波长差异的闪烁减少
    62.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103460223B

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201280017594.6

    申请日:2012-02-10

    IPC分类号: G06K9/40 G06K9/64

    摘要: 多个系统,包括用于获取和/或校正特别是由于大气失真和/或其他失真的图像的装置和方法。这些校正可以包括:采集对应同一场景在不同波长范围的图像的两组或多于两组的图像数据,并且利用波长与期望的失真之间的相关性来区分由于失真引起的视在图像运动与由于对象或场景移动引起的视在图像运动;以及其他操作。这些系统在任何适当的成像环境中都是有用的,这些成像环境包括导航、定位、搜索和救援、执法、商业摄像机和/或监控等等。

    滤光轮分光计
    66.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102216744B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN200980145929.0

    申请日:2009-11-02

    发明人: J·T·拉塞尔

    IPC分类号: G01J3/36 G01J3/02

    摘要: 公开了一种滤光轮以及包括滤光轮的分光计。滤光轮具有第一支承结构和第二支承结构,第一多个滤光器安装到所述第一支承结构上,至少一个滤光器设置到所述第二支承结构上。辐射源产生辐射束,以及分束器将辐射束分成第一探测路径和第二探测路径。第一多个滤光器可以选择性地移动到第一探测路径中。第二支承结构上的至少一个滤光器被设置成位于第二探测路径中。分光计包括第一辐射探测器和第二辐射探测器,所述第一辐射探测器探测穿过在第一探测路径中选定滤光器的辐射,所述第二辐射探测器探测穿过第二探测路径中滤光器的辐射。

    晶片级光谱仪
    70.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103703348A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201280036758.X

    申请日:2012-06-12

    IPC分类号: G01J3/02

    摘要: 本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备,所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调,提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解:其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。