SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS EMPLOYING ANGULAR-RESOLVED SCATTERING AND SPECTRALLY RESOLVED MEASUREMENTS FOR CLASSIFICATION OF OBJECTS
    51.
    发明申请
    SYSTEMS, DEVICES, AND METHODS EMPLOYING ANGULAR-RESOLVED SCATTERING AND SPECTRALLY RESOLVED MEASUREMENTS FOR CLASSIFICATION OF OBJECTS 审中-公开
    使用角度分辨率散射的系统,设备和方法以及用于分类对象的光谱分辨率测量

    公开(公告)号:WO2014070642A1

    公开(公告)日:2014-05-08

    申请号:PCT/US2013/067025

    申请日:2013-10-28

    Applicant: TOKITAE LLC

    Abstract: Systems, devices, and methods are described for identifying, classifying, differentiating, etc., objects. For example a hyperspectral imaging system can include a dark-field module operably coupled to at least one of an optical assembly, a dark-field illuminator, and a hyperspectral imaging module. The dark-field module can include circuitry having one or more sensors operable to acquire one or more dark- field micrographs associated with scattered electromagnetic energy from an object interrogated by the dark-field interrogation stimulus. The hyperspectral imaging module can be operably coupled to the dark- field module, and can include circuitry configured to generate an angular-resolved and spectrally resolved scattering matrix based on the one or more dark-field micrographs of the object.

    Abstract translation: 描述了用于识别,分类,区分等对象的系统,设备和方法。 例如,高光谱成像系统可以包括可操作地耦合到光学组件,暗场照明器和高光谱成像模块中的至少一个的暗场模块。 暗场模块可以包括具有一个或多个传感器的电路,其可操作以从由暗场询问激励询问的物体获取与散射的电磁能相关联的一个或多个暗场显微照片。 高光谱成像模块可以可操作地耦合到暗场模块,并且可以包括被配置为基于对象的一个​​或多个暗场显微照片生成角度分辨和光谱分辨的散射矩阵的电路。

    MEASURING SYSTEM FOR DETERMINING REFLECTION CHARACTERISTIC OF SOLAR MIRROR MATERIALS AND METHOD FOR THE QUALITY DETERMINATION OF A MIRROR MATERIAL SAMPLE
    52.
    发明申请
    MEASURING SYSTEM FOR DETERMINING REFLECTION CHARACTERISTIC OF SOLAR MIRROR MATERIALS AND METHOD FOR THE QUALITY DETERMINATION OF A MIRROR MATERIAL SAMPLE 审中-公开
    测定太阳反射材料反射特性的测量系统和镜面材料样品质量测定方法

    公开(公告)号:WO2014023498A3

    公开(公告)日:2014-04-10

    申请号:PCT/EP2013064366

    申请日:2013-07-08

    Abstract: The invention relates to a measuring system (1) that is suitable in particular for determining reflection characteristics of solar mirror materials, comprising a mirror holder (17) for receiving a mirror material sample (19), a radiation detector (23) having an image sensor (25) and reception optics (27) for receiving light reflected by the mirror material sample (19), a cap (3) having an inner space (5) and a mirrored inner surface (7), wherein the mirrored inner surface (7) is designed in a semi-ellipsoid manner and has a first focal point (11) and a second focal point (13), wherein the first and the second focal point (11, 13) are arranged in the inner space (5) of the cap (3), wherein the mirror material sample (19) can be arranged in the first focal point (11) via the mirror holder (17) and the reception optics (27) of the radiation detector (23) is arranged in the second focal point (13), comprising a light source (35) and a radiation coupler (39) connected to the light source for producing a light beam (31) directed toward the mirror material sample (19), wherein the radiation input coupler (39) is arranged on a guide device (43) for guiding the radiation coupler (39) along a predetermined guide track (45), and wherein the cap (3) has at least one gap (29) or at least one transparent region, via which the light beam (31) can be introduced into the inner space (5) of the cap (3).

