制冷红外探测器及其芯片的制造方法

    公开(公告)号:CN118116944A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410284921.9

    申请日:2024-03-13

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明公开了一种制冷红外探测器及其芯片的制造方法,属于半导体技术领域,该制冷红外探测器芯片的制造方法,包括以下步骤:提供一芯片,所述芯片上形成有若干铟柱,所述芯片为用于形成所述制冷红外探测器的器件芯片或读出电路芯片;在载体上形成光刻胶层,将所述载体具有光刻胶层的一侧设置在所述铟柱上进行压焊;去除所述光刻胶层,并移除所述载体。通过在载体上涂覆光刻胶,形成光刻胶层形成平整的表面,再将载体和芯片进行压焊,控制压焊的压力和时长,能够将高度不同的铟柱挤压到同一高度平面,进而提高铟柱的均匀性。

    半导体图形的形成方法及制冷红外探测器的制造方法

    公开(公告)号:CN116230505A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310254591.4

    申请日:2023-03-09

    摘要: 本发明提供一种半导体图形的形成方法及制冷红外探测器的制造方法,形成方法包括:提供基片,基片上覆盖有剥离材料层;形成光刻胶材料层覆盖剥离材料层,对光刻胶材料层执行第一前烘烤,并冷却预设时间后,再执行第二前烘烤;执行曝光工艺及显影工艺,去除部分光刻胶材料层及剥离材料层,以形成光刻胶图形及剥离图形,剥离图形相对光刻胶图形沿基片表面内缩形成侧向凹槽;执行镀膜工艺,形成半导体薄膜覆盖基片的表面及光刻胶图形的外壁,剩余的侧向凹槽作为剥离窗口;执行剥离工艺,形成半导体图形。本发明中,解决镀膜后半导体薄膜较难剥离及剥离后质量不佳的问题。