公开(公告)号：WO2018201238A1

公开(公告)日：2018-11-08

申请号：PCT/CA2018/050505

申请日：2018-04-30

申请人： CONCEPTION GÉNIK, INC.

发明人： DUBÉ, Inouk ,  LAMBERT, Louis-Philippe

IPC分类号： G01N21/952 ,  G01B11/00 ,  G01N21/89

CPC分类号： G01B11/10 ,  G01N21/8901 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/8909

摘要： A system for continuously imaging a surface of an object is provided. The system includes a drum mounted to a support frame and having an inner periphery and a hollow body for receiving the object therethrough. The hollow body has input end and output end sections, and a central rotation axis extending through the input and output end sections. The drum is drivable to rotate about the central rotation axis in a conveying mode. The system includes an optical assembly including a light source and a detector mounted to the drum, such that the optical assembly rotates along with the drum in the conveying mode. The system also includes a processor configured for processing a signal representative of a resulting light emanating from the object, thereby continuously generating an unwrapped image of the surface of the object and planarly representing the surface of the object.

公开(公告)号：WO2018132258A1

公开(公告)日：2018-07-19

申请号：PCT/US2017/068434

申请日：2017-12-26

申请人： SUNSPRING AMERICA, INC.

发明人： SHEPPARD, Scott, Steven ,  LAMBDIN, James, Richard

IPC分类号： G01B11/24 ,  G01N21/89 ,  G01N21/93 ,  G01N21/94 ,  G01N21/952

CPC分类号： G01N21/952 ,  G01N21/8806 ,  G01N2021/8809 ,  G01N2201/06113

摘要： A method comprises: directing a laser beam onto a side of a tube, wherein the side includes a defect; moving the tube with respect to the laser beam such that the laser beam beams onto the defect; sensing a reflection of the laser beam from the side based on the defect; computationally identifying a change between the laser beam and the reflection; computationally acting based on the change. The side can be internal or external. In other implementations, the laser beam is moved with respect to the tube such that the laser beam beams onto the defect.

公开(公告)号：WO2018100986A1

公开(公告)日：2018-06-07

申请号：PCT/JP2017/040210

申请日：2017-11-08

申请人： 住友電装株式会社

发明人： 近藤　誠二 ,  ▲高▼村　真共

IPC分类号： G01N21/952 ,  G01B11/02 ,  H01B13/012 ,  H01B7/00

CPC分类号： G01B11/02 ,  G01N21/95 ,  G01N21/952 ,  H01B7/00 ,  H01B13/012

摘要： コルゲートチューブが外装されているか否かを判別可能にする技術を提供することを目的とする。電線と、電線の周囲を覆う外装部品とを備えるワイヤーハーネスの検査方法であって、ワイヤーハーネスの検査対象部分を撮像し、撮像データを取得する撮像工程と、撮像データに基づいて電線の延在方向における画像の特徴量の周期性を求め、その周期性とコルゲートチューブの形状の周期性とに基づいて外装部品としてコルゲートチューブが外装されているか否かを判断する判断工程と、を備える。

公开(公告)号：WO2018051366A1

公开(公告)日：2018-03-22

申请号：PCT/IN2017/050397

申请日：2017-09-14

申请人： SPOOKFISH INNOVATIONS PRIVATE LIMITED

发明人： SUNDARAM, Sudeep ,  BALIKAI, Anupriya

IPC分类号： G01N21/00 ,  G05B19/418 ,  G06T7/00

CPC分类号： G05B19/418 ,  G01B11/06 ,  G01N21/85 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/93 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8592 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/32189 ,  G05B2219/32206 ,  G05B2219/32212 ,  Y02P90/22 ,  Y02P90/28

摘要： The invention provides a system and method for inspecting manufactured products. The system includes an inspection apparatus, which is in communication with a central processing unit, configured with inspection and self learning module. Initially, the inspection apparatus is fed with set of exemplary products through which the inspection module captures the product specification, dimensions and the surface details. The captured data is sent to the central processing unit, where it is converted into reference data. Further, different components of the inspection apparatus self calibrate based on the received reference data and examine the manufactured products, and as part of the examination, the apparatus rejects the products which do not the match with the reference data.

