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公开(公告)号：CN103926159B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201410147827.5
申请日：2014-04-14
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： G01N3/28
摘要： 一种微焊点蠕变性能测试装置及使用方法，属于材料连接测试技术领域，上拉杆插入上板通孔，下拉杆插入下板通孔。式样两端通孔分别穿在上拉杆和下拉杆的固定销钉上。根据所需要的加载载荷，在配重挂钩上挂载相应重量砝码。上拉杆和下拉杆配合为一组，可以满足一个式样的蠕变性能测试。同一拉杆框架可以实现多个式样的同时测试。试样蠕变寿命采用四探针测电阻法采集数据。采用多通道信号采集设备，将探针夹持在式样上即可。如果需要温度环境，可以将本装置放置在温箱中，从外部接入测试探针即可进行测试。该装置结构简单，能够实现多个样品同时测试。
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公开(公告)号：CN103111700B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201310055780.5
申请日：2013-02-21
申请人： 北京工业大学
摘要： 微型钎焊搭接接头及搭接方法，属于材料连接技术领域，为两个狗骨头状的薄片铜基板通过钎焊搭接在一起，铜基板的一端细长，作为颈部，另一端宽，作为尾部，在尾部中心位置打孔，铜基板厚度为0.2mm-0.6mm，颈部宽度0.5mm-1mm，尾部宽度3mm-5mm，尾部打孔位置在铜基板中心线上，距末端2mm-5mm均可，打孔的孔直径保持在0.8mm-2.5mm之间。搭接方法：首先将铜基板放入刷膏模具中，然后将网板覆盖在刷膏模具上进行网孔对位，接着将焊膏涂覆到网孔中，取走网板、取出铜基板，另取一个未涂敷焊膏的铜基板搭接后放入回流焊炉中进行焊接。本发明能够保证焊接接头的尺寸；一次成型数量多。
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公开(公告)号：CN102091882A
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN201110005347.1
申请日：2011-01-12
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： B23K35/26
摘要： 本发明公开了一种锡银铜钴无铅钎料，属于新材料和材料的新用途领域。Co元素质量分数为：0.05～1.0％，余量为Sn3.0Ag0.5Cu。利用钴元素的添加有效的抑制钎料接头内部和界面处金属间化合物的生长，提高接头显微组织在温度和电流密度下的稳定性，抑制“极化现象”和空洞的产生。一种能够同时提高焊点力学性能，并能够在通电情况下抑制焊点物质迁移现象的锡银铜钴无铅钎料，适用于电子产品的焊点链接材料，特别是表面封装中使用的无铅钎料。
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公开(公告)号：CN118604559A
公开(公告)日：2024-09-06
申请号：CN202410710339.4
申请日：2024-06-03
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： G01R31/26 , G01D21/02 , G06F18/213 , G06F18/24 , G06F18/214 , G06N3/042 , G06N3/08
摘要： 本说明书实施例提供了一种功率器件封装焊料层老化状态检测方法、装置和存储介质，所述方法包括：采集待检测器件的结温数据、壳温数据和热阻数据；根据所述结温数据、所述壳温数据和所述热阻数据，分别确定结温时序特征、壳温时序特征和热阻时序特征；基于预设图神经网络，以所述结温时序特征、所述壳温时序特征和所述热阻时序特征为输入，输出得到图特征，所述图特征包括：结温时序特征、壳温时序特征和热阻时序特征以及三者的关联关系；基于预设检测神经网络，以所述图特征为输入，输出待检测器件的老化状态。本申请提供的技术方案用以解决现有技术仅依据某一特征值进行焊料层老化状态检测具有局限性的问题。
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公开(公告)号：CN118497555A
公开(公告)日：2024-08-16
申请号：CN202410787760.5
申请日：2024-06-18
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： C22C19/03 , B22F1/12 , C22C1/04 , B33Y70/00 , B22F10/36 , B22F10/366 , B82Y30/00 , B22F10/28 , B33Y10/00
摘要： 本发明提供了一种稀土氧化物/镍基高温合金及其制备方法和应用。本发明的稀土氧化物/镍基高温合金的制备方法，包括如下步骤：S1：将稀土可溶性盐和有机分散剂溶解于水中，得到稀土溶液；S2：向稀土溶液中加入镍基高温合金原粉，搅拌混合，得到混合溶液；S3：将混合溶液干燥后进行高温分解，得到稀土氧化物/镍基高温合金。本发明的制备方法能够使稀土氧化物颗粒均匀分布于镍基高温合金中，避免了稀土氧化物颗粒团聚现象的产生，有效实现了镍基高温合金的强韧化。
