光倍增管、图像传感器及使用PMT或图像传感器的检验系统

    公开(公告)号:CN105210189A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201480028203.X

    申请日:2014-04-01

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明揭示一种光倍增管,其包含半导体光电阴极及光电二极管。值得注意地,所述光电二极管包含:p掺杂型半导体层;n掺杂型半导体层,其形成于所述p掺杂型半导体层的第一表面上,以形成二极管;及纯硼层,其形成于所述p掺杂型半导体层的第二表面上。在所述半导体光电阴极与所述光电二极管之间的间隙可为小于约1毫米或小于约500微米。所述半导体光电阴极可包含氮化镓,例如一或多个p掺杂型氮化镓层。在其它实施例中,所述半导体光电阴极可包含硅。此半导体光电阴极可进一步包含在至少一个表面上的纯硼涂层。

    电子枪及电子显微镜
    25.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112740355B

    公开(公告)日:2023-12-19

    申请号:CN201980061438.1

    申请日:2019-09-28

    IPC分类号: H01J37/073 H01J37/04

    摘要: 本发明揭示一种用于电子显微镜或类似装置的电子枪,其包含:场发射器阴极,其具有从单晶硅衬底的输出表面延伸的场发射器突出部;及电极,其经配置以增强来自所述场发射器突出部的尖端部分的电子发射以产生主电子束。连续SiC薄层使用最小化所述SiC层中的氧化及缺陷的过程直接安置于所述场发射器突出部的至少所述尖端部分上。任选栅极层可被放置于所述场发射器尖端部分的高度、略低于或略高于所述高度以实现高发射电流及所述主发射束的快速及精确控制。所述场发射器可经p型掺杂且经配置以在反向偏压模式中操作,或所述场发射器可经n型掺杂。

    电子枪及电子显微镜
    26.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112740355A

    公开(公告)日:2021-04-30

    申请号:CN201980061438.1

    申请日:2019-09-28

    IPC分类号: H01J37/073 H01J37/04

    摘要: 本发明揭示一种用于电子显微镜或类似装置的电子枪,其包含:场发射器阴极,其具有从单晶硅衬底的输出表面延伸的场发射器突出部;及电极,其经配置以增强来自所述场发射器突出部的尖端部分的电子发射以产生主电子束。连续SiC薄层使用最小化所述SiC层中的氧化及缺陷的过程直接安置于所述场发射器突出部的至少所述尖端部分上。任选栅极层可被放置于所述场发射器尖端部分的高度、略低于或略高于所述高度以实现高发射电流及所述主发射束的快速及精确控制。所述场发射器可经p型掺杂且经配置以在反向偏压模式中操作,或所述场发射器可经n型掺杂。

    包括在具有硼层的硅衬底上的场发射极阵列的光电阴极

    公开(公告)号:CN107667410B

    公开(公告)日:2019-12-10

    申请号:CN201680028700.9

    申请日:2016-05-21

    摘要: 一种光电阴极利用一体地形成于硅衬底上的场发射极阵列FEA来增强光电子发射,且利用直接安置在所述FEA的输出表面上的薄硼层来阻止氧化。所述场发射极是通过具有安置成二维周期性图案的各种形状(例如,角锥体或经修圆晶须)的突出部形成,且可经配置而以反向偏置模式操作。任选栅极层经提供以控制发射电流。任选第二硼层形成于经照射(顶部)表面上,且任选抗反射材料层形成于所述第二硼层上。在相对的所述经照射表面与所述输出表面之间产生任选外部电位。通过特殊掺杂方案且通过施加外部电位而形成n型硅场发射极与p‑i‑n光电二极管膜的任选组合。所述光电阴极形成传感器及检验系统的部分。

    用于检查的具有电可控制孔径的传感器及计量系统

    公开(公告)号:CN110062180A

    公开(公告)日:2019-07-26

    申请号:CN201910251964.6

    申请日:2016-05-13

    IPC分类号: H04N5/3722 G01N21/956

    摘要: 本申请涉及用于检查的具有电可控制孔径的传感器及计量系统。通过将更负控制电压施加到像素的电阻式控制栅极的中心区域及将更正控制电压施加到该栅极的端部分实现线性传感器中的像素孔径大小调整。这些控制电压引起该电阻式控制栅极产生电场,该电场将在像素的光敏区域的选定部分中产生的光电子驱动到电荷积累区域中以用于后续测量,且驱动在像素的光敏区域的其它部分中产生的光电子远离该电荷积累区域以用于后续舍弃或同时读出。系统利用光学器件以将以不同角度或在不同位置接收的光从样本引导到每一像素的光敏区域的对应不同部分中。多个孔径控制电极经选择性地致动以收集/测量从窄或宽角度或者位置范围接收的光,借此实现快速图像数据调整。