摘要翻译： 本发明提供了用于检查制造产品的系统和方法。 该系统包括检查装置，其与中央处理单元通信，配置有检查和自学习模块。 最初，检验设备被供应有一组示例性产品，检验模块通过该产品捕获产品规格，尺寸和表面细节。 捕获的数据被发送到中央处理单元，并转换为参考数据。 此外，检查设备的不同部件基于接收到的参考数据自我校准并检查制造的产品，并且作为检查的一部分，设备拒绝与参考数据不匹配的产品。

公开(公告)号：WO2016208626A1

公开(公告)日：2016-12-29

申请号：PCT/JP2016/068524

申请日：2016-06-22

申请人： JFEスチール株式会社

发明人： 大野　紘明 ,  楯　真沙美 ,  大重　貴彦 ,  児玉　俊文 ,  腰原　敬弘 ,  小川　晃弘 ,  飯塚　幸理

IPC分类号： G01N21/892

CPC分类号： G01N21/892 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/8816 ,  G01N2021/8918 ,  G01N2021/8924

摘要： 本発明に係る表面欠陥検出方法は、鋼材の表面欠陥を光学的に検出する表面欠陥検出方法であって、２つ以上の弁別可能な光源を利用して同一の検査対象部位に異なる方向から照明光を照射する照射ステップと、各照明光の反射光による画像を取得し、取得した画像間で差分処理を行うことによって検査対象部位における表面欠陥を検出する検出ステップと、を含み、検査対象部位に対する各光源の照明光の入射角が６０°以上８２．５°以下の範囲内にあることを特徴とする。

摘要翻译： 根据本发明的表面缺陷检测方法是用于光学检测钢材表面缺陷的方法，所述表面缺陷检测方法的特征在于具有照射步骤，其中使用至少两个可微分的光源照射照明 从不同方向对相同的检测对象位置进行光照射，并且通过获取由各照明光的反射光产生的图像，并对所获取的图像进行差分处理，来检测检测对象部位的表面缺陷的检测步骤， 其特征在于，来自各光源的照明光与检测对象部位的入射角在60°〜82.5°的范围内。

公开(公告)号：WO2016085781A1

公开(公告)日：2016-06-02

申请号：PCT/US2015/061728

申请日：2015-11-20

申请人： CORNING INCORPORATED

发明人： CITRINITI, Joseph, Henry ,  WALSH, Conor, James

IPC分类号： G01N21/952 ,  B28B3/26 ,  B29C47/00 ,  B29C47/92 ,  G01N21/956

CPC分类号： B28B17/0072 ,  B28B3/269 ,  B28B11/14 ,  B28B11/243 ,  B28B2003/203 ,  B29C47/0028 ,  B29C47/124 ,  B29C47/92 ,  B29C2947/92114 ,  B29C2947/92295 ,  B29C2947/92428 ,  B29C2947/92514 ,  B29C2947/92609 ,  B29C2947/92704 ,  B29C2947/92904 ,  B29L2031/608 ,  G01N21/952 ,  G01N21/95692 ,  G01N2201/06113

摘要： In-line inspection and control system to in-situ monitor an extrudate during extrusion. A light beam illuminates a line on the outside circumference of the extrudate skin recording the curvature. A master profile of the illuminated defect-free skin is recorded and compared to successive monitoring of the illuminated skin. Differences from the comparison indicate skin and/or shape defects. A real-time feedback to automatically adjust process control hardware reduces or eliminates the skin and shape defects based on the monitoring and comparison.

摘要翻译： 在线检测和控制系统，用于在挤出过程中原位监测挤出物。 光束照射记录曲率的挤出物皮肤的外周的线。 记录照明无缺陷皮肤的主体轮廓，并与连续监测照射皮肤进行比较。 与比较的差异表明皮肤和/或形状缺陷。 自动调整过程控制硬件的实时反馈可以根据监控和比较来减少或消除皮肤和形状缺陷。

公开(公告)号：WO2015069191A8

公开(公告)日：2015-08-06

申请号：PCT/SG2014000527

申请日：2014-11-10

申请人： SAEDGE VISION SOLUTIONS PTE LTD

发明人： CHIN AH KOW ,  HO CHOONG FATT ,  VERTOPRAKHOV VICTOR ,  WONG SOON WEI

IPC分类号： G01N21/01 ,  G01B11/00

CPC分类号： H01L22/14 ,  G01N21/8851 ,  G01N21/95 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/952 ,  H01L21/67288 ,  H01L22/12 ,  H01L24/48 ,  H01L2224/4809 ,  H01L2224/48227 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/181 ,  H01L2924/00 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2924/207

摘要： There is provided an apparatus and method for inspecting a semiconductor package. The apparatus includes at least one 3D camera positioned at a first angle relative to a normal axis of the semiconductor package; and a light source configured to provide illumination for the at least one 3D camera, the light source being directed at the semiconductor package. The method includes casting a shadow of a bonded wire onto the semiconductor package; obtaining a 3D image of the semiconductor package; determining a distance S of the shadow and the bonded wire in the image; and obtaining a wire loop height H of the bonded wire.

公开(公告)号：WO2015096874A1

公开(公告)日：2015-07-02

申请号：PCT/EP2013/078085

申请日：2013-12-27

申请人： SENSOFAR MEDICAL, S.L.

