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公开(公告)号：CN1742372A
公开(公告)日：2006-03-01
申请号：CN200380109216.1
申请日：2003-12-12
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 伊戈尔·K·汉德罗斯 , 本杰明·N·埃尔德里奇 , 查尔斯·A·米勒 , A·尼古拉斯·斯珀克 , 加里·W·格鲁比 , 加埃唐·L·马蒂厄
IPC分类号： H01L25/065 , H01L23/538 , H01L23/498 , H01L23/495
CPC分类号： H01L23/13 , H01L23/4951 , H01L23/5386 , H01L23/5387 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/50 , H01L25/0655 , H01L2224/0401 , H01L2224/05554 , H01L2224/06136 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48139 , H01L2224/4824 , H01L2224/49 , H01L2224/73215 , H01L2924/00014 , H01L2924/01004 , H01L2924/01006 , H01L2924/01014 , H01L2924/01015 , H01L2924/0105 , H01L2924/014 , H01L2924/10161 , H01L2924/14 , H01L2924/15192 , H01L2924/181 , H01L2924/19043 , H01L2924/19107 , H01L2924/3011 , H01L2924/3025 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/05599 , H01L2924/00
摘要： 在一集成电路组合件中，在一衬底上装配已知优良电路小片(know－good－die，KGD)。互连元件将附着在所述衬底上的电路小片上的衬垫电连接至所述衬底上的迹线或其它电导体或连接至附着在所述衬底上的另一电路小片上的衬垫。所述衬底可具有一个或多个开口，以暴露所述电路小片的衬垫。所述组合件可包括一个或多个电路小片。
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公开(公告)号：CN100373167C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN02828377.5
申请日：2002-12-23
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 查尔斯·A·米勒
IPC分类号： G01R31/316
CPC分类号： G01R31/2875 , G01R1/06733 , G01R1/07385 , G01R31/2863 , G01R31/2877 , G01R31/2886 , G01R31/2891 , H05K7/20218
摘要： 一种用于测试系统或半导体封装的探针板冷却组合件，其包括一个通过直接冷却法冷却的具有一个或多个电路小片的封装。该已冷却的封装包括具有有源电子部件的一个或多个电路小片以及至少一个冷却剂端口，该冷却剂端口允许冷却剂得以进入高密度的封装内并在一个操作过程中直接冷却该等电路小片的有源电子部件。
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公开(公告)号：CN1682124A
公开(公告)日：2005-10-12
申请号：CN03821536.5
申请日：2003-07-09
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 查尔斯·A·米勒
IPC分类号： G01R31/319 , G06F11/273
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31723 , G01R31/31908 , G01R31/31924
摘要： 一种电子器件测试器通道通过一组隔离电阻器向受试电子器件(DUT)的多个端子发送单一测试信号。该测试器通道利用反馈自动调节测试信号电压，以补偿任一DUT端子处的故障影响，从而防止该等故障实质影响此测试信号电压。
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公开(公告)号：CN1653340A
公开(公告)日：2005-08-10
申请号：CN03810397.4
申请日：2003-05-07
申请人： 佛姆费克托公司
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/316
CPC分类号： G01R1/07314 , G01R3/00
摘要： 一种用于在一集成电路(IC)测试器(52)与待测试IC(56)表面上的输入/输出、电源及接地焊盘(54)之间提供信号路径的探针系统，其包括一探针板总成(50)、一挠性电缆(86)及一组设置用于接触IC上的I/O焊盘(54)的探针(80)。探针板总成(50)包含一或多个刚性衬底层(60，62，64)，其中形成于这些衬底层上或衬底层内的迹线及通路可提供较低带宽信号路径，以将测试器(52)连接至用于接触某些IC焊盘(54)的探针(80)。挠性电缆(86)可提供较高带宽的信号路径，以将测试器(52)连接至用于接触其他IC焊盘(54)的探针(80)。亦可在一带有探针的衬底后方设置一挠性带。
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公开(公告)号：CN100530640C
公开(公告)日：2009-08-19
申请号：CN200380109216.1
申请日：2003-12-12
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 伊戈尔·K·汉德罗斯 , 本杰明·N·埃尔德里奇 , 查尔斯·A·米勒 , A·尼古拉斯·斯珀克 , 加里·W·格鲁比 , 加埃唐·L·马蒂厄
IPC分类号： H01L25/065 , H01L23/538 , H01L23/498 , H01L23/495
