公开(公告)号：WO2016167259A1

公开(公告)日：2016-10-20

申请号：PCT/JP2016/061839

申请日：2016-04-12

Applicant: シャープ株式会社

Inventor： 井上　高広 ,  高田　敏幸

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  H01L31/10 ,  H01L31/12

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/32 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/44 ,  G01J3/513 ,  G01S17/026 ,  H01L31/10 ,  H01L31/12

Abstract: 近接センサとして動作させるか、照度センサとして動作させるかに応じて受光部に入射する光の指向特性を調整する。近接・照度センサ（５０）を近接センサとして動作させるか、または照度センサとして動作させるかに応じて、第１受光エリアおよび第２受光エリアの何れの受光感度を高くするかを選択する受光エリア選択部（１０１）を備える。

Abstract translation: 在本发明中，响应于光接收单元是作为接近传感器还是作为照度传感器而调节入射在光接收单元上的光的方向特性。 提供光接收区域选择单元（101），用于根据接近度/照度传感器（50）是作为接近传感器还是操作来选择是否增加第一光接收区域或第二光接收区域的光灵敏度，或者 作为照度传感器。

公开(公告)号：WO2016091639A1

公开(公告)日：2016-06-16

申请号：PCT/EP2015/078069

申请日：2015-11-30

Applicant: AMS AG

Inventor： JACOBS, Dan ,  DIERSCKE, Eugene G.

IPC: G01J1/42

CPC classification number: G01J1/1626 ,  G01J1/0492 ,  G01J1/32 ,  G01J3/513 ,  G01J3/524 ,  H01L31/02162

Abstract: An embodiment of a method for processing light sensor signals comprises illuminating a clear sensor (CS) and a color sensor (RS, GS, BS) of a light sensor system with a test light having a test spectrum. Therein the color sensor (RS, GS, BS) comprises an optical filter and is designed to sense light with a wavelength within a pass band of the filter and the test spectrum has components outside of the pass band. A clear test signal which is generated by the clear sensor (CS) and a color test signal which is generated by the color sensor (RS, GS, BS) are received. Then a first transmission value (T) is determined based on the clear test signal and on the color test signal. Finally, a compensation factor (Kr, Kg, Kb) is calculated based on the first transmission value (T) and on a nominal transmission value (Tn) of the filter.

Abstract translation: 用于处理光传感器信号的方法的实施例包括用具有测试光谱的测试光照射光传感器系统的透明传感器（CS）和颜色传感器（RS，GS，BS）。 其中，颜色传感器（RS，GS，BS）包括光学滤波器，并且被设计成感测具有滤波器的通带内的波长的光，并且测试光谱具有在通带之外的分量。 接收由清晰传感器（CS）产生的清晰测试信号和由颜色传感器（RS，GS，BS）生成的颜色测试信号。 然后，基于清晰测试信号和颜色测试信号确定第一传输值（T）。 最后，基于第一传输值（T）和滤波器的标称传输值（Tn）来计算补偿因子（Kr，Kg，Kb）。

公开(公告)号：WO2013159377A1

公开(公告)日：2013-10-31

申请号：PCT/CN2012/075064

申请日：2012-05-04

Applicant: 深圳市华星光电技术有限公司 ,  黄皓 ,  刘纯 ,  潘昶宏

Inventor： 黄皓 ,  刘纯 ,  潘昶宏

IPC: G02F1/13 ,  G01J1/10

CPC classification number: G01J1/32

Abstract: 一种背光模组的检测方法及装置，该背光模组的检测方法包括：获取设置在检测机台上的背光模组处于标准辉度时在检测机台的多个位置产生的空间照度值，并将该空间照度值作为标准空间照度值（S201）；获取背光模组在该多个位置产生的即时空间照度值（S202）；将即时空间照度值与标准空间照度值进行比较，从而判定背光模组是否异常（S203）。该检测方法采用照度测量仪替代辉度测量仪，节约了成本。还提供了一种背光模组的检测装置。

公开(公告)号：WO2013146619A1

公开(公告)日：2013-10-03

申请号：PCT/JP2013/058437

申请日：2013-03-22

Applicant: 株式会社メガチップス

Inventor： 浅見友順

IPC: H05B37/02

CPC classification number: H05B37/0218 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0242 ,  G01J1/0437 ,  G01J1/32 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4247 ,  H05B37/0245

