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公开(公告)号:CN104596420B
公开(公告)日:2017-06-16
申请号:CN201510037500.7
申请日:2015-01-26
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基准立方镜中心位置的精测方法,利用激光跟踪仪测量系统实现对立方镜中心位置的测量,该方法在飞船二期型号中得到了充分的验证。具体方法是:通过激光跟踪仪及标准配置的0.5″的小靶镜,对基准立方镜的三个正交面进行点位测量,利用最小二乘拟合计算每个面的平面,再通过三个正交面平移拟合计算成三个坐标系,坐标原点即为所要的基准立方镜中心位置。本发明完全取代了用经纬仪测量基准立方镜中心位置的方法,满足在10m范围内测量基准立方镜中心位置精度在0.07mm的精度,测量精度受仪器摆放的位置的影响小,测量精度稳定,精度高,速度快,大大提高了测量效率。
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公开(公告)号:CN102541109B
公开(公告)日:2014-08-13
申请号:CN201110417167.4
申请日:2011-12-14
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种卫星星表温控多层的制造方法,包括以下步骤:绘制二维温控多层的图案、将该图案传送给数控裁剪机床、使用多层材料按照传送图案以1∶1比例进行裁剪、再进行包面膜和缝制以获得上述多层成品,其中,绘制二维温控多层的图案步骤包括两种方式,即基于卫星星表面待包覆部位的三维模型的多层二维展开步骤或基于卫星星表面待包覆部位的二维图纸进行组合绘制的步骤。与现有技术相比,本发明的方法,通过温控多层图纸的电子化设计部分取代实物取样,使实物取样时间缩短80%以上;同时,通过温控多层的自动化制作流程替代了纯手工劳动,多层制作及安装总效率提高50%以上。
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公开(公告)号:CN103605857A
公开(公告)日:2014-02-26
申请号:CN201310616014.1
申请日:2013-11-27
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种面向航天器总装的三维结构化工艺设计系统及三维结构化工艺设计方法。该三维结构化工艺设计系统包括:工艺规划管理模块,用于规划工艺分册和工艺路线,建立工艺文件结构树;与工艺数字样机关联管理模块,用于关联所述工艺文件结构树与工艺数字样机提供的产品结构树;工艺编制模块,用于分配物料、工装、工具及辅助资源,编写工艺步骤,并生成工序路线图;工艺受控与发布模块,用于发起工艺审批流程,并向现场制造执行系统发布工艺文件。本发明的面向航天器总装的三维结构化工艺设计系统及三维结构化工艺设计方法,以工艺数字样机为唯一数据源,实现了工艺文件结构树与产品结构树的紧密关联,以典型工艺语句为模板提高工艺编制效率。
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公开(公告)号:CN104374359A
公开(公告)日:2015-02-25
申请号:CN201410643977.5
申请日:2014-11-07
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B21/22
CPC classification number: G01B21/22
Abstract: 本发明公开一种基于编码器反馈的吊索倾角测量装置,包括外壳、摆杆一、摆杆二、编码器一、编码器二,外壳为长方体结构,具有安装平面和四个侧面,侧面上开设有与吊索平行的纵长开口,纵长开口中设置有横向加强肋条,加强肋条上设置有摆杆轴孔,相对侧面上的摆杆轴孔分别形成两个轴线,与外壳顶部的安装平面平行且互相垂直不交叉,摆杆一和摆杆二的顶部设置过索孔,两者“十字相交”于过索孔,且两摆杆的门字型分别呈倒立结构通过转轴安装在摆杆轴孔中,以供吊索穿过,两编码器的外壳对应设置在横向加强肋条的外部,其转轴分别与两摆杆的转轴安装固定,两摆杆摆动时,两编码器分别与转轴同步转动,由两编码器的转角,计算出吊索在水平两个方向的倾角。
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公开(公告)号:CN103605869A
公开(公告)日:2014-02-26
申请号:CN201310636578.1
申请日:2013-11-27
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Inventor: 万毕乐 , 贺文兴 , 张彬 , 马强 , 李鹏 , 赵璐 , 潘尚洁 , 李志明 , 李曼丽 , 魏跃良 , 黄垒 , 徐珍 , 左计勇 , 邢帅 , 袁坤 , 杜瑞兆 , 樊友高
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种面向航天器总装的三维实做数字样机系统及三维实做数字样机构建方法。该三维实做数字样机系统包括接口模块,用于获取现场制造执行系统的执行记录;执行记录管理模块,用于根据现场制造执行系统的执行记录,解析执行记录的类型,并根据不同类型的执行记录对应的三维结构化工艺文件和三维工艺数字样机,生成实做工艺树及其关联工艺、实做数字样机树及其关联工艺数字样机,以生成实做数字样机。本发明的面向航天器总装的三维实做数字样机系统及三维实做数字样机构建方法,实现设计数据、工艺数据和生产数据的有机统一,形成结构化、可视化的整星总装电子数据包。
