公开(公告)号：CN107688314A

公开(公告)日：2018-02-13

申请号：CN201710938121.4

申请日：2017-10-11

Applicant: 陕西普洛帝测控技术有限公司

Inventor： 郭朋辉 ,  李立志 ,  郭晨

IPC: G05B19/042 ,  G01J1/42

CPC classification number: G05B19/042 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明涉及传感器技术领域。具体公开一种感光控制传感器，该传感器包括光敏电阻、光控开关和微控制器，其中光敏电阻连接微控制器的输入端，微控制器的输出端连接光控开关。本发明的有益之处：通过本传感器可以及时准确的测量光的强度，同时通过微控制器控制光控开关，达到检测和控制同时实现的目的。

公开(公告)号：CN107677366A

公开(公告)日：2018-02-09

申请号：CN201710889983.2

申请日：2017-09-27

Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院

Inventor： 张运杰 ,  李新 ,  闫静 ,  刘恩超 ,  张艳娜

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/44 ,  G05B19/042

CPC classification number: G01J1/4204 ,  G01J1/42 ,  G01J1/4228 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4266 ,  G01J2001/446 ,  G01J2001/448 ,  G05B19/0421 ,  G05B19/0423 ,  G05B2219/21137 ,  G05B2219/2214 ,  G05B2219/25257

Abstract: 本发明公开了一种大动态范围的辐照度观测系统，先由光信号监测模块接收输入光信号，判断信号强弱，光信号切换机构根据判定结果切换工作光路，打开相应光信号探测模块的入光口；光信号探测模块分强弱两路，弱光信号探测光路探测器为光电倍增管，而较强光信号探测光路使用Si光电二极管作为探测器，为保护光电倍增管，模拟信号处理模块将来自探测器的信号经放大滤波等处理过程，减少信号噪声提高系统信噪比，处理后的模拟电信号送至数据采集模块，数据采集模块将模拟信号转换成数字信号后存储于内存中或实时上传计算机；本发明采用光谱探测技术、PMT技术，实现光谱辐照度全天候观测，大大拓宽了辐照度观测系统的应有范围。

公开(公告)号：CN107462323A

公开(公告)日：2017-12-12

申请号：CN201710936949.6

申请日：2017-10-10

Applicant: 南京先进激光技术研究院

Inventor： 郝丽云 ,  周军 ,  杨润兰

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J1/02 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明实施例提供了一种高功率光纤激光器回光监测的光模块，所述光模块包括传能光纤、封装散热基座、滤光胶层和光探测器。封装散热基座包括长条形热沉和热沉上沿长度方向设置的凹槽；传能光纤的涂覆层剥离段放置于凹槽中；滤光胶层由折射率大于涂覆层的紫外光固化胶固化后形成，其紧密包裹涂覆层剥离段，并与凹槽紧密贴合；光探测器设置于滤光胶层位于沿光线传输方向末端部分的测光区中。本发明光模块通过监测滤除的包层光中的回光对高功率光纤激光器输出系统引入的回光进行评估，相对于传统器件，其可承受功率更高，制作成本低，制作工艺简单，对工艺平台要求更低，还可以进一步提高输出激光的光束质量。

公开(公告)号：CN107457494A

公开(公告)日：2017-12-12

申请号：CN201710373006.7

申请日：2017-05-24

Applicant: 株式会社迪思科

Inventor： 中村胜

IPC: B23K26/70 ,  H01L21/66 ,  H01L21/78

CPC classification number: H01L23/544 ,  B23K26/0006 ,  B23K26/53 ,  B23K26/702 ,  B23K2103/56 ,  G01J1/42 ,  H01L21/6836 ,  H01L22/10 ,  H01L22/12 ,  H01L22/24 ,  H01L2221/68327 ,  H01L2221/68386 ,  B23K26/705 ,  H01L21/78

Abstract: 本发明提供漏光检测方法，能够容易地检测当照射对于晶片具有透过性的波长的激光光线而形成改质层时到达晶片的下表面的激光光线的漏光。一种漏光检测方法，该漏光检测方法包含如下的工序：涂装工序，利用油性标记对涂装晶片的下表面进行涂装；压接工序，将粘合带压接在晶片的下表面上；改质层形成工序，将对于晶片具有透过性的波长的激光光线的聚光点从晶片的上表面定位在晶片的内部而进行照射从而形成改质层；剥离工序，将所压接的粘合带剥离；以及漏光检测工序，检测涂布在下表面上的涂装因该剥离工序而被去除的区域作为存在漏光的区域。

公开(公告)号：CN107430955A

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201680020141.7

申请日：2016-01-18

Applicant: 松下神视株式会社

Inventor： 市川博贵 ,  落合隆幸

IPC: H01H35/00 ,  G01V8/12 ,  H01L31/02

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0411 ,  G01V8/12 ,  H01H35/00 ,  H01L31/02

Abstract: 设置有光通过其而传输的聚光透镜(61)的树脂外壳(10)容纳电路板(31)，在该电路板(31)上，安装有设置在聚光透镜(61)的焦点位置处的光电元件(33)。电路板(31)具有通孔(31c)，已经透过聚光透镜(61)而传输的光穿过该通孔。光电元件(33)安装在电路板(31)的在聚光透镜(61)的相反侧上的背面(31b)上，并且接收已经穿过通孔(31c)的光。