CPC分类号： H01L23/13 , H01L23/4951 , H01L23/5386 , H01L23/5387 , H01L24/48 , H01L24/49 , H01L24/50 , H01L25/0655 , H01L2224/0401 , H01L2224/05554 , H01L2224/06136 , H01L2224/16225 , H01L2224/32225 , H01L2224/48091 , H01L2224/48137 , H01L2224/48139 , H01L2224/4824 , H01L2224/49 , H01L2224/73215 , H01L2924/00014 , H01L2924/01004 , H01L2924/01006 , H01L2924/01014 , H01L2924/01015 , H01L2924/0105 , H01L2924/014 , H01L2924/10161 , H01L2924/14 , H01L2924/15192 , H01L2924/181 , H01L2924/19043 , H01L2924/19107 , H01L2924/3011 , H01L2924/3025 , H01L2924/00012 , H01L2224/45099 , H01L2224/05599 , H01L2924/00
摘要： 在一集成电路组合件中，在一衬底上装配已知优良电路小片(know-good-die，KGD)。互连元件将附着在所述衬底上的电路小片上的衬垫电连接至所述衬底上的迹线或其它电导体或连接至附着在所述衬底上的另一电路小片上的衬垫。所述衬底可具有一个或多个开口，以暴露所述电路小片的衬垫。所述组合件可包括一个或多个电路小片。
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公开(公告)号：CN100454216C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN03806458.8
申请日：2003-01-29
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 本杰明·N·埃尔德里奇 , 查尔斯·A·米勒
IPC分类号： G06F1/26 , G01R31/316 , G01R31/319
CPC分类号： G06F1/26 , G01R31/2851 , G01R31/31721 , G01R31/31905 , G01R31/31924
摘要： 一主电源，其通过通道电阻向一受测试集成电路器件(DUT)的功率终端提供电流。IC内的晶体管响应时钟信号边沿而开关，测试期间，在提供给DUT的时钟信号边沿之后，该DUT在功率输入终端对电流的需求暂时性地增加。为了限制功率输入终端处的电压变化(噪声)，一辅助电源向该功率输入终端提供一附加电流脉冲，以满足每个时钟信号周期期间所增加的需求。该电流脉冲幅值是一个关于该时钟周期期间电流需求的预测增长与由一反馈电路控制的用来限制DUT功率输入终端处发生的电压变化的自适应信号幅值的函数。
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公开(公告)号：CN100445762C
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN03821536.5
申请日：2003-07-09
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 查尔斯·A·米勒
IPC分类号： G01R31/319 , G06F11/273
CPC分类号： G01R31/3191 , G01R31/31723 , G01R31/31908 , G01R31/31924
摘要： 一种电子器件测试器通道通过一组隔离电阻器向受试电子器件(DUT)的多个端子发送单一测试信号。该测试器通道利用反馈自动调节测试信号电压，以补偿任一DUT端子处的故障影响，从而防止该等故障实质影响此测试信号电压。
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公开(公告)号：CN101101313A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200710140470.8
申请日：2003-01-29
申请人： 佛姆费克托公司
发明人： 本杰明·N·埃尔德里奇 , 查尔斯·A·米勒
摘要： 一主电源，其通过通道电阻向一受测试集成电路器件(DUT)的功率终端提供电流。IC内的晶体管响应时钟信号边沿而开关，测试期间，在提供给DUT的时钟信号边沿之后，该DUT在功率输入终端对电流的需求暂时性地增加。为了限制功率输入终端处的电压变化(噪声)，一辅助电源向该功率输入终端提供一附加电流脉冲，以满足每个时钟信号周期期间所增加的需求。该电流脉冲幅值是一个关于该时钟周期期间电流需求的预测增长与由一反馈电路控制的用来限制DUT功率输入终端处发生的电压变化的自适应信号幅值的函数。
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公开(公告)号：CN1662819A
公开(公告)日：2005-08-31
申请号：CN03814103.5
申请日：2003-06-16
申请人： 佛姆费克托公司
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/2831 , G01R31/2886 , G01R31/31718 , G11C29/006 , G11C29/56016
摘要： 切割一半导体晶圆以单一化形成于所述晶圆上的集成电路晶粒。一台晶粒拾取机接着在一载体基底上定位并定向所述单一化晶粒，使得形成于每一晶粒表面上的信号、电源和接地垫片相对于载体基底上的标志而驻留在预定位置，晶粒拾取机可光学地识别该等标志。在晶粒被暂时地固持在载体基底上的适当位置时，其经受一系列的测试和其它处理步骤。因为每一晶粒的信号垫片驻留在预定的位置中，所以可通过适当配置的探头接近其，从而在测试期间为测试设备提供到垫片的信号通道。在每一测试后，晶粒拾取机可以用另一个晶粒取代任何没有通过测试的晶粒，藉此改进随后的测试和其它处理资源的效率。
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公开(公告)号：CN100348982C
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN03814103.5
申请日：2003-06-16
申请人： 佛姆费克托公司
CPC分类号： G11C29/56 , G01R31/2831 , G01R31/2886 , G01R31/31718 , G11C29/006 , G11C29/56016
摘要： 切割一半导体晶圆以单一化形成于所述晶圆上的集成电路晶粒。一台晶粒拾取机接着在一载体基底上定位并定向所述单一化晶粒，使得形成于每一晶粒表面上的信号、电源和接地垫片相对于载体基底上的标志而驻留在预定位置，晶粒拾取机可光学地识别该等标志。在晶粒被暂时地固持在载体基底上的适当位置时，其经受一系列的测试和其它处理步骤。因为每一晶粒的信号垫片驻留在预定的位置中，所以可通过适当配置的探头接近其，从而在测试期间为测试设备提供到垫片的信号通道。在每一测试后，晶粒拾取机可以用另一个晶粒取代任何没有通过测试的晶粒，藉此改进随后的测试和其它处理资源的效率。
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