发明人： LAGUARTA BERTRAN, Ferran ,  BERMÚDEZ PORRAS, Carlos ,  ARTIGAS PURSALS, Roger ,  CADEVALL ARTIGUES, Cristina

IPC分类号： G01N21/952

CPC分类号： G01N21/952 ,  A61F2/82 ,  A61F2240/008 ,  G01B11/0675 ,  G01B11/2408 ,  G01N21/954 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/101 ,  G01N2201/104

摘要： The device (100) comprises means (200) for rotatably holding and positioning at least one stent-like object (400) and means (30E, 30B) for illuminating at least inner and outer surfaces (I, O) thereof comprising at least wide field epi illumination means (30E) and diffuse back illumination means (30B) for simultaneously illuminating the stent-like object (400). The illumination means may further comprise diffuse side illumination means (30S) for inspecting side surfaces (S) of the stent-like object (400). Means for acquiring images of the stent-like object (400) including at least one microscope objective lens (610) and at least one camera (620) are also provided.

摘要翻译： 装置（100）包括用于可旋转地保持和定位至少一个支架状物体（400）的装置（200）和用于至少对至少内部和外部表面（I，O）进行照明的装置（30E，30B） 场外照明装置（30E）和漫反射照明装置（30B），用于同时照射支架状物体（400）。 照明装置还可以包括用于检查支架状物体（400）的侧表面（S）的漫射侧照明装置（30S）。 还提供了用于获取包括至少一个显微镜物镜（610）和至少一个照相机（620）的支架样物体（400）的图像的装置。

公开(公告)号：WO2015086988A1

公开(公告)日：2015-06-18

申请号：PCT/FR2014/053250

申请日：2014-12-10

申请人： SHAKTI

发明人： CHAZALLET, Frédéric

IPC分类号： G03B37/00 ,  G03B17/02

CPC分类号： G02B13/06 ,  G01N21/85 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/8466 ,  G03B15/00 ,  G03B15/0442 ,  G03B17/17 ,  G03B37/00 ,  G03B37/02 ,  G03B37/04 ,  G06T1/0007

摘要： Dispositif (10) de prise d'images d'un objet (25), qui comporte : une optique réflective (11) s'étendant autour d'un axe de symétrie (13), présentant un évidemment centré sur l'axe de symétrie (13), et comportant au moins une surface réfléchissante (11) dirigée vers l'axe de symétrie (13); et au moins un imageur (18) agencé pour capter au moins une image d'au moins une partie de l'objet (25b) qui est réfléchie par la (ou les) surface(s) réfléchissante(s) (11) sensiblement parallèlement à l'axe de symétrie (13), lorsque l'optique réflective (11) est disposée autour de la partie de l'objet (25).

摘要翻译： 用于拍摄对象（25）的图像的装置（10），其包括：围绕对称轴（13）延伸的反射光学器件（11），其具有以对称轴（13）为中心的空腔，并且包括至少一个 指向对称轴（13）的反射表面（11）; 以及至少一个成像器（18），被布置成捕获所述物体（25b）的至少一部分的至少一个图像，所述图像被所述反射表面（11）反射，基本上平行于所述对称轴 （13）放置在所述物体（25）的所述部分周围时。

公开(公告)号：WO2014189566A1

公开(公告)日：2014-11-27

申请号：PCT/US2014/016663

申请日：2014-02-17

申请人： GII ACQUISITION, LLC DBA GENERAL INSPECTION, LLC

发明人： NYGAARD, Michael G.

IPC分类号： G01B11/24

CPC分类号： B07C5/3422 ,  B07C2501/0009 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/952 ,  G01N2021/845

摘要： High-speed, triangulation-based, 3-D method and system for inspecting manufactured parts and sorting the inspection parts are provided. A plurality of angularly-spaced, triangulation-based, sensor heads are located at an imaging station to simultaneously deliver focused lines of radiation onto a plurality of exterior side surfaces of the part during motion of the part relative to the focused lines to obtain corresponding arrays of reflected lines of radiation. The sensor heads simultaneously sense their corresponding arrays of reflected lines to obtain corresponding sets of 2-D profile signals. Each set of profile signals represent a 3-D view of one of the exterior side surfaces and the sets of 2-D profile signals represent a 360 panoramic composite 3-D view of the outer peripheral surface of the part.

摘要翻译： 提供了高速，三角测量，3-D方法和用于检查制造零件和分拣检查部件的系统。 多个基于角度间隔的基于三角测量的传感器头位于成像站处，以在部件相对于聚焦线的运动期间同时将聚焦的辐射线传送到部件的多个外侧表面上，以获得相应的阵列 反射线的辐射。 传感器头同时感测其对应的反射线阵列，以获得相应的二维轮廓信号。 每组轮廓信号表示其中一个外侧表面的3-D视图，并且2-D轮廓信号的集合表示部件的外周表面的360度全景复合三维视图。