易碎品保护装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103953841B

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201410177646.7

    申请日:2014-04-29

    IPC分类号: F16P7/00 F16F15/08

    摘要: 本发明涉及易碎品防护技术领域,公开了一种易碎品保护装置,易碎品的易碎面上设有至少一个安装孔,保护装置安装在安装孔内,保护装置包括加速度或速度检测装置、驱动装置和缓冲体,加速度或速度检测装置用于检测易碎品的加速度或速度,当易碎品的加速度或速度大于设定值时,驱动装置驱动缓冲体从安装孔内弹出,安装孔内设有限位机构,用于限制缓冲体弹出的位置。本发明在易碎品跌落的过程中,缓冲体可从易碎品的易碎面安装孔内伸出,防止了易碎品的易碎面直接与着落点接触,进而防止易碎品在失控环境下与着落点发生撞击而破碎,本发明结构简单,操作方便,且反应敏捷,设备反应速度快,在失控环境下可及时对易碎品进行保护。

    一种射线探测器及其制作方法

    公开(公告)号:CN103165635B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201310077728.X

    申请日:2013-03-12

    IPC分类号: H01L27/146

    CPC分类号: H01L27/14658

    摘要: 本发明公开了一种射线探测器及其制作方法。在基板上依次形成栅极层和绝缘层,并在形成有上述绝缘层的基板上形成光电二极管和源漏极层;令该源漏极层的漏极与上述光电二极管相连接,并在上述源漏极层上形成有源层,令该有源层与所述绝缘层相接触;在上述有源层上以及上述源漏极层上形成第一钝化层;在上述光电二极管上,源漏极层上,以及第一钝化层上形成导电薄膜层,并在导电薄膜层上制作第二钝化层。采用本发明技术方案相比现有技术减少了掩膜次数,有效缩短了生产周期,提高了生产效率,降低了制作成本,并且提高射线探测器的灵敏度,减小了射线探测器的功耗。

    一种阵列基板及其制作方法、X射线平板探测器

    公开(公告)号:CN103137641B

    公开(公告)日:2015-10-21

    申请号:CN201310031381.5

    申请日:2013-01-25

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明公开了一种阵列基板及其制作方法、X射线平板探测器,涉及光电技术领域,为能够增强薄膜晶体管的稳定性而发明。所述阵列基板包括:基板;形成于所述基板上的栅线层,所述栅线层包括栅极以及与所述栅极连接的栅线;形成于所述栅线层上方的栅绝缘层;形成于所述绝缘层上方的有源层;形成于所述有源层上方的数据线层,所述数据线层包括源极、漏极以及与所述源极连接的数据线,所述数据线与所述栅线交叉,其中,所述有源层包括导体层和半导体层,所述导体层形成于所述栅绝缘层的上方,所述半导体层包裹所述导体层。本发明主要适用在X射线平板探测器中。

    一种阵列基板及其制作方法、X射线平板探测器

    公开(公告)号:CN103137641A

    公开(公告)日:2013-06-05

    申请号:CN201310031381.5

    申请日:2013-01-25

    IPC分类号: H01L27/146

    摘要: 本发明公开了一种阵列基板及其制作方法、X射线平板探测器,涉及光电技术领域,为能够增强薄膜晶体管的稳定性而发明。所述阵列基板包括:基板;形成于所述基板上的栅线层,所述栅线层包括栅极以及与所述栅极连接的栅线;形成于所述栅线层上方的栅绝缘层;形成于所述绝缘层上方的有源层;形成于所述有源层上方的数据线层,所述数据线层包括源极、漏极以及与所述源极连接的数据线,所述数据线与所述栅线交叉,其中,所述有源层包括导体层和半导体层,所述导体层形成于所述栅绝缘层的上方,所述半导体层包裹所述导体层。本发明主要适用在X射线平板探测器中。