铁电存储电路及其制造方法

    公开(公告)号:CN100342453C

    公开(公告)日:2007-10-10

    申请号:CN01822208.0

    申请日:2001-11-27

    摘要: 本发明提供了一种铁电存储电路,包括铁电聚合物薄膜形式的铁电存储单元以及在其相对表面分别接触所述铁电存储单元的第一和第二电极,由此所述单元的极化状态可以通过向所述电极施加电压来设置、转换以及检测,其特征在于所述电极中至少一个包括:至少一个接触层,所述至少一个接触层包含与所述存储单元接触的导电聚合物;以及与所述导电聚合物接触的金属薄膜的第二层,所述第二层是可选的,由此,所述电极中至少一个或者仅包括导电聚合物接触层或者包括导电聚合物接触层和金属薄膜层的组合。本发明还提供了相对应的铁电存储电路的制造方法。本发明可以改善采用铁电聚合物薄膜作为存储材料的铁电存储电路中的极化和转换特性。

    电通路连接和关联的接触部件以及它们的制造方法

    公开(公告)号:CN101023526A

    公开(公告)日:2007-08-22

    申请号:CN200580031326.X

    申请日:2005-07-18

    CPC分类号: H01L51/0021

    摘要: 在有机电子电路,具体地说是存储电路中,提供一种电通路连接和关联的接触部件,与包含各种有机化合物的活性有机介电材料层对接。通路连接是提供在延伸过活性介电材料的通路开口中,并与其两侧的第一和第二电接触部件连接。第二接触部件包含直接沉积在活性介电层上的第一层化学惰性和不反应导电材料、以及作为第一层之上的第二层并在向下至第一接触部件的通路开口中提供的导电材料,创建穿过活性介电层的通路连接并连接第一和第二接触部件。在制造这种电通路连接和此类关联的接触部件的方法中,将第二接触部件中的第一层沉积在活性介电层上。第一层由化学惰性和不反应导电材料组成。通路开口形成为穿过第二接触部件的活性介电层,第二接触部件由沉积在第一层之上和通路开口中的导电材料组成,以建立通过它们的期望通路连接。

    减少了位线与字线短路效应的交叉点铁电存储器

    公开(公告)号:CN101015023A

    公开(公告)日:2007-08-08

    申请号:CN200580029279.5

    申请日:2005-07-01

    发明人: R·H·沃马克

    IPC分类号: G11C29/04 G11C11/22

    摘要: 本发明公开了一种存储器,其由夹置于多个字导体和多个位线导体之间的电介质层构成。该电介质层包括铁电材料层的电介质层,并具有第一和第二表面。字导体位于该第一表面上。各个字导体连接到相应的字线驱动电路。位线导体位于该第二表面上。各个位线导体通过一个或多个断开开关连接到相应的位线驱动电路和相应的读出放大器。如果连接到断开开关的位线导体与字导体之一短路,则该断开开关设定为断开状态。