成膜装置
    7.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109075038B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN201780012924.5

    申请日:2017-02-27

    IPC分类号: H01L21/205 C23C16/455

    摘要: 提供能够抑制气体的蔓延、能够抑制由沉积物的附着引起的颗粒的发生、能够防止形成的膜发生结晶缺陷的成膜装置。供给部(4)具备:第1隔壁(32);第2隔壁(401),以规定间隔设置于第1隔壁的下部;第3隔壁(402),以规定间隔设置于第2隔壁的下部;第1流路(431),设置在供第1气体导入的第1隔壁与第2隔壁之间;第2流路(432),设置在供第2气体导入的第2隔壁与第3隔壁之间;第1配管(411),从第2隔壁一直到第3隔壁的下方,与第1流路连通;第2配管(421),设置为包围第1配管,从第3隔壁一直到第3隔壁的下方,与第2流路连通;以及凸部,设置在第1配管的外周面(411c)或第2配管的内周面(421b),从第1配管的外周面以及第2配管的内周面的一方朝向另一方突出。