公开(公告)号：CN107407593A

公开(公告)日：2017-11-28

申请号：CN201580077252.7

申请日：2015-12-15

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 河村亮

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/42

CPC classification number: G01J1/00 ,  G01J1/42

Abstract: 具备：视线距离测量部(10)，其测量视线距离，该视线距离是进行对视觉识别对象物进行视觉识别的视觉作业的观察者的视点位置与视觉识别对象物上的任意的位置之间的直线距离，该视觉识别对象物被配置在被照射来自照明光源的照明光的照明区域；平均视线距离计算部(21)，其计算平均视线距离，该平均视线距离是在进行视觉作业的视觉作业时间内由视线距离测量部(10)测量出的视线距离的平均值；存储部(30)，其存储平均视线距离越短则对观察者的眼睛的负担越大这样的评价基准；以及评价部(22)，其基于存储部(30)中存储的上述评价基准，根据由平均视线距离计算部(21)计算出的平均视线距离来评价照明光的优劣。

公开(公告)号：CN107316594A

公开(公告)日：2017-11-03

申请号：CN201710365135.1

申请日：2017-05-22

Applicant: 茆胜

Inventor： 茆胜

IPC: G09G3/00 ,  G01J1/42 ,  G01D21/02

CPC classification number: G09G3/006 ,  G01D21/02 ,  G01J1/42

Abstract: 本发明涉及OLED微型显示器自动检测系统及方法，该自动检测系统包括：测试治具，用于固定和驱动OLED微型显示器；数据获取单元，与测试治具上相应的接触针连接，自动获取OLED微型显示器的性能参数；数据获取单元包括电流参数获取模块和光学参数获取模块；光学参数获取模块针对测试治具上方具有检测区域；以及与数据获取单元通信连接的上位机；上位机包括：数据处理单元，与数据获取单元连接，处理并存储数据获取单元获取的性能参数，以提供可用于管理或应用的性能参数。本发明可通过上位机实现自动检测，并由上位机统一进行数据处理、分析、存储管理，在提高检测效率的同时可避免人为操作误差，检测一致性好、可靠性高。

公开(公告)号：CN107290049A

公开(公告)日：2017-10-24

申请号：CN201710661927.3

申请日：2017-08-04

Applicant: 上海诺司纬光电仪器有限公司 ,  美国西北仪器公司

Inventor： 石昕 ,  邢星

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04 ,  G01S11/12

CPC classification number: G01J1/42 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0414 ,  G01S11/12

Abstract: 本发明涉及一种光学探测组件，该光学探测组件包括：感光元件，感光元件被构造用于接收光学信号并将其转换为电学信号；以及导光部件，导光部件包括用于接收光束并将光束导向至感光元件的第一部分和用于接收光束并将光束导向至感光元件的第二部分。本发明利用了导光部件的光学特性，即该导光部件能够将其所接收到的光束导向至与之配套的感光元件之处，从而使得感光元件能够将该光学信号转换成电学信号，以便后续处理之用。依据本发明所提出的光学探测组件通过设置导光部件能够仅仅使用一套感光元件便能够实现不同位置的光学信号的处理，从而简化了现有技术中的光学探测组件的结构并且相应地降低了现有技术中的光学探测组件的制造成本。

公开(公告)号：CN103890949B

公开(公告)日：2017-10-03

申请号：CN201280052516.X

申请日：2012-08-24

Applicant: 新加坡恒立私人有限公司

Inventor： H.鲁德曼恩 ,  M.马鲁克 ,  A.比伊特施 ,  P.罗恩特根 ,  S.海姆加特纳

IPC: H01L27/146

CPC classification number: G02B13/0085 ,  B23K26/361 ,  G01J1/42 ,  H01L27/14618 ,  H01L27/14625 ,  H01L27/14683 ,  H01L2924/0002 ,  Y10T29/49748 ,  Y10T83/04 ,  H01L2924/00

Abstract: 器件（50）包括光学构件（60）和隔离构件（70），所述光学构件包括N≥2组无源光学部件（65），每组无源光学部件（65）包括一个或多个无源光学部件。隔离构件（70）包括N个光通道（77），所述N个光通道中的每一个与所述N组无源光学部件中的一组相关联。所述N个光通道（77）的全部都具有至少基本上相同的几何长度（g），并且所述N个光通道中的第一个的光路长度不同于所述N个光通道中的至少一个第二个的光路长度。还描述了用于制造此类器件的方法。本发明能够允许以高产率来批量生产高精度器件（50）。

公开(公告)号：CN107004691A

公开(公告)日：2017-08-01

申请号：CN201680003705.6

申请日：2016-10-27

Applicant: 松下知识产权经营株式会社

Inventor： 岛崎直树 ,  玉置德彦 ,  宍戸三四郎

IPC: H01L27/146 ,  H04N5/3745

CPC classification number: G01J5/0853 ,  G01J1/0407 ,  G01J1/42 ,  G01J3/36 ,  G01J5/0846 ,  G01J5/20 ,  H01L27/14609 ,  H01L27/14643 ,  H01L27/14665 ,  H01L27/14676 ,  H04N3/1512 ,  H04N5/23241 ,  H04N5/33 ,  H04N5/3575 ,  H04N5/3745 ,  H04N5/378

Abstract: 本申请的某个实施方式的光检测装置具备：半导体层，该半导体层包含源极区和漏极区；栅极绝缘层，该栅极绝缘层位于被半导体层的源极区和漏极区所夹持的区域上，并且包含光电转换层；栅极电极，该栅极电极位于栅极绝缘层上；信号检测电路，该信号检测电路包含输入与源极区和漏极区中的一者电连接的第一信号检测晶体管；第一传输晶体管，该第一传输晶体管连接在源极区和漏极区中的一者与第一信号检测晶体管的输入之间；以及第一电容器，该第一电容器的一端与第一信号检测晶体管的输入电连接，其中，信号检测电路对由光经由栅极电极射入光电转换层而产生的与光电转换层的介电常数变化相对应的电信号进行检测。