Abstract: 　各灯具の識別情報と設置箇所とを、人手によらずに簡易かつ確実に関連付けることが可能な灯具特定装置を得る。灯具特定装置は、調光機能を有する複数の灯具（２Ａ～２Ｉ）が所定のエリア（１）内に設置された照明システムにおいて、各灯具（２）の識別情報と設置箇所とを関連付けるためにエリア（１）内の所定箇所に配置される灯具特定装置であって、通信によって各灯具の輝度を制御する制御部（２２）と、上記所定箇所における照度を検出する検出部（１０）と、照度と、上記所定箇所から各灯具（２）までの距離との相関情報を記憶する記憶部（１８）と、制御部（２２）によって一の探索対象灯具の輝度を規定量変化させ、それによって検出部（１０）が検出する照度の変化量を算出し、当該変化量と上記相関情報とに基づいて、複数の灯具（２Ａ～２Ｉ）の中から上記探索対象灯具を特定する処理部（２１）と、を備える。

Abstract translation: 本发明提供一种灯识别装置，其能够容易且可靠地将相应灯的识别信息和安装位置相关联，而不依赖于手工劳动。 灯识别装置被布置在预定区域（1）中的预定位置处，以便在其中具有光的多个灯（2A至2I）的照明系统内关联相应灯（2）的识别信息和安装位置 调整功能安装在区域（1）内。该设备配备有：通过通信控制每个灯的亮度的控制单元（22） 检测单元（10），用于检测预定位置处的照度; 存储单元（18），用于存储关于照度的相关信息和从预定位置到每个灯（2）的距离; 以及处理单元（21），用于将控制单元（22）的搜索目标的一个灯的亮度改变预定量，计算由其检测的检测单元（10）检测的照度的变化量，以及识别 基于变化量和相关信息，从多个灯（2A至2I）中搜索的灯。

公开(公告)号：WO2013146313A1

公开(公告)日：2013-10-03

申请号：PCT/JP2013/057264

申请日：2013-03-14

Applicant: シチズンホールディングス株式会社

Inventor： 井出　昌史 ,  小味山　剛男 ,  依田　薫

IPC: H01S5/022

CPC classification number: H01S5/02248 ,  B23K1/0016 ,  B23K31/02 ,  G01J1/32 ,  G02B19/0019 ,  G02B19/0028 ,  G02B27/1006 ,  G02B27/141 ,  H01S5/02292 ,  H01S5/4025 ,  H01S5/4093 ,  H05K3/303 ,  H05K13/0465

Abstract: 　厚み方向の段差によって第１の平面と第１の平面より低い位置に形成された第２の平面を有するシリコン基板と、第１の平面上に形成されたＡｕからなるマイクロバンプ構造を有する第１の接合部と、第２の平面上に形成されたＡｕからなるマイクロバンプ構造を有する第２の接合部と、第１の接合部に表面活性化技術で接合され、レーザ光を出射する第１の光素子と第２の光素子と、第２の接合部に当該技術で接合され、第１の光素子からのレーザ光を合波器へ向けて反射する反射部材と、第２の接合部に当該技術で接合され、第２の光素子からのレーザ光を直接受光し、第１の光素子からのレーザ光と第２の光素子からのレーザ光を合波する合波器と、を有し、第１の光素子と反射部材の間の距離と、第２の光素子と合波器の間の距離とを異ならせて、第１の光素子から合波器までの光路長と第２の光素子から合波器までの光路長とが等しくなるように設定されたレーザ光源装置。

Abstract translation: 本发明是一种激光光源装置，具有：具有第一平面和第二平面的硅基板，该第一平面和第二平面形成在比第一平面低的位置上，该厚度方向上的高度差; 具有形成在所述第一平坦表面上的Au的微型块结构的第一接合部; 具有形成在所述第二平坦表面上的Au的微型块结构的第二结; 用于发射激光的第一光学元件和第二光学元件，其通过表面激活技术连接到第一接合部; 反射构件，用于将来自第一光学元件的激光反射到多路复用器，反射构件通过上述技术接合到第二结; 以及多路复用器，用于直接从第二光学元件接收激光并将来自第一光学元件的激光和来自第二光学元件的激光多路复用，通过上述技术将多路复用器连接到第二结点; 采用这样一种配置，其中第一光学元件和反射构件之间的距离不同于第二光学元件和多路复用器之间的距离，并且从第一光学元件到多路复用器的光路的长度等于长度 从第二光学元件到多路复用器的光路。

公开(公告)号：WO2013116585A1

公开(公告)日：2013-08-08

申请号：PCT/US2013/024253

申请日：2013-02-01

Applicant: ILLINOIS TOOL WORKS INC.

