摘要:
La présente description concerne un convertisseur de tension comprenant des premier et deuxième transistors reliés entre des premier et deuxième noeuds, des premier et deuxième thyristors reliés entre les premier et deuxième noeuds, dans lequel : - dans des premières périodes, le premier transistor et le deuxième thyristor sont passants et le deuxième transistor et le premier thyristor sont bloqués, et - dans des deuxièmes périodes, le premier transistor et le deuxième thyristor sont bloqués et le deuxième transistor et le premier thyristor sont passants, certaines premières périodes étant suivies d'une troisième période dans laquelle les premier, deuxième transistors et le deuxième thyristor sont bloqués et un courant est injecté dans la gâchette du premier thyristor, certaines deuxièmes périodes étant suivies d'une quatrième période dans laquelle les premier, deuxième transistors et le premier thyristor sont bloqués et un courant est injecté dans la gâchette du deuxième thyristor.
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La présente description concerne une interface d'alimentation (414) comprenant : un premier interrupteur (309) reliant une borne d'entrée (301) de l'interface à une borne de sortie (305) de l'interface ; un pont diviseur (311) de tension reliant la borne d'entrée (301) à un nœud de référence (313) configuré pour recevoir un potentiel de référence (GND) ; un comparateur (323) dont une première entrée est connectée à un premier nœud (319) du pont diviseur et dont une deuxième entrée est configurée pour recevoir un potentiel constant (Vth) ; un convertisseur numérique analogique (DAC) ; un deuxième interrupteur (329) reliant une sortie du convertisseur (DAC) à un deuxième nœud (321) du pont diviseur (311) ; et un premier circuit (331) configuré pour commander le deuxième interrupteur (329) et le convertisseur (DAC), dans lequel une commande du premier interrupteur est déterminée par un signal de sortie (comp_sig) du comparateur (323).
摘要:
Disclosed is a composition for ferroelectric thin film formation which is used in the formation of a ferroelectric thin film of one material selected from the group consisting of PLZT, PZT, and PT. The composition for ferroelectric thin film formation is a liquid composition for the formation of a thin film of a mixed composite metal oxide formed of a mixture of a composite metal oxide (A) represented by general formula (1): (Pb x La y )(Zr z Ti (1-z) )O 3 [wherein 0.9
摘要:
L'invention concerne un dispositif (20) de protection contre les surcharges électrostatiques comprenant successivement : un substrat (22) semiconducteur très fortement dopé d'un premier type de conductivité ; une première couche semiconductrice enterrée (24) fortement dopée d'un deuxième type de conductivité ; une première couche (28) semiconductrice faiblement dopée du deuxième type de conductivité ; et une deuxième couche (30) fortement dopée du premier type de conductivité, ce dispositif (20) comprenant en outre, entre la première couche enterrée (24) et la première couche (28), une troisième couche (26) dopée du premier type de conductivité, ayant une épaisseur et une concentration en atomes dopants adaptées à former à la jonction de la première couche (28) et de la troisième couche (26) une diode (12) fonctionnant en inverse en perçage.
摘要:
L'invention concerne un triac (40) à structure verticale comprenant, du côté de la face supérieure d'un substrat (43) en silicium : une métallisation principale (A1) dont une première partie repose sur une première région (47) d'un premier type de conductivité formée dans une couche (45) du deuxième type de conductivité, et dont une deuxième partie repose sur une partie de ladite couche ; une métallisation de gâchette (G) reposant sur une deuxième région (51) du premier type de conductivité formée dans ladite couche (45), au voisinage de la première région (47) ; et au moins un barreau (57) de silicium poreux formé dans ladite couche, une première extrémité (57A) dudit barreau étant en contact avec la métallisation de gâchette, et la deuxième extrémité (57B) dudit barreau étant en contact avec la métallisation principale.
摘要:
Diode Schottky comprenant, entre une face inférieure et une face supérieure : un support de silicium (31) ; une couche de GaN non dopé (5) ; un ou plusieurs motifs formés dans une couche d'AlGaN (7) dont chacun s'étend entre une première métallisation (37) formant un contact ohmique et une deuxième métallisation (40) formant un contact Schottky ; des premiers vias (46) s'étendant des deuxièmes métallisations vers la face supérieure ; et des deuxièmes vias (38) s'étendant des premières métallisations vers la face inférieure.
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L'invention concerne une puce à montage en surface réalisée dans et sur un substrat de silicium ayant une face avant et un flanc, la puce comprenant : au moins une métallisation destinée à être brasée à un dispositif extérieur, cette métallisation comprenant une première portion (30a) recouvrant au moins une partie de la face avant du substrat, et une deuxième portion (30b) recouvrant au moins une partie du flanc du substrat ; et une région en silicium poreux (20), incluse dans le substrat, séparant la deuxième portion (30b) de la métallisation du reste du substrat.