    Abstract translation: 的测量系统(1),这是特别适用于太阳能反射镜材料的反射特性的测定,具有用于与所述图像传感器(25)和接收光学系统(27)接收的反射镜材料样品(19),辐射探测器(23),用于接收一反射镜支架(17) 包括反射镜材料样品(19)的反射光,一个发动机罩(3)的内部空间(5)和一个镜像内表面(7),其中,所述镜像内表面(7)是半椭圆形和第一 焦点(11)和第二焦点(13),其特征在于,在内部的第一和第二焦点(11,13)的发动机罩(3)的布置(5),其中所述经由所述反射镜支架镜材料样品(19)(17 )(在第一焦点11)可被布置,并且在所述第二焦点的辐射探测器(23)的受光光学系统(27)(13)被布置(与光源35)和连接到一个(与光源35)海峡 定向ahlungseinkoppler(39),用于产生到反射镜材料样品(19)的光束(31),其特征在于,引导装置(43),用于沿预定的导向路径引导Strahlungseinkopplers(39)上的Strahlungseinkoppler(39)(45)被布置,并且其中 发光罩(3)具有至少一个凹部(29)或至少一个透明区域,光束(31)可以通过所述至少一个透光区域被引入到罩(3)的内部(5)中。

    MESSSYSTEM ZUR BESTIMMUNG VON REFLEXIONSCHARAKTERISTIKEN VON SOLARSPIEGELMATERIALIEN UND VERFAHREN ZUR QUALITÄTSBESTIMMUNG EINER SPIEGELMATERIALPROBE
    54.
    发明申请
    MESSSYSTEM ZUR BESTIMMUNG VON REFLEXIONSCHARAKTERISTIKEN VON SOLARSPIEGELMATERIALIEN UND VERFAHREN ZUR QUALITÄTSBESTIMMUNG EINER SPIEGELMATERIALPROBE 审中-公开
    测量系统用于确定太阳能反射镜材料和方法的反射特性用于确定镜面材质样品质量

    公开(公告)号:WO2014023498A2

    公开(公告)日:2014-02-13

    申请号:PCT/EP2013/064366

    申请日:2013-07-08

    Abstract: Ein Messsystem (1), das insbesondere zur Bestimmung von Reflexionscharakteristiken von Solarspiegelmaterialien geeignet ist, weist einen Spiegelhalter (17) zur Aufnahme einer Spiegelmaterialprobe (19), einen Strahlungsdetektor (23) mit Bildsensor (25) und einer Empfangsoptik (27) zur Aufnahme von von der Spiegelmaterialprobe (19) reflektiertem Licht, eine Haube (3), die einen Innenraum (5) und die eine verspiegelte Innenfläche (7) aufweist, auf, wobei die verspiegelte Innenfläche (7) semi-ellipsoid-förmig ausgebildet ist und einen ersten Brennpunkt (11) und einen zweiten Brennpunkt (13) aufweist, wobei der erste und der zweite Brennpunkt (11, 13) in dem Innenraum (5) der Haube (3) angeordnet sind, wobei die Spiegelmaterialprobe (19) über den Spiegelhalter (17) in dem ersten Brennpunkt (11) anordenbar ist und die Empfangsoptik (27) des Strahlungsdetektors (23) in dem zweiten Brennpunkt (13) angeordnet ist, mit einer Lichtquelle (35) und einem mit der Lichtquelle (35) verbundenen Strahlungseinkoppler (39) zur Erzeugung eines auf die Spiegelmaterialprobe (19) gerichteten Lichtstrahls (31), wobei der Strahlungseinkoppler (39) an einer Führungsvorrichtung (43) zur Führung des Strahlungseinkopplers (39) entlang einer vorgegebenen Führungsbahn (45) angeordnet ist, und wobei die Haube (3) mindestens eine Aussparung (29) oder mindestens einen transparenten Bereich aufweist, über den der Lichtstrahl (31) in den Innenraum (5) der Haube (3) einleitbar ist.

