一种单晶薄膜晶圆结构及制备方法

    公开(公告)号:CN118895559A

    公开(公告)日:2024-11-05

    申请号:CN202410955783.2

    申请日:2024-07-17

    发明人: 欧欣 陈阳 黄凯

    IPC分类号: C30B23/08 C30B33/02

    摘要: 本申请公开了一种单晶薄膜晶圆结构及其制备方法,该单晶薄膜晶圆结构包括衬底层和单晶薄膜层,单晶薄膜层位于衬底层的表面上;单晶薄膜层的欧拉角的进动角为0,章动角的为θ±n*180°,旋进角为0,θ的取值范围为‑90°~‑20°,n为正整数;其中,单晶薄膜层对应的单晶晶圆被不同离子在相同条件下进行注入时,弯曲度变化为正值;单晶晶圆的弯曲度变化与单晶晶圆的欧拉角的θ值成反比。本申请实现了单晶晶圆在键合过程中,与衬底层的中间点先接触,提高了键合良率;同时,可通过调整单晶薄膜层的欧拉角,来调整晶圆的弯曲度变化,从而可以改善晶圆形貌。

    一种提升单晶金刚石光学均匀性的方法

    公开(公告)号:CN118880473A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202411368096.7

    申请日:2024-09-29

    IPC分类号: C30B33/02 C30B29/04

    摘要: 本发明属于金刚石光学晶体材料领域,具体涉及一种提升单晶金刚石光学均匀性的方法。该方法具体包含以下步骤:1.通过激光平整化、抛光以及清洗获得表面平整、无多晶点的单晶金刚石;2.将所述晶体置于六面顶压机中,并设置具体工艺参数进行退火;3.退火结束后,采用分段式降温工艺将晶体缓慢降至常温常压;4.降温结束后对晶体进行表面处理。本方法能够有效提升金刚石的质量,降低金刚石的位错密度和应力双折射,并能显著提升金刚石的光学均匀性和光学透过率。使用本方法获得的单晶金刚石,可以满足拉曼激光增益介质的需求。

    一种CVD金刚石片内部应力的消除方法

    公开(公告)号:CN118880472A

    公开(公告)日:2024-11-01

    申请号:CN202410939571.5

    申请日:2024-07-15

    申请人: 郑州大学

    发明人: 房超 杨珣 单崇新

    IPC分类号: C30B33/02 C23C16/56

    摘要: 本发明公开了一种CVD金刚石片内部应力的消除方法,属于金刚石晶体制备技术领域,所述一种CVD金刚石片内部应力的消除方法包括获取至少一片CVD金刚石片,利用包裹件对至少一片CVD金刚石片进行单独包裹,对至少一片CVD金刚石片进行组装,得到组装块,将组装块放置于国产六面顶压机上进行应力消除处理,具有应力一次直接消除、应力消除效果好、时间短、成本低、易操作和应用范围广的优点。

    一种异质结全无机钙钛矿晶体及其制备方法与应用

    公开(公告)号:CN118854454A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202410872703.7

    申请日:2024-07-01

    摘要: 本发明涉及一种异质结全无机钙钛矿晶体及其制备方法与应用,所述制备方法包括:(1)将类钙钛矿材料、碘化铯和二甲胺铅碘盐混合溶解于溶剂中,得到前驱体溶液;(2)将所述前驱体溶液涂覆于基底材料表面,退火,得到异质结全无机钙钛矿晶体,其中,所述类钙钛矿材料为NH4PbClaX3‑a,2.5≤a≤3,X为溴和/或碘。本发明采用类钙钛矿材料NH4PbClaX3‑a,促使全无机钙钛矿晶体异质结的形成,并通过改变该材料的卤素元素的种类,有效控制全无机钙钛矿本身的晶体缺陷,进一步提升全无机钙钛矿太阳能电池的稳定性,同时降低技术壁垒与制造成本,简化制备流程,有利于推动全无机钙钛矿的商业化进程。

    一种实时监控外延片裂纹情况的MOCVD设备

    公开(公告)号:CN118109899B

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410243642.8

    申请日:2024-03-04

    IPC分类号: C30B25/16 C30B33/02 G06F17/10

    摘要: 本发明属于金属有机化学气相沉积技术领域,具体是一种实时监控外延片裂纹情况的MOCVD设备,包括设备主体,还包括设置生长反应室以及退火室,生长反应室内部设置有加热器,退火室内部设置有冷却器,设备主体内部还设置有用于存放产品的成品回收室,而分析单元,分析单元包括采集组件以及反馈调节模块,采集组件包括高清摄像头以及光线传感器,高清摄像头以及光线传感器均用于对外延片裂纹情况进行记录,本发明中,通过高清摄像头以及光线传感器均对外延片裂纹情况进行记录,而控制器可根据外延片裂纹的状态实时调节设备主体的运行参数,当某一个外延片出现裂纹后,及时对运行参数进行纠正,避免批量性的产生不良品,防止造成大量的经济损失。