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公开(公告)号：CN117250374A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202310227683.3
申请日：2023-03-10
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明公开一种用于烧结银大面积互连接头的电迁移实验装置，包括：导体板、绝缘板以及连接件；导体板的数量为偶数，且导体板不少于两块；两块对应设置的导体板组成为一个实验组，同一实验组内的两块导体板之间设置有用于夹持试验样品的空隙，且两块导体板分别与电源的正极、负极连接；绝缘板安装在导体板的一侧，同一实验组内的两块导体板位于两块绝缘板之间；连接件设置于绝缘板上；连接件用于连接同一实验组内的两块绝缘板，并使两块导体板之间形成电流回路。本发明克服了大面积烧结银三明治结构互连接头样品装卡困难的问题，可以对试验样品进行自由更换和拆卸，从而满足了不同规格试样的实验需求，实现接头高效的完成电迁移实验。
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公开(公告)号：CN113533114B
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202110803937.2
申请日：2021-07-16
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明公开了一种基于热解原理的漆包线热解方法，属于漆包线热解技术领域。具体包括以下步骤：步骤(1)：通过热重分析获得漆包线的热重曲线和差热重曲线，从中得出漆包线热解温度区间；步骤(2)：根据化学反应速率表达式、反应速率常数与温度的关系式和线性升温公式，结合转化率与温度之间的关系和FWO热动力学计算方法，求得漆包线热解反应活化能；步骤(3)：对漆包线进行热解，通过FTIR分析对热解固体产物进行表征；步骤(4)：通过TG‑FTIR分析表征了漆包线在不同温度下热解气体产物的官能团，并以此优化热解工艺方案。
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公开(公告)号：CN114211070B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202111681898.X
申请日：2021-12-31
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明涉及钎焊技术领域，具体涉及一种Sn基钎料焊点重熔晶体取向制备方法，具体提供一种Sn/Ag/Bi/In钎料，其成份及重量百分比为：Ag：3.5，Bi：0.5，In：8.0，Sn：余量；所述钎料为膏状钎料；本发明钎料中的合金元素增多，可使Sn基钎料焊点的熔点降低至193～209℃，能够在更低的温度参数下进行软钎焊，保证芯片焊接损耗率更低；本发明钎料在重熔后形成焊点，Sn焊点的硬度的各向异性影响降低，焊点的力学性能提高，强度变得均匀。
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公开(公告)号：CN116728017A
公开(公告)日：2023-09-12
申请号：CN202310831227.X
申请日：2023-07-07
申请人： 北京工业大学
摘要： 本发明涉及属于材料制备与连接技术领域，本发明公开了一种能够控制微小线性焊点尺寸的方法，包括：获取若干个特定结构的铜棒，且铜棒的端面为正方形；对铜棒进行预处理，获取待焊接铜棒，对待焊接铜棒的表面进行处理，获取处理后的铜棒；按照预设的空间位置，固定两个处理后的铜棒，并放置于干燥皿中等待凝固，对凝固后的处理后的铜棒填充焊膏，对处理后的铜棒进行焊接，获取对接焊棒；将对接焊棒固定在PCB板上进行减薄处理，获取减薄处理后的对接焊棒；对接近所需尺寸的所述对接焊棒进行抛磨处理，控制微小线性焊点尺寸。本发明通过特制的焊接载体和打磨平台，保证焊点表面得到充分抛光，使线性焊点尺寸完整、图像清晰的要求。
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公开(公告)号：CN116230591A
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202310179972.0
申请日：2023-02-14
申请人： 北京工业大学
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/603 , H01L21/66
摘要： 本发明涉及电子封装技术领域，提供一种功率芯片的封装装置及封装方法，装置包括：多压头装置、载物台和加热装置；多压头装置包括压头控制装置、拍摄装置、压头切换装置、多个不同尺寸的压头，多个不同尺寸的压头装载于压头切换装置；压头控制装置用于控制压头压力大小，压头控制装置还用于控制多压头装置移动；载物台用于放置基板，基板涂覆有焊料；拍摄装置用于拍摄目标芯片的芯片图像，目标芯片与基板贴合；压头切换装置用于对多个不同尺寸的压头进行切换，以切换至目标芯片对应的目标压头；加热装置用于对基板上的焊料进行加热。本发明提高了功率芯片模块的多芯片烧结速率。
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