公开(公告)号：CN104010741A

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN201280056123.6

申请日：2012-10-18

申请人： 伊雷克托科学工业股份有限公司

发明人： 诺曼·梅里尔·彼得森 ,  道格·J·贾西亚

IPC分类号： B07C5/342 ,  B07C5/344 ,  B07C5/38 ,  G01R31/26 ,  G01R31/28

CPC分类号： G01R31/2635 ,  B07C5/342 ,  B07C5/344 ,  B07C5/38 ,  G01R31/2893

摘要： 本发明描述一种分类装置，其可包括：一组件载体，其经结构化以沿一行进路径输送一组件；一第一分类箱；一第二分类箱；一第一传送台，其经结构化以沿该行进路径将一组件从一第一传送位置处的该组件载体传送至该第一分类箱；及一第二传送台，其经结构化以沿该行进路径将一组件从一第二传送位置处的该组件载体传送至该第二分类箱。在此实施例中，该第一传送位置与该第二传送位置之间的距离可小于该第一分类箱及该第二分类箱的至少一个的一宽度。

公开(公告)号：CN103782181A

公开(公告)日：2014-05-07

申请号：CN201280044836.0

申请日：2012-09-12

申请人： 奥斯兰姆奥普托半导体有限责任公司

发明人： M.屈内尔特 ,  R.恩茨曼

IPC分类号： G01R1/073 ,  G01R1/067

CPC分类号： G01R1/067 ,  G01R1/06744 ,  G01R1/07321 ,  G01R1/0735 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/2855

摘要： 本发明说明一种用于暂时电接触具有多个接触面（93,94）的器件装置（9）的方法。具有布置有接触突起部（2）的多个连接面（11,12）的连接载体（1）被提供。连接载体（1）和器件装置（9）被连结在一起，使得连接面（11,12）和所分配的接触面（93,94）在俯视图中重叠并且用于电接触器件装置（9）的接触突起部（2）构成至接触面（93,94）的电接触部。接着将连接载体（1）和器件装置（9）彼此分开。

公开(公告)号：CN102326090B

公开(公告)日：2013-12-11

申请号：CN200980157166.1

申请日：2009-12-24

申请人： QMC株式会社

发明人： 柳炳韶

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/02

CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/2887 ,  G01R31/2893

摘要： 本发明提供一种LED芯片测试装置，所述LED芯片测试装置测量LED芯片的特性。所述LED芯片测试装置包括：转动构件，所述转动构件支撑所述LED芯片并且使所述LED芯片转动到测试该LED芯片的特性的测试位置；以及测试机，所述测试机与所述转动构件相邻地安装并且用于测量所述测试位置处的所述LED芯片的特性。

公开(公告)号：CN103299168A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201180039446.X

申请日：2011-08-09

申请人： 以操作-试验名义经营的索夫泰克系统配套公司

发明人： D·C·莫罗 ,  J·L·达默

IPC分类号： G01J1/42

CPC分类号： G01J3/462 ,  G01J3/28 ,  G01J3/505 ,  G01J2001/4247 ,  G01R31/245 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/44

摘要： 提供了量化包括LEDs、高亮度LEDs和其他固态光源（SSLs）的光源的颜色和强度的系统和方法，其使用C参数来构建光谱功率分布的模型，以在制造物件中、在设计使用该物件的流程和产品中、以及在描述/定义该物件中改善测量波长和辐射通量的光学性质的精确性、准确性、可重复性以及有效性。在一实施例中，表征SSL源的方法包括被测SSL源、该SSL源的光发射的光谱功率分布、曲线拟合函数、包含该曲线拟合函数的阶数、节点的数量、波长边界限制、饱和阈值和本底噪声阈值的一组配置数据、用于曲线拟合、节点检测、迭代和程序控制以及输入和输出数据的计算装置；以及一组C参数、噪声参数和置信值。提供了量化包括LEDs、HBLEDs（高亮度LEDs）和其他固态光源（SSLs）的系统和方法，其使用C参数来构建光谱功能分布（SPD）的模型，以在制造物件中、在设计使用该物件的流程和产品中、以及在描述/定义该物件中改善测量波长和辐射通量的光学性质的精确性、准确性、可重复性以及有效性。在一实施例中，表征固态光（SSL）源的方法包括被测SSL源（被测装置）、该SSL源的光发射的光谱功率分布（SPD）、曲线拟合函数、包含该曲线拟合函数的阶数、节点的数量、波长边界限制、饱和阈值和本底噪声阈值的一组配置数据，用于曲线拟合、节点检测、迭代和程序控制以及输入和输出数据的计算装置；以及一组C参数、噪声参数，和置信值。

公开(公告)号：CN102749532A

公开(公告)日：2012-10-24

申请号：CN201210117343.7

申请日：2012-04-20

申请人： TDK株式会社

发明人： 岛泽幸司 ,  细井亮 ,  伊藤靖浩 ,  金子正明 ,  本田隆 ,  藤井隆司 ,  保坂浩治

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R19/00

CPC分类号： G11B5/455 ,  G01R31/2635 ,  G01R31/2642 ,  G11B2005/0021 ,  H01S5/0021 ,  H01S5/0042

摘要： 本发明的老化试验方法构成为将多个光源元件和用于对来自多个光源元件的每一个的光输出进行监测的多个光检测器装入夹具台，在至少将多个光源元件和多个光检测器浸渍在绝缘性的液体中的状态下对多个光源元件进行通电来进行，因此能够在短时间保持稳定的温度，能够维持相对于通常的负载条件不乖离的温度，不对元件造成损伤来进行光源单元芯片的合格品和不合格品的分选试验。