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公开(公告)号:CN106607934A
公开(公告)日:2017-05-03
申请号:CN201610343742.3
申请日:2016-05-23
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种工业机器人紧固件安装末端执行器,包括套装在底部工业机器人上的力觉传感器、安装基板、滑台气缸、电动拧紧枪、拧紧枪连接板,力觉传感器顶部支撑有安装基板,安装基板上设置有滑台气缸,滑台气缸一侧竖立设置拧紧枪连接板,滑台气缸上方的电动拧紧枪穿过拧紧枪连接板向前延伸,电动拧紧枪前端固定连接有拧紧头,前部竖立出钉嘴连接板,拧紧头前端穿过出钉嘴连接板且其前端具有出钉嘴,在滑台气缸的推动下带动电动拧紧枪向前压紧紧固件的末端,并通过电动拧紧枪转动带动拧紧头旋转,实现对紧固件的旋紧。本发明的优点在于能够将将紧固件推入安装孔的同时做旋转动作,并能自动控制拧紧力矩,无需人工干预,自动完成紧固件安装。
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公开(公告)号:CN103605857B
公开(公告)日:2017-04-05
申请号:CN201310616014.1
申请日:2013-11-27
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种面向航天器总装的三维结构化工艺设计系统及三维结构化工艺设计方法。该三维结构化工艺设计系统包括:工艺规划管理模块,用于规划工艺分册和工艺路线,建立工艺文件结构树;与工艺数字样机关联管理模块,用于关联所述工艺文件结构树与工艺数字样机提供的产品结构树;工艺编制模块,用于分配物料、工装、工具及辅助资源,编写工艺步骤,并生成工序路线图;工艺受控与发布模块,用于发起工艺审批流程,并向现场制造执行系统发布工艺文件。本发明的面向航天器总装的三维结构化工艺设计系统及三维结构化工艺设计方法,以工艺数字样机为唯一数据源,实现了工艺文件结构树与产品结构树的紧密关联,以典型工艺语句为模板提高工艺编制效率。
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公开(公告)号:CN103471564B
公开(公告)日:2015-05-13
申请号:CN201310138473.3
申请日:2013-04-19
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种多系统测量基准集成转换标准器,包括碳纤维基板、标准器基板托架及下部通用支架。其中,碳纤维基板的上面设计了定位销套和光学基准立方镜;用于定位测量、建立机械结构坐标系及光学基准坐标系。标准器基板托架是碳纤维基板与通用支架的中间连接纽带,标准器基板托架的上端部形成一平面以机械固定方式连接碳纤维基板并对其支撑,下端通过机械固定形式与通用支架相连接,标准器基板托架侧面开设弧形滑槽,通过两侧弧形滑槽上设计的定位轴沿滑槽的滑动,使标准器基板托架连同其支撑的碳纤维基板围绕该定位轴旋转来调整标准器使用的位姿。
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公开(公告)号:CN104596420A
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201510037500.7
申请日:2015-01-26
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明公开了一种基准立方镜中心位置的精测方法,利用激光跟踪仪测量系统实现对立方镜中心位置的测量,该方法在飞船二期型号中得到了充分的验证。具体方法是:通过激光跟踪仪及标准配置的0.5″的小靶镜,对基准立方镜的三个正交面进行点位测量,利用最小二乘拟合计算每个面的平面,再通过三个正交面平移拟合计算成三个坐标系,坐标原点即为所要的基准立方镜中心位置。本发明完全取代了用经纬仪测量基准立方镜中心位置的方法,满足在10m范围内测量基准立方镜中心位置精度在0.07mm的精度,测量精度受仪器摆放的位置的影响小,测量精度稳定,精度高,速度快,大大提高了测量效率。
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公开(公告)号:CN104266649A
公开(公告)日:2015-01-07
申请号:CN201410550699.9
申请日:2014-10-16
Applicant: 北京卫星环境工程研究所
IPC: G01C21/18
CPC classification number: G01C21/18
Abstract: 本发明公开了一种基于陀螺经纬仪测量基准立方镜相对大地坐标系姿态角度矩阵的方法,该方法利用陀螺经纬仪和电子经纬仪分别准直测量基准立方镜上任意相邻的两个侧面,测量得到陀螺经纬仪准直方向的方位角、天顶距和电子经纬仪准直方向的天顶距,并通过两个面的垂直关系求解得到电子经纬仪准直方向的方位角,最终得到基准立方镜相对大地坐标系姿态角度矩阵。本发明的测量方法,节省了一台陀螺经纬仪,从而降低了成本,同时也避免了普通经纬仪与陀螺经纬仪之间的互瞄,提高了测量精度和测量效率,克服了复杂工况下互瞄时的光路遮挡。
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