公开(公告)号：US06847218B1

公开(公告)日：2005-01-25

申请号：US10144676

申请日：2002-05-13

申请人： James E. Nulty ,  Brenor L. Brophy ,  Thomas A. McCleary ,  Bo Jin ,  Qi Gu ,  Thurman J. Rodgers ,  John O. Torode

发明人： James E. Nulty ,  Brenor L. Brophy ,  Thomas A. McCleary ,  Bo Jin ,  Qi Gu ,  Thurman J. Rodgers ,  John O. Torode

IPC分类号： G01R1/06 ,  G01R1/073 ,  G01R31/28 ,  H01L21/66 ,  G01R31/02 ,  G01R31/26

CPC分类号： G01R1/07378 ,  G01R1/07307

摘要： In one embodiment, an environment for testing integrated circuits includes a first die coupled to a tester. The first die includes a removable connection configured to couple a signal from the first die with an adapter layer to a second die being tested. The removable connection may be an elastomeric interposer or a probe, for example.

摘要翻译： 在一个实施例中，用于测试集成电路的环境包括耦合到测试器的第一管芯。 第一管芯包括被配置为将来自第一管芯的信号与适配器层耦合到被测试的第二管芯的可移除连接。 可移除连接可以是例如弹性体插入件或探针。