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公开(公告)号：CN116381467B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310652188.7
申请日：2023-06-05
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 华南理工大学
Abstract: 本申请涉及一种双端口近场探头非对称补偿方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：获取第一散射参数，第一散射参数由基于对称双端口近场探头建立的对称双端口网络采集得到；获取第二散射参数，第二散射参数由基于非对称元件建立的非对称双端口网络采集得到；获取磁场环境下校准网络的整体响应，校准网络基于对称双端口近场探头以及非对称元件建立；根据对称双端口近场探头的散射参数、非对称元件的散射参数、以及磁场环境下校准网络的整体响应进行计算，确定校准因子；根据校准因子对对称双端口近场探头进行补偿，从而解决非对称问题，提高了非对称系统的测量精度。
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公开(公告)号：CN113160126B
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202110228968.X
申请日：2021-03-02
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种硬件木马检测方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：根据芯片的多个待检测版图图像，生成版图矩阵，对所述版图矩阵进行低秩矩阵分解，得到低秩矩阵和噪声矩阵，根据所述低秩矩阵、所述噪声矩阵对所述版图图像进行硬件木马检测，得到检测结果。采用本方法能够提高硬件木马检测的准确率。
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公开(公告)号：CN116659740A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310446718.2
申请日：2023-04-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种MEMS器件真空度测量方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：获取MEMS器件在真空封装条件下的品质因数；获取MEMS器件在不同气压条件下的品质因数；根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程；基于拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，得到MEMS器件的腔内真空度。整个方案通过测量MEMS器件在不同气压条件下的品质因数，根据不同气压条件下的品质因数进行拟合，得到拟合方程，拟合方程可以准确描述气压与品质因数之间的相关关系，进而根据拟合方程以及真空封装条件下的品质因数进行计算，可以准确地得到MEMS器件的腔内真空度。
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公开(公告)号：CN116652999A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310922111.7
申请日：2023-07-26
Applicant: 中国科学院自动化研究所 , 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室)) , 浙江浙能数字科技有限公司
IPC: B25J15/10
Abstract: 本发明涉及机器人技术领域，提供一种软体机械手和机器人。所述软体机械手包括安装座、夹爪、第一驱动装置和拉绳；多个夹爪沿环形分布，夹爪设有支撑骨架及相互连接的刚体部和软体部，刚体部连接于安装座；支撑骨架设有第一支撑部和第二支撑部，第一支撑部的第一端与软体部转动连接，第一支撑部的第二端与软体部和第二支撑部的第一端转动连接，第二支撑部的第二端与刚体部转动连接；第一驱动装置连接于安装座，并通过拉绳与软体部连接，第一驱动装置能够通过拉绳带动软体部向内侧弯曲。该软体机械手能够通过软体部对不同的被抓取物施加合适的力，同时具有较高的可靠性高和稳定性，提高了抓取任务的成功率和被抓取物的无损伤率。
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公开(公告)号：CN116642915A
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202310716109.4
申请日：2023-06-16
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N23/2204 , G01N23/2202
Abstract: 本申请涉及一种承载装置、样品制备设备及样品制备方法，承载装置包括样品台，样品台具有支撑面及凸设于支撑面上的支撑部；样品台上贯穿开设容置通道，容置通道的一端延伸至支撑面。本申请将样品通过支撑部支撑于样品台的支撑面上，通过抽真空的方式使样品与支撑面之间的间隙中的填充物进入容置通道内，从而在样品面向支撑面的一侧形成一层保护层，由此，形成透射样品后，透射样品的上表面通过沉积离子束对上表面的结构及信息进行保护，而透射样品的下表面通过形成的保护层进行保护，从而能够对透射样品的双面进行更全面的信息保护，便于观察及分析。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113378135B
