非易失性存储装置及其读取方法

    公开(公告)号:CN101740129A

    公开(公告)日:2010-06-16

    申请号:CN200910220889.3

    申请日:2009-11-16

    CPC classification number: G11C8/08 G11C11/5642 G11C16/3418 G11C29/00

    Abstract: 本发明构思的目的在于提供一种因补偿闪速存储单元的阈值电压而具有改善的可靠性的非易失性存储装置及其读取方法。根据本发明构思的非易失性存储装置包括:存储单元阵列,连接到多条字线;电压产生器,用于在执行读取操作时,将选择的读取电压提供到所述多条字线中的选择的字线,将未选的读取电压提供到所述多条字线中的未选的字线。电压产生器根据未选的字线是否与选择的字线相邻而产生电平不同的未选的读取电压。根据本发明构思的非易失性存储装置补偿因各种原因而升高或降低的阈值电压。根据本发明的构思,改善了非易失性存储装置的可靠性。

    掩模制造方法、用该掩模制造的半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN115084133A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210146379.1

    申请日:2022-02-17

    Abstract: 提供了一种半导体装置。该半导体装置包括:衬底,其包括第一区域、第二区域和放置在第一区域与第二区域之间的连接区域;多个第一多沟道有源图案,其放置在衬底的第一区域中;多个第二多沟道有源图案,其放置在衬底的第二区域中;第一连接鳍型图案,其放置在衬底的连接区域中,并且在第一方向上从第一区域延伸到第二区域;以及场绝缘膜,其放置在衬底上,并且覆盖第一连接鳍型图案的上表面,其中,第一连接鳍型图案在第二方向上的宽度随着其远离第一区域而减小并且随后增大,并且第一方向垂直于第二方向。

    重构人工智能模型的电子装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN112771544A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201980064205.7

    申请日:2019-10-16

    Abstract: 提供了一种用于重构人工智能模型的电子装置及其控制方法。该控制方法包括:输入至少一个输入数据至第一人工智能(AI)模型,以获取至少一个输出数据;基于所获取的至少一个输出数据,获取第一使用信息;基于所获取的第一使用信息,获取用于重构所述第一AI模型的第一重构信息;以及基于所获取的第一重构信息,重构所述第一AI模型,以获取第二AI模型。

    具有垂直沟道结构的半导体器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN110600479A

    公开(公告)日:2019-12-20

    申请号:CN201910951061.9

    申请日:2014-08-29

    Abstract: 本发明提供具有垂直沟道结构的半导体器件及其制造方法。该方法包括:在衬底上交替地形成多个牺牲层和多个绝缘层,多个牺牲层包括第一牺牲层和在第一牺牲层上的多个第二牺牲层,多个第二牺牲层包括与第一牺牲层的材料不同的材料;形成穿过多个牺牲层和多个绝缘层的沟道孔以暴露衬底的顶表面;在沟道孔的内壁上形成侧壁保护层;形成填充沟道孔的底部的沟道接触层,其中沟道接触层的顶表面位于比多个第二牺牲层当中的最下面的第二牺牲层的底表面低的水平处;完全去除侧壁保护层;在沟道孔的内壁上形成接触沟道接触层的沟道层;去除第一牺牲层;以及在第一牺牲层被去除的位置处形成第一栅电极。

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