    Abstract translation: 的测量系统(1),这是特别适用于太阳能反射镜材料的反射特性的测定,具有用于与所述图像传感器(25)和接收光学系统(27)接收的反射镜材料样品(19),辐射探测器(23),用于接收一反射镜支架(17) 包括反射镜材料样品(19)的反射光,一个发动机罩(3)的内部空间(5)和一个镜像内表面(7),其中,所述镜像内表面(7)是半椭圆形和第一 焦点(11)和第二焦点(13),其特征在于,在内部的第一和第二焦点(11,13)的发动机罩(3)的布置(5),其中所述经由所述反射镜支架镜材料样品(19)(17 )(在第一焦点11)可被布置,并且在所述第二焦点的辐射探测器(23)的受光光学系统(27)(13)被布置(与光源35)和连接到一个(与光源35)海峡 定向ahlungseinkoppler(39),用于产生到反射镜材料样品(19)的光束(31),其特征在于,引导装置(43),用于沿预定的导向路径引导Strahlungseinkopplers(39)上的Strahlungseinkoppler(39)(45)被布置,并且其中 发动机罩(3)具有至少一个凹部(29)或至少一个透明部分,通过该光束被引入(31)到所述内部机罩(5)(3)。

    センサ装置
    55.
    发明申请
    センサ装置 审中-公开
    传感器设备

    公开(公告)号:WO2013065731A1

    公开(公告)日:2013-05-10

    申请号:PCT/JP2012/078156

    申请日:2012-10-31

    Inventor: 増田 雄治

    Abstract: 【課題】光検出精度の優れたセンサ装置を提供する。 【解決手段】一導電型の半導体材料から成り、一主面(2A)に並列に位置する第1領域(2a)および第2領域(2b)を有する基板(2)と、第1領域(2a)に設けられたフォトダイオード(5)と、第2領域(2b)に設けられた第1発光ダイオード(3)と第2発光ダイオード(4)と、第1発光ダイオード(3)と基板(2)の一主面(2A)の上方に位置する測定対象体との間に配置され、第1発光ダイオード(3)からの光を測定対象体に照射し、正反射光の一部をフォトダイオード(5)に導く第1光学系(8)と、第2発光ダイオード(4)と測定対象体との間に配置され、第2発光ダイオード(4)からの光を測定対象体に照射し、正反射光をフォトダイオード(5)を除く領域に導くとともに散乱反射光の一部をフォトダイオード(5)に導く第2光学系(9)とを有する。

    Abstract translation: [问题]提供能够进行高精度光检测的传感器装置。 [解决方案]传感器装置具有:包括第一导电型半导体材料并且具有在一个主表面(2A)上彼此平行布置的第一区域(2a)和第二区域(2b)的基板(2); 设置在所述第一区域(2a)中的光电二极管(5); 设置在第二区域(2b)中的第一发光二极管(3)和第二发光二极管(4); 第一光学系统(8),布置在位于基板(2)的一个主表面(2A)上方的第一发光二极管(3)和被测量物体之间,用来自 第一发光二极管(3),并将一部分规则反射光引导到光电二极管(5); 以及第二光学系统(9),布置在所述第二发光二极管(4)和被测量物体之间,用来自所述第二发光二极管(4)的光照射所述被测量物体,并且定期地引导 反射光到光电二极管(5)外部的区域,同时将一部分散射的反射光引导到光电二极管(5)。

