Abstract:
Un procédé de transfert d'au moins une couche micro-technologique comporte des étapes selon lesquelles : - on prépare un premier substrat 20 comportant une couche poreuse 11 enterrée sous une surface utile à une distance non nulle, - on forme par implantation d'ions une zone fragilisée 13 entre cette couche poreuse et cette surface utile, - on colle le premier substrat sur un substrat support 30, - on provoque un détachement au niveau de la couche poreuse, par application d'une sollicitation mécanique, en sorte d'obtenir, d'une part, un reliquat du premier substrat et, d'autre part, une couche détachée solidaire du substrat support et comportant une surface mise à nu, - on effectue des étapes technologiques à la surface mise à nu de la couche détachée, - on colle la couche détachée, par la surface à laquelle des étapes technologiques ont été appliquées, à un second substrat support, - on provoque un détachement au niveau de la zone fragilisée, par application d'un traitement thermique, en sorte d'obtenir, d'une part, un reliquat de la couche détachée qui est solidaire du second substrat support et, d'autre part, un reliquat de cette couche détachée qui est solidaire du premier substrat support.
Abstract:
Procédé de détourage d'une couche mince reportée Le procédé comprenant les étapes suivantes: a)Fournir une structure composite (6)comprenant la couche mince (3) collée sur un substrat raidisseur (5) avec une énergie de collage, la couche mince (3) comprenant une région périphérique (8) et une région centrale (7), b)Appliquer une face adhésive d'un film autocollant (9)sur au moins la surface exposée de la région périphérique(8)avec une énergie d'adhésion supérieure à l'énergie de collage, c)Peler le film autocollant (9)de la couche mince (3)de sorte à arracher au moins une portion de la région périphérique (8),la région centrale (7) restant collée au substrat raidisseur (5).
Abstract:
L'invention concerne un procédé de traitement d'un film mince (1) transféré d'un substrat donneur vers un substrat récepteur par fracture au niveau d'une zone du substrat donneur fragilisée par implantation ionique d'hydrogène, le procédé comprenant une étape d'amincissement du film mince transféré (1) pour éliminer une région de défauts résiduels (11) induits par l'implantation ionique d'hydrogène, et étant caractérisé en ce qu'il comprend, directement après la fracture et avant l'étape d'amincissement du film mince transféré, une étape de formation d'une couche de piégeage d'hydrogène (13) dans la région de défauts résiduels du film mince transféré (1). Un traitement thermique peut être mis en œuvre après formation de la couche de piégeage d'hydrogène et avant amincissement du film mince.
Abstract:
La présente invention concerne un procédé de fabrication de structures pour cellule photovoltaïque à multi-jonctions et une structure obtenue par ce procédé, le procédé comprenant successivement les étapes de: a) Fournir un empilement comprenant successivement: un substrat support (1), une structure de multi-jonctions pour cellule photovoltaïque (2), et une couche métallique arrière (4), b) Former une pluralité de vias s'étendant depuis la couche métallique arrière (4) jusqu'à la face de la cellule photovoltaïque (2), c) Former une couche électriquement isolante (9) sur les flancs de la pluralité des vias, d) Former une couche métallique avant (8) sur la couche électriquement isolante, e) Fournir un substrat récepteur (200) sur lequel sont disposées deux pistes métalliques (6,6'), f) Connecter électriquement, la couche métallique avant (8) à la première piste métallique (6), g) Connecter électriquement, la couche métallique arrière (4) à la deuxième piste métallique (6'), h) Retirer le substrat support (1), i) Former des plots métalliques (12) à l'aplomb des vias et dans la continuité de la couche métallique avant de sorte à recouvrir partiellement une première couche dopée (7) en face avant des multi- jonctions, et j) Retirer des portions exposées de la première couche dopée (7) en face avant de sorte à former des motifs dopés recouverts par les plots métalliques (12) formés à l'étape i).
Abstract:
Le procédé est réalisé entre un premier substrat (1) comprenant une première couche d'un premier matériau et un second substrat (2) comprenant une seconde couche (6) d'un second matériau, le premier matériau et le second matériau étant de natures différentes et choisis parmi des alliages d'éléments des colonnes III et V, le procédé comprenant les étapes de: a) Fournir le premier substrat (1) et le second substrat (2), b) Mettre en contact le premier substrat (1) et le second substrat (2) de sorte à former une interface de collage (7) entre la première couche et la seconde couche (6), c) Effectuer un premier traitement thermique à une première température prédéfinie, d) Amincir l'un des substrats (1,2), e) Déposer, à une température inférieure ou égale à la première température prédéfinie, une couche barrière (8), sur le substrat (1,2) aminci, et f) Effectuer un second traitement thermique à une seconde température prédéfinie, supérieure à la première température prédéfinie.
Abstract:
Pour le détachement par fracture d'un film mince de silicium à partir d'un substrat de départ, on effectue une étape d'implantation d'espèces au sein du substrat de départ 10, au travers d'une face libre, en vue de la formation d'une couche de fragilisation 13, au moins une étape intermédiaire à une température d'au moins 450°C, avant et/ou après une étape optionnelle de solidarisation pour mettre la face libre en contact intime avec un raidisseur, puis une étape de détachement par fracture le long de la couche de fragilisation. L'étape d'implantation comporte une implantation de bore, une implantation d'hélium et une implantation d'hydrogène, dans un ordre quelconque, avec des énergies d'implantation telles qu'on obtient des maxima de concentration en hélium et en bore sensiblement à une même profondeur, avec un écart d'au plus 10 nm, ces maxima étant moins profonds que le maximum de concentration en hydrogène, et avec des doses d'implantation telles que la dose de bore est au moins égale à 5.10 13 B/cm 2 et la dose totale d'hélium et d'hydrogène est au moins égale à 10 16 atomes/cm 2 et au plus égale à 4.10 16 atomes/cm 2 , de préférence au plus égale à 3.10 16 atomes/cm 2 .