具有多个柱的电子束光刻工艺

    公开(公告)号:CN106019821A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201510784303.1

    申请日:2015-11-16

    Inventor: 王文娟 林世杰

    Abstract: 本发明提供了电子束(e-束)光刻工艺的方法。该方法包括将衬底装载至电子束(e-束)系统,从而使得限定在衬底上的场的第一子集沿着第一方向排列在衬底上。该方法也包括定位多个电子束柱,多个电子束柱具有沿着第一方向排列的电子束柱的第一子集。将电子束柱的第一子集的电子束柱导向至场的第一子集的不同的场。该方法也包括以扫描模式实施第一曝光工艺,从而使得多个电子束柱沿着第一方向扫描衬底。本发明的实施例还涉及具有多个柱的电子束光刻工艺。

    光刻工艺方法及极紫外线光刻工艺方法

    公开(公告)号:CN115047731A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210871348.2

    申请日:2018-07-27

    Abstract: 一种光刻工艺方法,包括:形成一抗蚀剂层于一基板上;执行一第一曝光工艺以将一第一光罩的一第一子区域的一第一图案成像至一次场中的一抗蚀剂层;执行一第二曝光工艺以将第一光罩的一第二子区域的一第二图案成像至次场中的上述抗蚀剂层;以及执行一第三曝光工艺以将一第二光罩的第一子区域的一第三图案成像至次场中的抗蚀剂层。其中,第二图案以及第三图案与第一图案相同;以及第一曝光工艺、第二曝光工艺以及第三曝光工艺共同于次场中的抗蚀剂层上形成第一图案的一潜像。

    栅格化电路布局数据的系统及方法

    公开(公告)号:CN105720052B

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201510535074.X

    申请日:2015-08-27

    Abstract: 本发明提供一种将设计形状转换成像素值的方法。该方法可用于控制对工件执行的直写或其他的光刻工艺。在示例性实施例中,该方法包括计算系统接收设计数据库,该设计数据库指定具有四个以上的顶点的部件。计算系统还接收像素栅格。确定对应于部件的一组矩形,并且计算系统基于该组矩形确定与部件重叠的像素栅格的像素的面积。在一些这样的实施例中,基于与部件重叠的面积确定用于像素的光刻曝光强度,并且提供用于图案化工件的光刻曝光强度。本发明还提供了栅格化电路布局数据的系统及方法。

    多栅格曝光方法
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103246171B

    公开(公告)日:2015-11-18

    申请号:CN201210452518.X

    申请日:2012-11-12

    Abstract: 本发明公开了一种用于制造半导体器件的方法。一种示例性方法包括接收包括格上目标图案的集成电路(IC)布局。所述方法进一步包括接收多栅格结构。所述多栅格结构包括在第一方向上相互偏移一定偏移量的许多曝光栅格段。所述方法进一步包括实施多栅格曝光以将所述目标图案曝光在衬底上,从而在所述衬底上形成电路部件图案。实施多栅格曝光包括:在第二方向上扫描具有多栅格结构的衬底使得在所述第一方向上发生所曝光的目标图案的亚像素位移,以及使用增量时间(Δt)使得在所述第二方向上发生所曝光的目标图案的亚像素位移。本发明还公开了多栅格曝光方法。

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