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公开(公告)号：CN117169260A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202311143966.6
申请日：2023-09-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N23/20008 , G01N1/28 , G01N1/32
Abstract: 本申请提供一种有铅合金的EBSD样品制备方法、装置、电子设备和存储介质，其中，有铅合金的EBSD样品制备方法包括控制自动研磨机对切片样品进行研磨和抛光等步骤，其中，切片样品基于有铅合金制成，自动研磨机的样品重量调整范围为0‑600克，切片样品在研磨和抛光过程中的增量为100克，自动研磨机的材料去除率为1微米，自动研磨机的研磨方式为摆动研磨，自动研磨机的抛光方式为变速旋转抛光、振荡抛光和负荷控制抛光。本申请能够实现有铅合金的EBSD样品的自动制备，与现有技术相比，本申请具有研磨力度均匀、磨削厚度可控和能够适应材料之间的软硬差别等优点，进而能够提高切片样本的研磨精度，从而得到符合要求的EBSD样品。
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公开(公告)号：CN113702276B
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202111115721.3
申请日：2021-09-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及环境监测技术领域，尤其是涉及一种腐蚀环境与腐蚀特征动态采集装置，其技术方案要点是包括放置箱、依次设置在放置箱内的打磨组件、清洗组件、烘干组件、处理组件以及称重器、设置在烘干组件和处理组件之间的放置台、设置在称重器一侧的机械手、设置在机械手下方带动机械手往复移动的移动组件以及控制器，控制器与机械手和称重器均为电连接；放置箱侧面铰接有开关门；这样的设计不仅实现了打磨、清洗以及烘干等前期处理的集合，达到了提高前期处理的自动化水平，降低前期处理的工作量，提高工作效率的效果，同时还将前期处理与腐蚀处理和称重进行了集合，提高了整个流程的自动化水平，降低了工作量，提高了操作效率。
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公开(公告)号：CN117152141A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311415138.3
申请日：2023-10-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取待检测电子元器件的光学图像；利用缺陷检测模型对所述光学图像进行缺陷检测，得到所述光学图像中的缺陷检测框的缺陷位置及缺陷类型；基于所述缺陷检测框和所述光学图像，确定所述缺陷检测框中的缺陷分布信息；根据所述缺陷分布信息、所述缺陷位置及所述缺陷类型，得到所述待检测电子元器件的缺陷检测结果。采用本方法能够提高电子元器件缺陷检测的全面性。
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公开(公告)号：CN117034701A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311035153.5
申请日：2023-08-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/23 , G06F30/15 , G06F30/17 , G06F111/08
Abstract: 本申请涉及一种螺旋桨表面离散化构建方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：获取螺旋桨的三维模型，获取飞形物的飞行出发位置和飞行速度方向；根据三维模型，对螺旋桨的表面进行离散化构建，得到螺旋桨的多个表面空间点；根据螺旋桨的旋转区域和飞行物的飞行空间旋转区域，确定飞行物穿越螺旋桨时所产生的有效作用区域；根据飞行出发位置和飞行速度方向，对多个表面空间点进行筛选，得到位于有效作用区域内的目标表面空间点。采用本方法能够提高异物穿越概率的分析效率。
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公开(公告)号：CN115291028B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202211219959.5
申请日：2022-10-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种提高铝电解电容器外场寿命预测精度的方法和装置，获取基准元器件的第一试验温度、第一试验寿命、第一工作寿命和第一试验寿命，确定试验加速倍数；根据第二工况条件中的工作温度和试验加速倍数，确定待预测元器件的第二试验温度；根据第一影响权重值、第二影响权重值、第一工况条件、第二工况条件，确定工况差异加速倍数，进而确定待预测元器件在第二工况条件下的第二工作寿命。通过获取影响电子元器件寿命的参数对于寿命影响因子的影响权重，并增加占空比计算工况差异加速倍数，进而对电子元器件工作寿命进行预测，缩短试验时长，降低试验成本，提高不同工况的预测精准度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111210105B