    欠陥観察方法及びその装置
    56.
    发明申请
    欠陥観察方法及びその装置 审中-公开
    缺陷观察方法及其设备

    公开(公告)号:WO2012153652A1

    公开(公告)日:2012-11-15

    申请号:PCT/JP2012/061316

    申请日:2012-04-27

    Abstract:  検査装置の検査情報とレビュー装置で取得した観察情報とを用い、欠陥の高さ、屈折率、材質の情報を取得して欠陥材質・屈折率分析や、微細なパターン形状の三次元解析を行う方法、並びにこれを搭載した欠陥観察装置に関するものであって、光が照射された試料からの反射・散乱光を受光した検出器からの検出信号を処理して検出した検査結果の情報を用いて観察対象の欠陥が存在する位置を走査電子顕微鏡で撮像して画像を取得し、この取得した観察対象の欠陥の像を用いて欠陥のモデルを作成し、作成された欠陥のモデルに対して光を照射したときに欠陥モデルから発生する反射・散乱光を検出器で受光した場合のこの検出器の検出値を算出し、この算出した検出値と実際に試料からの反射・散乱光を受光した検出器の検出値とを比較して観察対象の欠陥の高さ又は材質又は屈折率に関する情報を求めるようにした。

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于获取缺陷高度,折射率和材料信息以执行有缺陷的材料和折射率的分析的方法,并且使用来自检查的检查信息来执行非常小的图案形状的三维分析 装置和观察信息。 通过扫描电子显微镜拍摄照片,利用来自检测器的检测信号的检测结果信息,获取观察到的缺陷的位置的图像,所述检测结果是从接收到由光照射的样本反射和散射的光的检测器处理。 使用所获取的观察缺陷图像创建缺陷的模型。 当光被照射到由此产生的缺陷模型上时,检测器检测到的值被计算为当从缺陷模型发射的反射和散射光被检测器接收时。 比较由此计算的检测值和检测器检测出的值,该检测器已经接收到从样品中实际反射和散射的光,以获得与观察缺陷的高度,材料或折射率有关的信息 。

    欠陥検査装置および欠陥検査方法
    57.
    发明申请
    欠陥検査装置および欠陥検査方法 审中-公开
    故障检测设备和故障检测方法

    公开(公告)号:WO2012014358A1

    公开(公告)日:2012-02-02

    申请号:PCT/JP2011/002810

    申请日:2011-05-20

    Abstract:  試料の表面におけるある一方向について照明強度分布が実質的に均一な照明光を、前記試料の表面に照射し、前記試料の表面からの散乱光のうち互いに異なる複数の方向に出射する複数の散乱光成分を検出して対応する複数の散乱光検出信号を得、前記複数の散乱光検出信号のうち少なくとも一つを処理して欠陥の存在を判定し、前記処理により欠陥と判定された箇所各々について対応する複数の散乱光検出信号のうち少なくとも一つを処理して欠陥の寸法を判定し、前記欠陥と判定された箇所各々について前記試料表面上における位置及び欠陥寸法を表示する欠陥検査方法を提案する。

    Abstract translation: 提出了一种故障检查方法,其中:在样品表面上照射具有在样品表面的一个方向上的基本均匀的照明强度分布的照明光; 在来自样品表面的散射光中检测多个独立方向输出的多个散射光分量,并获得多个相应的散射光检测信号; 处理多个散射光检测信号中的至少一个并确定故障的存在; 处理对应于由处理确定的每个点作为故障的多个散射光检测信号中的至少一个,并确定故障的尺寸; 并且显示在被确定为故障的每个点处的样品表面上的故障的位置和尺寸。

