在非对称的腔室环境中的均匀晶片温度实现

    公开(公告)号:CN108475610A

    公开(公告)日:2018-08-31

    申请号:CN201680074061.X

    申请日:2016-12-06

    Abstract: 本公开总体涉及一种用于工艺腔室的辐射屏蔽件,所述辐射屏蔽件改善基板温度均匀性。所述辐射屏蔽件可以设置在所述工艺腔室的狭缝阀门与设置在所述工艺腔室内的基板支撑件之间。在一些实施方式中,所述辐射屏蔽件可以设置在所述工艺腔室的加热器下。此外,所述辐射屏蔽件可以阻挡从所述工艺腔室供应的辐射和/或热量,并且在一些实施方式中,所述辐射屏蔽件可以吸收和/或反射辐射,由此提供改善的温度均匀性并且改善所述基板的平面轮廓。

    具有宽范围操作温度的PECVD陶瓷加热器

    公开(公告)号:CN105849866A

    公开(公告)日:2016-08-10

    申请号:CN201480070552.8

    申请日:2014-12-17

    CPC classification number: H01L21/68792 H01L21/67109

    Abstract: 本发明实施例总体上涉及一种半导体处理腔室,并且更具体地涉及一种用于半导体处理腔室的受热支撑基座。在一个实施例中,所述基座包括基板支撑件、加热元件和第一中空轴,所述基板支撑件包含用于容纳基板的支撑表面,所述加热元件被封装在所述基板支撑件内,所述第一中空轴具有第一端与第二端,其中所述第一端固定到所述基板支撑件。所述基板支撑件与所述第一中空轴由陶瓷材料制成,并且所述第一中空轴具有约50mm与100mm之间的长度。所述基座进一步包括耦接至所述第一中空轴的第二端的第二中空轴。所述第二中空轴具有大于所述第一中空轴的长度的长度。

    接地带组件
    29.
    发明授权

    公开(公告)号:CN114008755B

    公开(公告)日:2024-12-20

    申请号:CN201980094654.6

    申请日:2019-04-29

    Abstract: 本公开内容涉及用于等离子体处理基板的方法和设备。在一个实施方式中,基板处理腔室包括接地带组件。接地带组件包括接地带和一个或多个连接器,所述一个或多个连接器耦接到基板支撑件和/或腔室主体。每个连接器具有第一夹持构件和第二夹持构件。接地带紧固在每个连接器的第一夹持构件与第二夹持构件之间。第一夹持构件和第二夹持构件中的每一者的内表面耦接至接地带并且涂覆有介电涂层。内表面的厚度和粗糙度的调制使得能够调节连接器的电容特性。

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