公开(公告)日：2023-08-25
申请号：CN202110638778.5
申请日：2021-06-08
Applicant: 华中科技大学 , 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种用于计算机隐私数据查询验证的方法，包括以下步骤：S1、在计算机中的隐私数据存储区域进入端口设置初步验证操作；S2、当通过初步验证操作后，计算机通过隐私查看提醒模块向联系人的接收设备发送提示信息；S3、当通过初步验证操作后，计算机在脸部识别模块和声音识别模块中任选一个进行二次验证操作；S4、当通过二次验证操作后，计算机通过视频通讯模块与联系人的视频设备进行视频通话连接；S5、当进行视频通话后，联系人通过电子设备进行三次验证操作；三次验证操作过后即可进入隐私数据存储区域进行数据查看。本发明可以有效提高计算机中隐私数据的安全性，给人们生活带来了便利。
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公开(公告)号：CN116623182A
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202310616261.5
申请日：2023-05-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种界面合金共化物刻蚀液、刻蚀方法和制样方法。界面合金共化物刻蚀液包括以下体积分数的原料：氨水45％～55％和双氧水45％～55％；其中，所述氨水的质量分数为25％～28％，所述双氧水的质量分数为30％～50％。该刻蚀溶液仅通过一次刻蚀就能同时刻蚀界面合金共化物中的锡、铜、银、铅、金、镍等多种金属，并使各金属界面暴露出清晰分明的内部纹理，有利于后续进行电路板的可靠性分析。该界面合金共化物刻蚀液的原料简单、成本低廉、配制方便、刻蚀时间短，适用于界面合金共化物的大批量快速实验。
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公开(公告)号：CN116598199A
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202211675974.0
申请日：2022-12-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: H01L21/311 , H01L21/321 , H01L21/3105 , H01L21/67
Abstract: 本发明公开了一种正装封装芯片的背面减薄方法，通过从芯片背后去挖孔、露出芯片背面进行减薄，集成激光刻蚀、区域研磨、精细抛光等多种制样技术，分别去除芯片背部的多种材料，解决芯片背面各种材料的去除问题。同时采用温度监测及制冷装置，对芯片制冷，将芯片温度控制在常温，解决减薄过程中产生的热量对芯片的影响问题。进一步地，对于带空腔的正装封装，注入环氧树脂并固封，形成保护层为芯片提供支撑，解决去除各种材料时芯片的受力问题。
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公开(公告)号：CN116227239B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310505507.1
申请日：2023-05-08
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/14 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种基于灰色预测模型的加速试验数据分析方法、装置和设备。该方法包括：获取待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值；基于灰色预测模型，根据待测产品在各测试时刻下的实际测试性能值，确定待测产品的性能退化预测函数；基于性能退化预测函数，预测待测产品在各测试时刻下的预测性能值；确定待测产品在各测试时刻下的预测偏差值；基于灰色预测模型，根据待测产品在各测试时刻下的预测偏差值，确定偏差预测函数；采用偏差预测函数，对性能退化预测函数进行修正；基于修正后的性能退化预测函数和待测产品的性能退化失效阈值，确定待测产品的性能退化失效时间。本申请能够提高加速试验数据的分析准确性。
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公开(公告)号：CN116108697B
公开(公告)日：2023-08-04
申请号：CN202310349194.5
申请日：2023-04-04
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请涉及一种基于多元性能退化的加速试验数据处理方法、装置和设备。所述方法包括：计算机设备获取目标产品的多个性能参数值，并确定各性能参数值之间的关联关系，关联关系包括独立共存关系以及备份关系，各性能参数值是在加速实验中对目标产品施加加速应力的情况下得到的；根据关联关系确定关联关系对应的可靠性评价模型，并利用可靠性评价模型和各性能参数值，获取目标产品对应的多元性能退化的可靠度函数；根据多元性能退化的可靠度函数，获取正常应力下目标产品对应的产品可靠性评价指标。采用本方法能够提升基于多元性能退化的加速试验数据处理方法的适用范围和灵活度。
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