Inventor： SCLIP, Marco ,  BORDIGNON, Davide

IPC: G01J1/32 ,  G01J1/42 ,  D06F39/00 ,  G01N21/53

CPC classification number: G01J1/32 ,  A47L15/4297 ,  D06F39/004 ,  G01J1/42 ,  G01N21/534

Abstract: Controlled optical sensor device (10; 100) comprising an optical emitter (21) generating optical radiation (23), in particular in the visible or infrared field, and an optical receiver (22) to detect said optical radiation (23) upon interaction with a medium to be measured (24), a driving current (CTU; Ip) of said optical emitter (21) setting the intensity of said radiation (23) being controlled by driving means (50, 40). According to the invention, this device comprises a circuit (30) for conditioning the output signal supplied by the optical receiver (22) including an amplifier (31) to which said output signal (52) of the optical receiver (22) is supplied as input voltage (Vin) of the amplifier (31), said amplifier (31) including a feedback network (310) configured to determine a gain (G) of the amplifier (31) and to supply a reference voltage (Vref), said amplifier (31) being configured together with said feedback network (31) to supply an output signal (Vo) of the amplifier (31) which is a function of the difference between the reference voltage and the difference, multiplied by the gain (G), between said reference voltage (Vref) and said input voltage (Vin) of the amplifier (31).

Abstract translation: 包括光发射器（21）的受控光学传感器装置（10; 100），特别是在可见光或红外场产生光辐射（23），以及光接收器（22），用于在与 要测量的介质（24），所述光发射器（21）的驱动电流（CTU; Ip）通过驱动装置（50,40）来控制所述辐射（23）的强度。 根据本发明，该装置包括用于调节由光接收器（22）提供的输出信号的电路（30），该电路包括放大器（31），光接收器（22）的所述输出信号（52）被提供给放大器， 放大器（31）的输入电压（Vin），所述放大器（31）包括被配置为确定放大器（31）的增益（G）并提供参考电压（Vref）的反馈网络（310），所述放大器 （31）与所述反馈网络（31）一起配置以提供放大器（31）的输出信号（Vo），其是参考电压和差值之间的差值乘以增益（G）的函数， 在所述参考电压（Vref）和所述放大器（31）的所述输入电压（Vin）之间。

公开(公告)号：WO2012069851A1

公开(公告)日：2012-05-31

申请号：PCT/GB2011/052333

申请日：2011-11-25

Applicant: STMICROELECTRONICS (RESEARCH & DEVELOPMENT) LIMITED ,  FINDLAY, Ewan

Inventor： FINDLAY, Ewan

IPC: G01J1/16 ,  G01J1/32

CPC classification number: G01J1/32 ,  G01J1/0209 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/1626 ,  G01J1/4204 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4242

Abstract: A radiation sensor is provided comprising: first and second pixels; and a radiation absorption filter positioned over the first pixel. The combined spectral response of the absorption filter and the first pixel have a first pixel pass-band and a first pixel stop-band. The radiation sensor further comprises an interference filter positioned over both the first and second pixels. The interference filter has a first interference filter pass-band substantially within the first pixel pass-band and a second interference filter pass-band substantially within the first pixel stop-band.

Abstract translation: 提供了一种辐射传感器，包括：第一和第二像素; 以及位于第一像素上方的辐射吸收滤光器。 吸收滤光器和第一像素的组合光谱响应具有第一像素通带和第一像素阻挡带。 辐射传感器还包括位于第一和第二像素两者上的干涉滤光器。 干涉滤波器具有基本上在第一像素通带内的第一干涉滤波器通带和基本上在第一像素阻带内的第二干涉滤波器通带。

公开(公告)号：WO2012054423A1

公开(公告)日：2012-04-26

申请号：PCT/US2011/056626

申请日：2011-10-18

Applicant: CASCADE MICROTECH, INC. ,  NEGISHI, Kazuki ,  HARRIS, Steve ,  STRID, Eric, W. ,  BOLT, Bryan

Inventor： NEGISHI, Kazuki ,  HARRIS, Steve ,  STRID, Eric, W. ,  BOLT, Bryan

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01J1/32 ,  G01J1/0242 ,  G01J1/0425 ,  G01J2001/0481 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/2635

Abstract: Systems and methods for simultaneous optical testing of a plurality of devices under test. These systems and methods may include the use of an optical probe assembly that includes a power supply structure that is configured to provide an electric current to a plurality of devices under test (DUTs) and an optical collection structure that is configured to simultaneously collect electromagnetic radiation that may be produced by the plurality of DUTs and to provide the collected electromagnetic radiation to one or more optical detection devices. The systems and methods also may include the use of the optical probe assembly in an optical probe system to evaluate one or more performance parameters of each of the plurality of DUTs.

