金属反射镜的三轴联动加工方法

    公开(公告)号:CN108594756A

    公开(公告)日:2018-09-28

    申请号:CN201711460886.8

    申请日:2017-12-28

    CPC classification number: G05B19/19 B23B1/00 G05B2219/34134

    Abstract: 本发明属于超精密光学加工技术领域,具体涉及金属反射镜的三轴联动加工方法。所述加工方法包括以下步骤:S01、根据金属反射镜的非球面方程计算出金属反射镜的面形加工水平坐标;S02、定义刀具做轴向运动方向为B向,根据刀具在指定旋转角度内与金属反射镜镜面的距离关系,将面形加工水平坐标转换为三轴加工坐标;S03、根据已经上盘的金属反射镜的最佳拟合半径和刀具尺寸设定加工坐标系原点及随动变量参数值,将包含所述三轴加工坐标的加工程序输入到单点金刚石车床控制系统,开始加工。该方法能够对大口径、大弦高金属反射镜实现有效加工,不受单点金刚石车床导轨行程及可旋转工作台台面回转容积等限制,提高加工效率并降低加工成本。

    透射式红外平行光管准直物镜

    公开(公告)号:CN107238938A

    公开(公告)日:2017-10-10

    申请号:CN201710284831.X

    申请日:2017-04-27

    CPC classification number: G02B27/30

    Abstract: 本发明公开了透射式红外平行光管准直物镜,其特征在于,包括:照明系统、分划板、匀光板及透镜组,所述分划板与所述匀光板设置于所述照明系统的照射光源前部,所述透镜组设置于所述照射光源的设定位置上。针对红外成像系统调试和测试的需要,设计了一种透射式红外平行光管。红外平行光管主要由红外准直物镜、靶标、红外光源等组成。准直物镜采用柯克3片式结构,光学材料分别为硅‑锗‑硅,且为像方远心光路。利用通用光学设计软件CODE V进行反复优化设计,并对成像质量进行了分析和评价,结果表明符合技术指标要求。

    一种长波红外连续变焦在线式快速补偿装调装置及方法

    公开(公告)号:CN106773104A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611218418.5

    申请日:2016-12-26

    CPC classification number: G02B27/62

    Abstract: 本发明公开了一种长波红外连续变焦在线式快速补偿装调装置及方法。所述补充装置包括反射式红外平行光管(101)、反射镜(102)、黑体(103)、靶标(104)、长波红外连续变焦镜头(105)、调整装置(106)、探测器(107)、控制电路(108)和显示器(109),其中,所述长波红外连续变焦镜头(105)、调整装置(106)和非制冷红外探测器(107)组成一个相对独立的子系统。本发明解决了红外连续变焦镜头变焦过程出现离焦现象的问题,提高了高精度连续变焦镜头的装调效率,降低了装调成本,避免装校过程重复装拆带来的镜片损伤的风险。

    一种使用中心偏测量仪装调反射镜的方法

    公开(公告)号:CN104317033B

    公开(公告)日:2017-01-11

    申请号:CN201410591098.2

    申请日:2014-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种使用中心偏测量仪装调反射镜的方法,装调机构包括反射镜位置调节块定座(5)、内六角螺钉(6)、中心偏测量仪(7)和气浮旋转台(7a),主要步骤为:反射镜(2)点胶固定在反射镜位置调节块(1)中;反射镜位置调节块(1)与反射镜座(3)由内六角螺钉(6)来进行相对位置的调节和固定;平晶(4)安装在反射镜座(3)上;反射镜座(3)固定在中心偏测量仪(7)上。本方法主要解决了高精度折反式光学镜头组装调中,可对反射镜的安装以及各透镜的实际光学中心位置进行实时监控和调节的问题,提高了高精度折反式镜头的装调效率,降低了装调成本并保证了镜头的成像质量。(1)、反射镜(2)、反射镜座(3)、平晶(4)、平晶固

    一种晶体位错腐蚀检测方法

    公开(公告)号:CN103698339A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201310737527.8

    申请日:2013-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种晶体位错腐蚀检测方法,属于缺陷腐蚀检测技术领域,主要技术方案包括以下步骤:将样品待测面处理到预定的表面光洁度;对样品的观测点进行确定并标识;对样品除观测点以外的表面进行涂覆;将涂覆好的样品进行抛光;将抛光好的样品进行清洗;对样品除观测点以外的表面补充涂覆;将涂覆好的样品进行腐蚀;将腐蚀好的样品进行清洗;对样品观测点进行位错测量,并计算出样品的位错密度。采用本方法对晶体进行位错检测,实现了位错测试中温度的有效控制,腐蚀效果好,同时腐蚀液使用量和晶体的腐蚀量大大降低。

    直接测量晶向偏离角的晶体定向仪及测量方法

    公开(公告)号:CN103257150A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201210317112.0

    申请日:2012-08-31

    Abstract: 一种直接测量晶向偏离角的晶体定向仪,其特征在于在载物台一侧连接一个X射线发生器,另一侧连接一个X射线探测器,在载物台上有一个水平旋转台,水平旋转台可使待测晶体平行于光线传播面旋转,在水平旋转台的中心固定有一个垂直旋转台,垂直旋转台可以使待测晶体在垂直于光线传播面的平面内旋转,利用该晶体定向仪,能直接找到加工面和晶面的相交线,无需通过数据计算就能通过载物台的角度测量仪直接读取晶向偏离角β。本发明克服了现有X射线晶体定向仪操作方法复杂,测量过程需多次旋转、拆卸及固定被测晶体,测量效率低,容易引起累计误差和X射线泄露的缺陷。

    直拉锗单晶直径测量控制系统

    公开(公告)号:CN102912429B

    公开(公告)日:2016-08-17

    申请号:CN201210407255.0

    申请日:2012-10-23

    Abstract: 直拉锗单晶直径测量控制系统,其特征在于:系统中有摄像机,图像处理装置和自动控制单元,摄像机采集锗单晶等径生长的图像,图像处理装置识别固液交接面光圈位置和计算固液交接面光圈的曲率半径,使自动控制单元实现锗单晶的等径生长。本发明的有益效果是:图像处理卡只对采集图像的光圈部分进行分析,减少数据传输量,降低系统对硬件的性能要求;无需椭圆到圆的复杂映射,只需采集指定点的曲率半径即可根据曲率半径的变化规律进行等径控制;摄像头可将采集的锗单晶生长图像集中传输到一起进行图像处理和分析,便于生产人员实时监控多台设备,降低锗单晶生长的劳动强度;能够最大限度利用现有的设备装置,避免电气控制系统的重复设计与投资。

    一种晶体位错腐蚀检测方法

    公开(公告)号:CN103698339B

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201310737527.8

    申请日:2013-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种晶体位错腐蚀检测方法,属于缺陷腐蚀检测技术领域,主要技术方案包括以下步骤:将样品待测面处理到预定的表面光洁度;对样品的观测点进行确定并标识;对样品除观测点以外的表面进行涂覆;将涂覆好的样品进行抛光;将抛光好的样品进行清洗;对样品除观测点以外的表面补充涂覆;将涂覆好的样品进行腐蚀;将腐蚀好的样品进行清洗;对样品观测点进行位错测量,并计算出样品的位错密度。采用本方法对晶体进行位错检测,实现了位错测试中温度的有效控制,腐蚀效果好,同时腐蚀液使用量和晶体的腐蚀量大大降低。

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