公开(公告)号：CN102650682A

公开(公告)日：2012-08-29

申请号：CN201110044480.8

申请日：2011-02-24

申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

发明人： 曹翔 ,  周海清

IPC分类号： G01R31/44 ,  G01R31/02 ,  G01J1/02 ,  G01J3/02

CPC分类号： G01R31/2635

摘要： 一种LED探头装置，包括一传感器电路板及一主体，所述传感器电路板包括一光传感器、一电路板体及一连接器，所述主体包括一用于容置待测LED的通孔及一容置所述传感器电路板的收容空间，所述光传感器紧挨于所述通孔，所述主体由隔光材料制成。上述LED探头装置将LED传感器和待测的LED组件与周围环境隔离开来，有效地提高了LED检测的准确率和测试精度。

公开(公告)号：CN101384880B

公开(公告)日：2012-05-09

申请号：CN200780005282.2

申请日：2007-02-13

申请人： 菲尼萨公司

发明人： 亭·石 ,  丹尼尔·崔恩 ,  帕维尔·普洛斯卡鲁

IPC分类号： G01B11/26

CPC分类号： G01R31/2642 ,  G01R31/2635 ,  H01S5/0014 ,  H01S5/02236 ,  H01S5/02415 ,  H01S5/02423

摘要： 本发明公开了一种用于检测被安装在辅助座上的激光硬模的温度受控的系统。该检测系统包括具有受电机驱动的平移平台的基座。平移平台包括具有被安装在基部上的两级温度控制系统的第一检测位置。温度控制系统包括热电冷却器和用于在循环块中循环冷却/加热流体的流体系统。安装部也被包括在第一检测位置上，其中辅助座被定位在该安装部上。安装部的温度被该温度控制系统控制。当第一检测位置与探针板对准时，具有臂和连接到该臂的电接触部的探针板向辅助座提供电源。具有可与第一检测位置对准的透镜组件的对准器接收由激光器产生的光信号。

公开(公告)号：CN102347404A

公开(公告)日：2012-02-08

申请号：CN201110214274.7

申请日：2011-07-22

申请人： 日东电工株式会社

发明人： 佐藤慧 ,  伊藤久贵 ,  大薮恭也

IPC分类号： H01L33/00 ,  H01L33/48 ,  H01L33/62 ,  G01R31/26

CPC分类号： G01R31/2635 ,  H01L25/0753 ,  H01L33/0095 ,  H01L2224/45144 ,  H01L2224/48091 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2933/005 ,  H01L2924/00 ,  H01L2924/00014

摘要： 本发明涉及一种发光装置的检查方法及发光装置的检查之后的处理方法。该方法包括通过将电流施加于多个发光元件并判断每个发光元件通过测试或未通过测试来对(A)包括具有在其上安装并且封装的多个发光元件的引线框架的发光装置或(B)通过树脂包封并封装发光装置(A)获得的发光装置进行发光测试，其中，发光装置中的多个发光元件的布置被如下(α)地设置：(α)在具有包括多行和多列以及由此形成的多个交点的格子形式的引线框架中，多个发光元件被布置在每行的相邻交点之间，每行中的相邻的发光元件彼此连接，使得其正电极端子或负电极端子彼此面对，以及引线框架中的正侧电源通道或负侧电源通道用作某一列以及与其相邻的列之间的公共通道。

公开(公告)号：CN102012488A

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：CN201010275303.6

申请日：2010-09-06

申请人： NXP股份有限公司

发明人： 帕斯卡尔·贝思肯 ,  菲特·恩古耶恩霍安 ,  拉杜·苏尔代亚努

IPC分类号： G01R31/44

CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/2642 ,  H05B33/0818 ,  H05B33/0851

摘要： 本发明提供了一种确定LED的老化特性的方法，包括向LED施加电流应力脉冲。监测LED以确定由电流应力脉冲引起的发热何时已经消散至期望水平。然后在施加下一应力脉冲之前测量LED的工作特性。该方法以可再现的方式加速老化效应，从而能够极大地减小可靠性测试所需要的时间。

公开(公告)号：CN101424722B

公开(公告)日：2011-01-05

申请号：CN200710202343.6

申请日：2007-10-31

申请人： 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 ,  鸿海精密工业股份有限公司

发明人： 刘志杰 ,  陈维沅

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/27 ,  G06F11/22

CPC分类号： G01R31/2635 ,  G01R31/27

摘要： 本发明提供一种主板发光二极管测试方法，包括如下步骤：预先为待测主板上的每个LED编号；随机选择两个LED编号，将其对应的LED的工作状态分别设置为恒亮和恒灭，并将待测主板上的其它LED的工作状态设为闪烁；控制待测主板上的LED工作；根据LED的实际工作状态，输入一个恒亮LED的编号和一个恒灭LED的编号；将所输入的两个编号与所选择的两个LED编号进行比较，确定其是否相同；及若比较结果是编号分别相同，则再次随机选择两个编号进行测试。另外，本发明还提供一种主板发光二极管测试系统。利用本发明，可减少主板LED测试结果失真的情况出现。