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公开(公告)号:CN107460451A
公开(公告)日:2017-12-12
申请号:CN201710307714.0
申请日:2017-05-04
申请人: 应用材料公司
CPC分类号: H05B1/0233 , H05B3/24 , C23C16/46 , C23C14/50
摘要: 本发明涉及自居中底座加热器。本发明提供了一种底座,所述底座包括:主体;加热器,嵌入在主体中;支撑凹槽,在主体内形成,具有安置在第一平面中的表面;周边表面,安置在第二平面中,包围支撑凹槽;以及多个定心凸片,定位在支撑凹槽与周边表面之间,每个定心凸片具有安置在第三平面中的表面,第三平面在第一平面和第二平面两者之间。
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公开(公告)号:CN117203749A
公开(公告)日:2023-12-08
申请号:CN202280030924.9
申请日:2022-03-18
申请人: 应用材料公司
IPC分类号: H01L21/67
摘要: 示例性半导体处理系统可包括限定至少一个等离子体出口的输出歧管。系统可包括设置在输出歧管下方的气箱。气箱可包括面向输出歧管的入口侧和与入口侧相对的出口侧。气箱可包括限定中心流体管腔的内壁。内壁可从入口侧到出口侧向外逐渐变细。系统可包括设置在气箱下方的环形间隔件。环形间隔件的内径可大于中心流体管腔的最大内径。系统可包括设置在环形间隔件下方的面板。面板可限定延伸穿过面板厚度的多个孔。
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公开(公告)号:CN114174554A
公开(公告)日:2022-03-11
申请号:CN202080054583.X
申请日:2020-07-23
申请人: 应用材料公司
IPC分类号: C23C16/44 , C23C16/455 , C23C16/458 , C23C16/52 , H01J37/32
摘要: 处理腔室可以包括气体分配构件、基板支撑件、以及泵送衬垫。气体分配构件与基板支撑件可以至少部分定义处理容积。泵送衬垫可以定义经由围绕处理容积周向设置的泵送衬垫的多个孔隙而与处理容积流体连通的内部容积。处理腔室可以进一步包括流量控制机构,流量控制机构可操作以在从气体分配构件进入处理容积的流体分配期间经由泵送衬垫的多个孔隙的子集将流体流从泵送衬垫的内部容积引导进入处理容积。
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公开(公告)号:CN114174554B
公开(公告)日:2024-07-26
申请号:CN202080054583.X
申请日:2020-07-23
申请人: 应用材料公司
IPC分类号: C23C16/44 , C23C16/455 , C23C16/458 , C23C16/52 , H01J37/32
摘要: 处理腔室可以包括气体分配构件、基板支撑件、以及泵送衬垫。气体分配构件与基板支撑件可以至少部分定义处理容积。泵送衬垫可以定义经由围绕处理容积周向设置的泵送衬垫的多个孔隙而与处理容积流体连通的内部容积。处理腔室可以进一步包括流量控制机构,流量控制机构可操作以在从气体分配构件进入处理容积的流体分配期间经由泵送衬垫的多个孔隙的子集将流体流从泵送衬垫的内部容积引导进入处理容积。
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公开(公告)号:CN107460451B
公开(公告)日:2021-07-06
申请号:CN201710307714.0
申请日:2017-05-04
申请人: 应用材料公司
摘要: 本发明涉及自居中底座加热器。本发明提供了一种底座,所述底座包括:主体;加热器,嵌入在主体中;支撑凹槽,在主体内形成,具有安置在第一平面中的表面;周边表面,安置在第二平面中,包围支撑凹槽;以及多个定心凸片,定位在支撑凹槽与周边表面之间,每个定心凸片具有安置在第三平面中的表面,第三平面在第一平面和第二平面两者之间。
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公开(公告)号:CN112714948A
公开(公告)日:2021-04-27
申请号:CN201980060100.4
申请日:2019-08-20
申请人: 应用材料公司
摘要: 本文中讨论了用于工艺腔室的系统和方法,所述系统和方法降低了由于松动的积垢而导致的基板缺陷的严重性和发生。气体分配组件设置在工艺腔室中,并包括面板和第二构件,面板具有穿过面板形成的多个孔。面板耦接至第二构件,第二构件被配置成耦接至面板以减小面板的暴露面积并使在向工艺腔室中释放气体期间用于材料积聚的可用面积最小化。第二构件被进一步配置成改善前驱物到工艺腔室中的辉光。气体分配组件可在工艺腔室操作之前和期间被加热,并且可在工艺腔室操作之间保持加热。
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