光刻设备和操作光刻设备的方法

    公开(公告)号:CN107850851A

    公开(公告)日:2018-03-27

    申请号:CN201680039893.8

    申请日:2016-07-07

    IPC分类号: G03F7/20 G02B26/08

    摘要: 提出光刻设备(100),其包括:产生具有特定重复频率(f1)的辐射的辐射源(106A);在所述光刻设备(100)中引导所述辐射的光学部件(200);位移所述光学部件(200)的致动器装置(210);以及测量装置(230)。在此,测量装置(230)配置为通过具有特定测量信号频率(f2)的测量信号(S2)来确定所述光学部件(200)的位置,所述测量信号频率(f2)不等于所述重复频率(f1)且不等于所述重复频率(f1)的整数倍。因此,测量装置对于电流脉冲是不灵敏的,该电流脉冲由于辐射源的使用波长(例如0.1nm至30nm),由从光刻设备中的光学部件的表面或者从等离子体之中释放的电荷载流子来产生。进一步,提供操作光刻设备的方法。

    光刻设备和操作光刻设备的方法

    公开(公告)号:CN107850851B

    公开(公告)日:2021-03-30

    申请号:CN201680039893.8

    申请日:2016-07-07

    IPC分类号: G03F7/20 G02B26/08

    摘要: 提出光刻设备(100),其包括:产生具有特定重复频率(f1)的辐射的辐射源(106A);在所述光刻设备(100)中引导所述辐射的光学部件(200);位移所述光学部件(200)的致动器装置;以及测量装置(230)。在此,测量装置(230)配置为通过具有特定测量信号频率(f2)的测量信号(S2)来确定所述光学部件(200)的位置,所述测量信号频率(f2)不等于所述重复频率(f1)且不等于所述重复频率(f1)的整数倍。因此,测量装置对于电流脉冲是不灵敏的,该电流脉冲由于辐射源的使用波长(例如0.1nm至30nm),由从光刻设备中的光学部件的表面或者从等离子体之中释放的电荷载流子来产生。进一步,提供操作光刻设备的方法。