一种LED芯片中金属氧化物透明电极及其制造方法

    公开(公告)号:CN118630114A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410782722.0

    申请日:2024-06-18

    发明人: 韩胜男 吴向龙

    IPC分类号: H01L33/42 H01L33/00

    摘要: 本发明涉及一种LED芯片中金属氧化物透明电极及其制造方法,属于半导体加工技术领域。透明电极由下到上依次包括基底层、n型半导体层、p型半导体层和金属氧化物透明电极层,金属氧化物透明电极层上侧设置有第一电极,n型半导体层上侧设置有第二电极。本发明的金属氧化物透明电极具有较高的透光率和导电性能,能够有效促进LED芯片内部电荷的注入和扩散,从而提高光电转换效率,LED灯具所发出的光线更明亮、均匀,色彩更饱满,可满足不同场景下的照明需求。

    一种利用电化学刻蚀快速剥离GaN厚膜方法

    公开(公告)号:CN118553684A

    公开(公告)日:2024-08-27

    申请号:CN202410666882.9

    申请日:2024-05-28

    IPC分类号: H01L21/78 H01L21/3063

    摘要: 本发明涉及一种利用电化学刻蚀快速剥离GaN厚膜方法,包括步骤如下:(1)形成沟道层;(2)生长得到GaN外延基片;(3)利用电化学刻蚀快速剥离GaN厚膜。本发明提供了一种利用电化学刻蚀快速剥离GaN厚膜方法,通过刻蚀通道,在GaN外延基片的中部形成沟道层,有效解决了现有电化学刻蚀装置进行刻蚀牺牲层时,牺牲层内部反应气体阻塞等问题。并且可以加速衬底和GaN厚膜的分离过程,仅仅通过一步电化学刻蚀就实现大尺寸衬底与GaN厚膜的的快速剥离,不仅提高了剥离速率,更提高了剥离成品率。

    一种有效改善LED芯片切割表面污染的方法

    公开(公告)号:CN118486767A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410680115.3

    申请日:2024-05-29

    发明人: 郑军 邢建国 周虹

    IPC分类号: H01L33/00 H01L21/683

    摘要: 本发明涉及一种有效改善LED芯片切割表面污染的方法,属于LED芯片切割技术领域。步骤包括贴双面粘性胶带、芯片绑定、贴膜、烘烤、切割、二流体清洗、扩膜、芯片解绑定和外观检验,本发明通过对芯片正面保护,避免切割过程中,芯片表面与切割碎屑的直接接触,有效改善残留碎屑污染的问题,切割后的芯片表面外观洁净,有效降低了污染的发生,提升芯片外观洁净度的同时提高了芯片后续焊线的可靠性,并同时可以切割作业2片,大幅提高切割效率。

    一种Micro LED的ICP刻蚀侧壁缺陷修复方法

    公开(公告)号:CN118053944A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202211435605.4

    申请日:2022-11-16

    发明人: 谭立龙 彭璐

    摘要: 本发明涉及一种Micro LED的ICP刻蚀侧壁缺陷修复方法,包括:(1)对所述Micro LED进行湿法腐蚀工艺;(2)对所述湿法腐蚀后的所述Micro LED进行热退火处理;(3)对热退火处理后的所述Micro LED进行钝化处理。本发明选择特有的刻蚀掩膜材料、优化独有的ICP刻蚀工艺参数、开创独有的湿法腐蚀、热退火处理工艺以及侧壁钝化技术,基本改善了小尺寸Micro LED微缩化中的“边缘效率尺寸效应”的问题,大幅提升了其Micro LED的外量子效率EQE。

    一种具有高电流扩展能力的LED芯片结构及其制备方法

    公开(公告)号:CN117637963A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311608919.4

    申请日:2023-11-29

    发明人: 马海亚

    摘要: 本发明公开一种具有高电流扩展能力的LED芯片结构及其制备方法。所述LED芯片结构的AlGaInP外延层上具有凹槽;AgNWs将该凹槽填充后覆盖所述外延层上表面,从而形成AgNWs层,所述AgNWs层的上表面上覆盖有FTO层。本发明的所述具有高电流扩展能力的LED芯片结构首先在AlGaInP外延层上设置凹槽,然后形成FTO/AgNWs透明导电层来对电流进行扩展,不仅避免了电流在电极下方的聚集,而且克服了FTO存在的方阻偏大,AgNWs存在的抗氧化性较差的问题。

    一种改善研磨后晶片衬底与金属粘附性的方法

    公开(公告)号:CN117457808A

    公开(公告)日:2024-01-26

    申请号:CN202210842600.7

    申请日:2022-07-18

    IPC分类号: H01L33/00 H01L21/02

    摘要: 本发明公开了一种改善研磨后晶片衬底与金属粘附性的方法,涉及半导体器件加工技术领域,具体为一种改善研磨后晶片衬底与金属粘附性的方法,包括以下操作步骤:步骤(1):将晶片贴在研磨盘上,用研磨设备对衬底面进行研磨减薄;步骤(2):将步骤(1)中减薄后的晶片放在贴膜机上加热,衬底背面朝下,将芯片贴在蓝膜上;步骤(3):将步骤(2)处理后的晶片放进高压清洗机中,高压清洗机进行清洗。该改善研磨后晶片衬底与金属粘附性的方法,能够有效去除研磨后的表面残渣及研磨痕迹的残渣,同时对衬底表面没有任何损害且降低去除衬底表面残渣时的裂片率,增加衬底与蒸镀金属的粘附性,该方法操作简单,效率高。

    一种切割砷化镓基LED晶片的方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116960059A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310542417.X

    申请日:2023-05-15

    摘要: 本发明公开一种切割砷化镓基LED晶片的方法,包括步骤:(1)对晶片N面电极贴膜。然后对得到的晶片进行加热烘烤。(2)利用机械切割工具对该晶片的N面电极隔着膜层进行间隔全切,切割方向为CH1晶面。完成后继续沿着CH2晶面方向进行全部全切。完成后再次沿着所述CH1晶面方向进行全部全切。(3)将完成步骤(2)的晶片翻转使其P面电极朝上,贴膜的N面电极朝下,然后对P面电极进行扩膜,使所述晶片分割成为一个个独立的管芯,即可。本发明先在膜上进行半切,并在全切过程中不使用激光划片和裂片机,通过刀轮多通道切割更好的释放应力,全切避免切割过程中产生的P崩、N崩、裂纹等外观异常,能够很好的提升外观良率。