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN201911302970.6
申请日：2019-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06Q10/0639
Abstract: 本申请涉及一种连续工作性能验证方法、装置、计算机设备和存储介质。该方法包括：获取目标产品的测试参数；该测试参数包括连续工作时长、目标产品的置信度和目标产品在连续工作时长内的严重故障数目；将测试参数输入至预设的连续工作时间验证模型中，得到验证工作时长；根据验证工作时长对目标产品的连续工作性能进行验证。本方法结合了目标产品的置信度，提高了对产品连续工作性能衡量的准确性。
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公开(公告)号：CN114449746B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202111319024.X
申请日：2021-11-09
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明提供一种PCB测试板和PCB测试板的设计方法，PCB测试板包括：第一金属层；第二金属层，位于第一金属层的一侧，与第一金属层平行间隔排布；芯板，芯板位于第一金属层和第二金属层之间，用于隔绝述第一金属层和第二金属层；多个凸起结构，位于第一金属层远离芯板的表面和第二金属层远离芯板的表面。芯板作为PCB测试板的支撑部分，使PCB测试板能够适应热场且结构稳定；凸起结构均匀分布在第一金属层和第二金属层的表面，降低了PCB测试板在使用过程中及在装联过程中产生的翘曲变形，避免应力导致的各种问题，同时解决了要实现准确监控力场作用下单板变形必须破坏单板表层阻焊或线路的问题，可适用于器件在电、热、力三场耦合的条件下进行可靠性试验。
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公开(公告)号：CN114034626B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202111243671.7
申请日：2021-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种积冰冻雨试验装置及试验方法。所述装置包括：内部温度可调的试验箱、水平转台、喷水设备，能够向试验样品喷洒水雾，为试验样品模拟出真实的雨水环境。排风管道、鼓风设备、送风管道，能够使用试验箱内部的空气为试验样品鼓吹微风，从而保证试验箱内部的气压以及空气的温度不变，并且为试验样品鼓吹微风能够使得喷淋的雨水均匀的附着在试验样品的侧壁上，使得试验样品的积冰更加均匀。测量设备，能够测量试验样品上冰层的厚度，从而判断是否达到了实验所需的环境条件。从而能够在试验样品被实际部署前，先为试验样品模拟出真实的环境应力，为考核验证试验样品耐受积冰冻雨环境的适应性水平提供了试验环境。
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公开(公告)号：CN116930741A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310894981.8
申请日：2023-07-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/327 , G06F18/25 , G06F18/213 , G06N3/0442 , G06N3/0499
Abstract: 本申请涉及一种开关器件故障程度诊断方法、装置和计算机设备。该方法包括：获取开关器件在当前时段内的输出数据；通过故障程度诊断模型的特征提取网络，对输出数据进行特征提取，得到当前时段内各时刻的输出初始特征；通过故障程度诊断模型的反注意力机制网络，对各时刻的输出初始特征进行特征放大处理，得到各时刻的输出放大特征；通过故障程度诊断模型的全连接网络，根据各时刻的输出放大特征，确定开关器件的故障程度。通过上述方法可以在不影响关器件所在线路的情况下提高故障诊断灵敏度。
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公开(公告)号：CN116930601A
公开(公告)日：2023-10-24
申请号：CN202310893484.6
申请日：2023-07-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电信号时域测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：基于探测装置获取待测对象的第一电压和第二电压，其中，所述探测装置包括探头和与所述探头连接的示波器，所述探头用于探测所述第一电压和所述第二电压，所述示波器用于显示所述第一电压和所述第二电压；获取矩阵系数，所述矩阵系数与所述探头的结构参数相关；根据所述矩阵系数、所述第一电压和所述第二电压获取所述待测对象的实际电压和实际电流。采用本方法能够准确测量高频电信号。
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