wafer regions in piecewise fashion to a linear sensor array on a single line-scan sensor. This system is low-cost and compact, and may be integrated into various wafer handling or processing machines or systems.

摘要翻译： 晶片边缘检查系统利用新颖的相机和镜子布置，其将各种近边缘晶片区域的图像以分段方式传送到单个线扫描传感器上的线性传感器阵列。 该系统是低成本和紧凑的，并且可以集成到各种晶片处理或处理机器或系统中。