    TRÜBUNGSMESSGERÄT
    58.
    发明申请
    TRÜBUNGSMESSGERÄT 审中-公开
    浊度仪

    公开(公告)号:WO2010108804A1

    公开(公告)日:2010-09-30

    申请号:PCT/EP2010/053269

    申请日:2010-03-15

    CPC classification number: G01N21/49 G01N2021/4711 G01N2021/4726

    Abstract: Ein Trübungsmessgerät zum Bestimmen der Konzentration K j , einer Substanz S j in einem Medium, umfasst Messanordnungen, in welchen die Intensitäten von gestreutem Licht unter verschiedenen Winkeln erfasst und in aktuelle Werte mindestens einer ersten Messgröße M 1 und einer zweiten Messgröße M 2 umsetzbar sind, die unterschiedliche Abhängigkeiten von der Konzentration K j einer Substanz S j aufweisen (M i (K j ) = f i j (K j )), wobei das Trübungsmessgerät für mehrere Substanzen S j für die Messgrößen M i Kalibrierfunktionen g i j hinterlegt hat, mit denen jeweils eine Konzentration einer Substanz S j bestimmbar ist (K j = g i j (M i )), wobei das Trübungsmessgerät weiter eine Recheneinheit aufweist, welche geeignet ist die ermittelten Konzentrationswerte g a j (M a ), g b j (M b ), wobei a ≠ b für verschiedene Substanzen S j hinsichtlich ihrer Plausibilität zu bewerten und so eine plausible Substanz S j zu identifizieren bzw. die Plausibilität einer zuvor identifizierten oder vorgegebenen Substanz S j zu überprüfen.

    Abstract translation: 浊度计用于确定所述浓度KJ,在包括测量安排的介质的物质Sj的,其中检测的散射光的强度在不同的角度和被转换成具有不同的依赖关系的至少一个第一测量变量M1和第二测量值M2的电流值 浓度KJ的物质Sj的包括(MI(KJ)=的Fi j(KJ)),其中,对于多种物质Sj的用于测量参数祢校准的浊度计已沉积ĴGI,用其中的每一个被确定的物质Sj的浓度(KJ = GIĴ(MI)),其中,所述浊度计还包括运算单元,其是合适的,所确定的浓度值GAĴ(马),GBĴ(MB),其中? b Sj的各种物质在其可信性方面评价,因此确定一个合理的物质Sj的和来检查先前识别或预定物质Sj的似然性。

    MEASURING DEVICE FOR DETERMINING THE SIZE SIZE DISTRIBUTION AND AMOUNT OF PARTICLES IN THE NANOSCOPIC RANGE
    60.
    发明申请
    MEASURING DEVICE FOR DETERMINING THE SIZE SIZE DISTRIBUTION AND AMOUNT OF PARTICLES IN THE NANOSCOPIC RANGE 审中-公开
    测量装置,用于确定尺寸尺寸分布和数量粒子的IN纳米范围

    公开(公告)号:WO2007090378A3

    公开(公告)日:2007-11-15

    申请号:PCT/DE2007000218

    申请日:2007-02-02

    Abstract: The invention relates to a measuring device for determining the size, size distribution and/or concentration of nanoscopic particles or cavities in a sample for measurement, the turbidity of said samples or the roughness of surfaces, by means of determining the wavelength- and scattering angle-dependent intensities of a measurement beam dispersed from a sample for measurement, comprising a housing for a sample for measurement, a detector, with at least one detector input, an analyser and at least two radiation sources at a separation from each other and from the sample with a multi-wavelength spectrum or a continuous spectrum, the radiation intensities of which are adjustable and/or may be fixed, wherein each radiation source emits an essentially parallel radiation beam in the direction of a sample for measurement and the radiation beams from different radiation sources directed at the sample for measurement may be directed or aimed at the sample for measurement at differing angles with relation to the axis between the detector inlet and the sample for measurement. The invention also relates to a method for determining the heparin fraction in blood or blood serum samples.

    Abstract translation: 本发明涉及一种测量装置,用于确定尺寸,尺寸分布和/或纳米级的浓度看到测试样品中的颗粒或空隙,这样的测量样品的浊度程度或表面的粗糙度通过确定由测量样品测量辐射的散射的光的波长和散射角依赖性强度度 包括接收装置用于将被测量的测定试样,检测器包括至少一个检测器输入,评估单元和至少两个在每种情况下彼此间隔开,并且从试验样品隔开具有多波长光谱或连续光谱和辐射强度本辐射源可以被调节和/或确定 是,在这里可以通过在每种情况下,辐射源被测定基本上平行的光线的朝向样品光束和测量的发射 的不同的辐射源,相对于检测器和样品在不同的角度上的测试样品定向或入口之间的轴外光线的样品可定向光束可以被对齐。 此外,本发明涉及一种用于确定血液或血清样品中的肝素含量的方法。

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