Abstract translation: 用于同时光学测试多个待测设备的系统和方法。 这些系统和方法可以包括使用光学探针组件，该光学探针组件包括电源结构，该电源结构被配置为向被测试的多个被测设备（DUT）提供电流，以及被配置为同时收集电磁辐射的光学收集结构 其可以由多个DUT产生并且将收集的电磁辐射提供给一个或多个光学检测装置。 所述系统和方法还可以包括在光学探针系统中使用光学探针组件来评估多个DUT中的每一个的一个或多个性能参数。

公开(公告)号：WO2012033527A1

公开(公告)日：2012-03-15

申请号：PCT/US2011/001555

申请日：2011-09-08

Applicant: ENGSTRAND, Bradley, W. ,  PHAEDRUS, LLC

Inventor： ENGSTRAND, Bradley, W.

IPC: H05B37/02

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/0214 ,  G01J1/0271 ,  G01J1/32 ,  G01J1/4228 ,  G01J2001/4252

Abstract: A system and/or a method read, measure and/or control intensity of light emitted from a light-emitting diode (LED). A light detector may be located in a position adjacent to the LED for reading and/or measuring the intensity of light emitted from the LED. The LED and the light detector may be located in a cavity which may limit exposure of the LED and the light detector to ambient light. The cavity may have an aperture for allowing light emitted from the LED to exit the chamber to illuminate an environment in which the chamber is located. The aperture may be located between the cavity and a compartment, and the LED may emit light through the aperture into the compartment. An additional detector may be located in the compartment and/or may extend from the cavity through an additional aperture into the compartment.

Abstract translation: 系统和/或方法读取，测量和/或控制从发光二极管（LED）发射的光的强度。 光检测器可以位于与LED相邻的位置，用于读取和/或测量从LED发射的光的强度。 LED和光检测器可以位于可限制LED和光检测器暴露于环境光的空腔中。 空腔可以具有用于允许从LED发射的光离开室以照射室所在的环境的孔。 孔可以位于空腔和隔室之间，并且LED可以通过孔将光发射到隔室中。 附加的检测器可以位于隔室中和/或可以从空腔延伸通过另外的孔进入隔间。

公开(公告)号：WO2011045722A3

公开(公告)日：2011-06-23

申请号：PCT/IB2010054580

申请日：2010-10-11

Applicant: KONINKL PHILIPS ELECTRONICS NV ,  HIKMET RIFAT ATA MUSTAFA ,  VAN BOMMEL TIES ,  MEIJER EDUARD JOHANNES

Inventor： HIKMET RIFAT ATA MUSTAFA ,  VAN BOMMEL TIES ,  MEIJER EDUARD JOHANNES

IPC: G01J3/02 ,  G01J1/06 ,  G01J1/26 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G02B1/00

CPC classification number: G01J3/12 ,  F21K9/233 ,  F21V23/0442 ,  F21Y2101/00 ,  F21Y2113/13 ,  F21Y2115/10 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0488 ,  G01J1/06 ,  G01J1/32 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/28 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/51 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/1282 ,  G02B1/005 ,  G02B5/20 ,  G02B19/0028 ,  G02B19/0066 ,  G02B19/0085

Abstract: The present invention relates to a spectral detection device (100) for detecting spectral components of received light, wherein the spectral detection device (100) comprises a filtering structure (110) arranged to filter the received light and output light with a wavelength within a predetermined wavelength range; and a light sensor (120) arranged to detect the light output by the filtering structure (110), wherein the filtering structure (110) is variable to allow a variation of the predetermined wavelength range over time. The arrangement enables a compact spectral detection device that may be provided at a low cost.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于检测接收光的光谱分量的光谱检测装置（100），其中光谱检测装置（100）包括一个滤波结构（110），滤波结构（110）被布置成滤波所接收的光并输出波长在预定 波长范围 以及布置成检测由所述滤波结构（110）输出的光的光传感器（120），其中所述滤波结构（110）是可变的，以允许随着时间推移所述预定波长范围的变化。 该装置能够以低成本提供紧凑的光谱检测装置。